PatentDB.ru — поиск по патентным документам

МЕЙЛЬМАН МИХАИЛ ЛЕОНИДОВИЧ

Изобретатель МЕЙЛЬМАН МИХАИЛ ЛЕОНИДОВИЧ является автором следующих патентов:

Термоэлектрический приемник излучения

Термоэлектрический приемник излучения

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1»1 4755! О Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 23.06.73 (21) 1958223/18-10 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 30.06.75. Бюллетень М 24 Дата опубликования описания 03.10.75 (5I) М. Кл. G Olj 5/12 Государственный комитет Совета Министров СССР (53) УДК 537...

475510

Устройство для исследования электропроводности высокоомных материалов

Устройство для исследования электропроводности высокоомных материалов

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскин Социалистических Республик (11) j524118 (61) Дополнительное к авт, свид-ву— (22) Заявлено 14. 10. 74 (21) 2063401/25 (51) M. Кл.е & 01Pi 27/02 & 01 N Э/04 с присоединением заявки № (23) ПриоритетГосударственный комитет Совета Миниатраа СССР аа делам кзабретеннй н открытий (43) Опубликовано05.08.76.Бюллетень...

524118

Эталон для люминесцентных измерений

Эталон для люминесцентных измерений

  СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН (19) (П) 3(59 (01 Й 21 64 (ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ. ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3370549/18-25 (22) 15.12.81 (46) 30.06.83. Бюл. У 24 (72) Х.C.Багдасаров, И.С.Володина, A.È.Êîëîìèéöåâ и N.Ë.Ìåéëüìàí (71) Ордена Трудового Красного Знамени институт кристаллографии им. А.В....

1026040

Способ измерения показателя преломления

Способ измерения показателя преломления

  СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ пластин из оптически прозрачных материалов, включающий определение оптической плотности и толщины пластины, отличающийс я тем, что, с целью упрощения измерений, после определения оптической плотности и толщины пластины ее утоняют до толщины в пределах 0,10 ,9 от исходного значения, измеряют оптическую плотность и толщину утоненной пластины...

1097921

Эталон для калибровки спектрофлуориметра

Эталон для калибровки спектрофлуориметра

  Изобретение относится к технике оптических измерений. Целью изобретения является одновременное получение калибровочных спектров испускания и спектров возбуждения. Эталоном является монокристалл иттрий-алюминиевого граната, активированный примесью диспрозия состава Y. Вух . Спектр излучения эталона используют при калибровке монохроматора испускания , при этом 10 и X 1. СОЮЗ СО...

1402865


Способ определения структурного совершенства кристаллов

Способ определения структурного совершенства кристаллов

  . Изобретение относится к области исследования физических свойств материалов , а точнее к методам определения структурного совершенства кристаллов с помощью электронного парамагнитного резонанса, и может быть использовано в производстве кристаллических элементов приборов оптической и радиоэлектронной техники. Цель изобретения - повышение информативности способа путем измерения чи...

1437752

Эталон для калибровки спектрофлуорометра

Эталон для калибровки спектрофлуорометра

  Изобретение относится к технике оптических измерений. Цель изобретения - повышение точности. Эталон представляет собой монокристаллический иттрий-алюминиевый гранат, активированный примесью церия, для которого характерны следующие особенности: строго одноэкспоненциальный закон затухания флуоресценции в диапазоне двух порядков; отсутствие перекрытия спектров поглощения и люминесце...

1718058

Эталон для калибровки спектрофлуорометра

Эталон для калибровки спектрофлуорометра

  Эталон позволяет провести метрологическую аттестацию систем измерений формы импульсов флуоресценции в наносекундном диапазоне и тем самым повысить точность измерений постоянной времени затухания флюоресценции. Эталон представляет собой монокристаллический ортоалюминат иттрия, активированный примесью церия, для которого характерны следующие особенности, строго одноэкспоненциальный...

1807351