Устройство для исследования электропроводности высокоомных материалов

Патент 524118

Авторы

Иллюстрации

Показать все

Реферат

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскин

Социалистических

Республик (11) j524118 (61) Дополнительное к авт, свид-вувЂ” (22) Заявлено 14. 10. 74 (21) 2063401/25 (51) M. Кл.е

& 01Pi 27/02

& 01 N Э/04 с присоединением заявки № (23) ПриоритетГосударственный комитет

Совета Миниатраа СССР аа делам кзабретеннй н открытий (43) Опубликовано05.08.76.Бюллетень № 29 (53) УДК 621.317. . 738 (088. 8) (45) Дата опубликования описания 05.11 76

М. Л. Мейльман и В. Р. Гринберг /

Всесоюзный научно исследовательский и конструкторскоЖщ йелбгиу:рщф ! институг природных алмазов и инструмейта :- „

1 (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ

ВЫСОКООМНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Устройство предназначено для исследо- : ! ванин. электрических свойств диэлектриков и высокоомных полупроводников в широком температурном диапазоне и может быть использовано для исследований в физике ,твердого тела, электронной технике, радио1элекгронике и электротехнике, Известна конструкция ячейки, позволя,ющаг проводить измерения в широком дно апазоне температур (до 700 С) и при боль 10 ших (1 кв) напряжениях на исследуемом, образце. 111 . В этой ячейке образцы располагаются на установленной горизонтально платиновой пластине, служащей одним из ,электродов. Другие электроды - платиновые тб проволоки в трубках иэ плавленного квар.ца - располагаются вергикапьно и прижима ются к образцам под действием собственно го веса.

Однако образцы закрепляются в этой 20 ячейке нежестко и кроме того, изоляция . элекгродов недостаточная.

Наиболее близкой к предлагаемому устройству по техническому решению является конструкция ячейки f2(, состоящая из каме- 25

2 ры с нагревателем, в которой исследуемйй образец находится в контролируемой атмосфер ре .или вакууме; и держателя образца, выполненного в виде двух платиновых проволок. Верхний конец одной проволоки (обе

;,провойоки также выполняют функции токопповодяших измерительных (электродов) хорошо изолирован путем закрепления в центре сапфирового полированного диска, являющегося проходным изолятором вакуумного элек трода. Другой измерительный электрод выведен из ячейки через боковую поверхность с помощью обычного (спая металл--.стекло .

Однако нежесткое закрепление образца снижаег верхний предел измеряемых сопротивлений, а, ненадежная изоляция одного из мерительного электрода при повышенных температурах сужаег диапазон возможных измерений и затрудняет оценки проводимости высокоомных материалов с неэаземленным источником тока.

Цепью изобретения является повышение .точности и расширение диапазона измерений ! электрических параметров материалов, !

Указанная цель достигается гем, что в,524118

1 Составитель М. Кривенко

;Редактор Н. Вирко Техред А. демьянова КорректорД, МельниченКа

t, Закаэ 4981/434 Тираж 1029 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Сове га Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4