Способ термообработки изделий из лейкосапфира
Иллюстрации
Показать всеРеферат
Изобретение относится к обработке монокристаллов лейкосапфира и изделий из них, может быть использовано на предприятиях Минхимпрома, Минэлектронпрома и позволяет повысить стойкость изделий к Уй-облучению. Термообработку ведут в присутствии графита9нагревая изделия до 1800- 2000°С в атмосфере природного газа при давлении 7-Ю4-2-105 Па„ Затем осуществляют выдержку в течение мениЈ ,012Т-19,6),м, где Ј - толщина радиационно-упрочняемого слоя изделия из лейкосапфира, мм После изотермической выдержки снижают температуру в печи и извлекают из нее изделия„ Основными показателями повышения радиационной стойкости после отжига являются относительное изменение массы отжигаемого кристалла (&т) и интенсивность наведенного поглощения (&Г) после У -облучения кристалла в течение часа светом лампы Отожженные кристаллы имеют &т 0,,0051, ,016-0,030. 1 табл„ 00 с
Ф, 1 ж . /
СОЮЗ СОВЕТСКИХ с0 1иАлис1и4еских <Д 16 д85д А1
ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ
ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) графита, нагревая изделия до 18002000 С в атмосфере природного газа при давлении 7-10 -2 10 Па. Затем осущест вляют выдержку в т ече ние вре" мени Ф =1,4 о /(О, 012Т-19,6), ч, где 1 толщина радиационно-упрочняемого слоя изделия из лейкосапфира, мм. После изотермической выдержки снижают температуру в печи и извлекают из нее изделия„ Основными показателями повышения радиационной стойкости после отжига являются относительное изменение массы отжигаемого кристалла (3 ) и интенсивность наведенного поглощения (hD) после Уш-облучения кристалла в течение часа светом лампы ПРК-4. Отожженные кристаллы имеют
3„„ =0,0014-0,00У, ZD=0,016-0,030.
t табл. (21) 4647274/26 (22) 06.02,89 (46) 23.0> .93. Бюл, 1g 15 (72) Б.M.Иванына, В.С„Коневский, Е.В.Кривоносов и Л„,Л.Литвинов (6) I.Kvapil et аl, "Colour Centre
Formation in Corundum борей with
Divalent inns", Kristall und Technik. 1973, ч. 8, " Г 1-3, р,247-251, (54) СПОСОБ тЕРМООБРАБОТКИ ИЗ 1ЕЛИИ
ИЗ ЛЕЙКОСАПФИРА (7) Изобретение относится к обработке монокристаллов лейкосапфирв и изделий из них, может быть использовано на предприятиях Минхимпрома, Минэлектронпрома и позволяет повысить стойкость изделий к Уф-облучению.
Термообработку ведут в присутствии
Изобретение относится к обработке монокристаллов лейкосапфира и изделий из них и может быть использовано на предприятиях Минхимпрома, Минэлектронпрома, Минприборостроения, Минудобрений.
Целью изобретения является повышение стойкости изделий к Уф-облучению. (скорость охлаждения зависит от особенностей печи отжига, но не должна превышать 800 град/ч во избежание растрескивания кристаллов из-за термоупругих напряжений).
Для исключения контактного взаимодействия отжигаемые изделия и графит пространственно разделены. Глубина диффузионного распространения восстановительных процессов в объеме крис-талла равна толщине радиационно-упрочненного слоя 3 отжигаемого кристалла и определяется соотношением
Х = ц = 20, с ., (1) где Оз, - эффективный коэффиц«ент диффузии фронта с твердо о О 00 ,Ql () Способ включает следующую, последовательность операций: нагрев изделий из лейкосапфира в присутствии графита до 1800-2000 С я среде природного газа при давлении 7 10 -2 10 Па, изотермическую выдержку при этой температуре в течение времени 7, охлаждение изделия,ln к мнатной температуры
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ, ввивущ ," 6ИЩУЮ- Щи0%а
К A ВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ БИ ъР - ":, 1
1649859
1 1)82
0,012Т-19у6
° i 4, (смз/ч) фазной восстановительной реакции.
Лля изделий из лейкосапфира экспериментально установлена зависимость D „ oT температуры отжига в интервавле 1800-2000 С;
П = 10 ° (0,012Ò-19,6) (смз/с) =10 (0,012Т-19,6) 3,6 10 (смз/ч) (2) Из уравнений (1) и (2) получается окончательное выражение для определения длительности изотермической, выдержки при отжиге лейкосапфира в углеродной атмосфере при 1800-2000 С. {10" 4 ) (смз)
"(.) =--------- --)---2 10 (0,012Т-19,6) 3,6 10э с где о - толщина радиационно-упрочняемого слоя изделий из лейкосапфира, Выбор температурного интервала от- 25 жига кристаллов в соответствии с предлагаемым способом определяется эффективностью диффузионных процессов в лейкосапфире, Установлено, что достаточно эффективно процесс "вос- 3( становления" лейкосапфира протекает при температурах выше 1750 С, однако восстановительный отжиг при предплавильных режимах (Тдд = 2050 C) не оправдан из-за достаточно большой ве- ЗБ роятности аварийного расплава отжигаемых изделий, Птжиг в атмосфере природного газа, который в основном состоит из мета на (СН ), соответствует отжигу в углеродоводородной среде и проявляет по отношению к монокристаллам комбинированное восстанавливающее действие. При отжиге по.предлагаемому способу кроме насыщения кристалла 45 атомами водорода в кристалле увеличивается содержание анионных вакансий, концентрация которых определяется температурой отжига.
Наличие анионных вакансий,во-первых, исключает наличие в матрице кристалла нейтральных атомов кислорода, а an-вторых, дополнительно понижает или компенсирует положительный заряд примесных ионов переходных металлов, тем самым полностью устраняя причины появления наведенного оптического поглощения (НП) при УЙ-облучения.
Характерной особенностью высокотем-! (см ) л(ч) (3} о
2 П, (см /ч)
На практике величину 3 измеряют в мм„
Поэтому перед расчетом времени с, для выполнения условий размерности измеренную в мм величину переводят в см в (мм) 0,1 = о (см).
Тогда формула (2) приобретает вид (0 1 8) > (см ) л(„)
2Р (см /ч) Д где 3 в мм.
Учитывая значение D, получаем пературного . (Т От = 1750 С) отжига лейкосапфира (o(-А1 0 ) в присутствии графита является интенсивное термохимическое травление поверхности отжигаемого кристалла. Этот процесс обусловлен химическими транспортными реакциями в газовой фазе, и его интенсивность существенно зависит от давления среды отжига. Экспериментально установлено, что для интервала температур 1800-2000 С ухудшение качества поверхности изделий в результате термохимического травления не имеет места при давлении природного газа в отжигаемом пространстве более 7. 10" Па. При этом увеличение давления среды отжига более
2 10 Па оказывается не целесообразз но, так как не сопровождается дополнительным положительным эффектом, однако приводит к конструктивному усложнению отжиговой камеры из-за специальных требований к оборудов4 нию, работающему при повышенных давлениях.
Пример. Полированные пластины (окна для дефекторов) из сапфира (диаметром 25 мм, высотой 50 мм) помещают в открытый молибденовый контейнер и загружают в печь с графитовым нагревателем. Рабочее пространство печи откачивают до давления
1-10 Па и затем заполняют природным газом до давления 7 ° 10 Па. Печь нагревают со скоростью 700 град/ч до температуры Т, В процессе подъема температуры давление в печи увеличи49859 6 ционному упрочнению отжигаемого иэделия, Применение длительности изотермической выдержки больше предлагаемой (пример 1!) малоэффективно и сопровождается увеличением изменения массы отжигаемого кристалла (3 ), Уменьшение давления срс ы отжига до
2 А !0 Па (пример 6) приводит к образованию дефектов на поверхности отжигаемых изделий, а .увеличение давлейия выше 2 10 ь {пример 9) незфйективно, так как сопровождается увеличением интенсивности наведенного поглощения
15 (сравни с примерами 2-4, 7, 8), 1аким образом, режимы, ограниченные пределами, оговоренными в предлагаемом способе (примеры 2-4, 7, 8), обеспечивают оптическую стойкость
20 лейкосапфира к УФ-облучению выше, чем у способа-прототипа, в среднем чем на 35-.403, Формула изобретения
Способ термообработки иэделий иэ лейкосапфира, включающий их нагрев, изотермическую выдержку в газовой среде и охлаждение, о т л и ч а ю30 шийся тем, что, с целью повышения стойкости изделий к УФ-облучению нагрев ведут в присутствии rpal о фита до 1800«2000 С в атмосфере природного газа.при давлении 7 .10
Ф „
2 10 Па, а выдержку осуществляют в течение времени л =1,43 /(0,012 "Т - 19,6) (ч), где 3 - толщина радиационно-упрочня"
4р емого слоя изделия на лейкосапФира, мм.
60, см
Примечание
Р, Па
1 1750 9 10 2,5 0,06
1800 9 10
1900 9 10
2000 9 10
2050 9 1О
1900 2 104
0,0014
0,03
0,018
0,018
0,01&
0,016
2,5
2 5
2,5
2,5
2,5
0,0030
0,0045
Кристалл расплавился
Термохимической травление поверхности
0,0090
5 16 вается и при достижении значения Р стабилизируется стравливанием избыточного количества газа в атмосферу..
Рлительность изотермической выдержки определяют из вышеуказанного соотношения. Например, при температуре отжига 1900 С, 1 4 (!1/2) 1 4625 д 1 «- » «А А
0,012Т-19,6 3,2
= 2,5 (ч).
Росле изотермической выдержки температуру в печи снижают со скоростью 700 град/ч и после полного остывания печи изделия извлекают из печи.
Для контроля эффективности повышения радиационной стойкости регист" рируют относительное изменение массы отжигаемого кристалла щ = (m i ™o)/m где m — масса кристалла после отжи1 га;
m - масса кристалла до отжига, а также интенсивность наведенного поглощения (AD} после УФ-облучения кристалла в течение часа светом лампы ПРК-4.
Режимы термообработки и полученные результаты представлены в таблице.
После сравнения результатов отжига основными показателями являются
Ю и 8„, . Как видно из таблицы, оптимальными являются режимы, описанные в примерах 2-4, 7, 8. Снижение температуры отжига до 1750 С (пример 1) или уменьшение длительности изотермической выдержки (пример. 10) соответствует недостаточному радиа"
0,0010 Недостаточная радиационная стойкость
1649859
Продолжение таблицы
2,5
2,5
Малоэффективно.О
2,0
Недостаточная радиационная стойкость
1900 9 10
Малоэффективно
0,018
0,0052
Прототип 1800 1 10 о,о4о
20 0
Составитель Е.Писарева
Редактор М„Бокарева Техред М,Моргентал Корректор t:.1Îñêî
Яакаэ 3099 Тираж Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, П-35, Раушская наб., д. 4/5
Пролзводственно-издать:льский комбинат "Патент", r, Ужгород, ул, Гагарина., 101
19о0 .7.1о4
1900 2 10
1980 8 10 1900 9 10
0,016
0,020
0,024
0,08
0,0051
0,0037
0,0037
0,0029