Способ отсчета по линейной шкале

Способ отсчета по линейной шкале

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

O Е т: О1 Г

° Ф бнбд:с tw

Е 11 1) тратт

О П

5320OI

Со(оз. Советс(, нх

Социалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕНИЯ

И АВТОРСКОМУ С;ВЙДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополните: ьиос и авт. спид-ву (22) Заявлено 12.64.74 (21) 2015!Ю8 28 (5! ) М. Кл.- G 01 8 11, тт:,1

С Il1) IIСОЕДII! I" IIIII)М т;1(тВК)1

Государственный комитет

Совета Министров СССР (23) Приоритет

Опт бли)тювано 15.10.7С, I>)o,!:I Ie! II, М 38

Дата опубликования описания 22.11.76 (53) УДК 531.715.2 (088.8) по делам изобретений и открытии (72) Лвторы изOбJ)стсиня

Л. Б. Кацнельсон и Ф. И. Коган (71) За()вl!тель (54) спосо1 отсчетл по лингйнои шкллк

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автомат;(ческого измерения линейных перемещений подвижных элементов приборов и машин.

Известен способ отсчета по линейной шкале, заключающийся в определении положения индекса относительно одного из штрихов шкалы (1„ .

По известному способу сканируют участок шкалы со штрихами, доли интервалов между штрихами измеряют с помощью заполняющих импульсов /дискрет/, а отсчет доли интервала между индексом и штрихом шкалы производят путем подсчета количества дискрет межДт Инт)п

I.(ç(.å"òIIûé способ имеет недостаток, заключающийся в низкой помехозащищенности, так как ь процессе эксплуатации шкалы происходит нарушение чистоты ее поверхности, и амплитуда лож((ых сигналов в ряде случаев может оказаться соизмеримой с амплитудой полезного сигнала, а в ряде случаев и превысить ее.

Наиболее близким к предложенному изобретению по достигаемому эффекту является способ, реализованный в устройствах, шкалы которых снабжены вспомогательными рисками, нанесенными на фиксированном расстоянии от основных штрихов, и вспомогательным фотодатчиком, установленным относительно основного фотодатчика иа расстоянии, равном расстоянию между вспомогательными рисками и основными штрихами шкалы (21.

Предлагаемый способ отличается от извест5 ного тем, что измерения производят в момент совпадения сигналов с измсрителш(ого и контрольного фотодатчиков, что превышает достоверность измерений.

Однако при работе по известному способу

)О не исключено получение ложного сигнала из-— за возможности появления иа шкале инородных включений, перекрывающих весь интервал между парами штрихов или расположенных рядом с основным штрихом со стороны, !

5 противоположной вспомогательной риске.

Цель изобретения — повышение достоверности отсчета Ilo:ïøåéíîé шкале.

Для этого по предлагаемому способ1. Сравнивают между собой величины интервалов, 20 образованны.: соседними штрихами, находят наибольший из интервалов и измеряют расстояние от индекса до одного из штрихов, ограничивающих этот интервал.

Осуществляется способ следующим обра25 зом (см, чертеж).

На чертеже изображены: а — участок шкалы; б, в, г, д — временные диаграммы.

При сканировании изображения участк: шкалы 1 на фотодатчик приходят сигналы от

30 царапин 2, инородных включений 3 и штрихов 4 (изображенных схематично на чертеже), 3 результате чего íà выходе фотодатчпка появляется последовательность измерительных импульсов U„Одновременно с началом сканирования запускают генератор опорных импульсов U,, которые используются как эквиваленты индекса, и генератор запол1гяющих импульсов U Считая число Л импульсов U„, генерируемое в промежутке времени между опорным U,„è измерительным U„, спп1алами, производят отсчет, определяющий расстояние межд индексом /оп и штрихом 4, или, например, царапиной 2. Кроме величины Л в процессе измерения непрерывно определяют число М заполняющих импульсов U3 между всеми находящимися в поле зрения соседними парами измерительных импульсов U„,. Результат текущего отсчета величины М=М„„ сравнивают с наибольшим из предшествующих

М=М„;„;с. Если М„н(М„анс, то формируют импульс запрета, с помощью которого па выход системы регистрации не пропускают отсчет Л, полученный в промежутке, где фиксировали М„„. Если же М„,-)М,„„ис, то его запоминают и используют в качестве М,„анс, с которым сравнивают все полученные впоследствии значения М„„.

+сек

>ап

Е сек

8, сек

f, сек

/ и з 5 У N \ nl9 у10

Изд. № 1653 Тираж 882 Подписное

Типография, пр. Сапунова, 2

ЦНИИПИ Заказ 2531/20

Таким образом, ошибка в измерении возможна только II том случае, когда все интервалы шкалы, находящиеся в момент отсчета в поле зрения, имеют царапины 2 или инородные включения 3, вероятность чего весьма мала.

Формула изобретения

Способ отсчета Io линейной шкале, заключающийся в определении положения индекса относительно одного из штрихов шкалы, отл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения достоверности отсчета, сравнивают между со15 бой величины интервалов, ооразованных соседними штрихами, находят наибольший из интервалов и измеряют расстояние от индекса до одного из штрихов, ограничивающих этот интервал.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. IO. Л. Полунов «Фотоэлектрические микроскопы и автоколлиматоры в машиHîстрое25 нии», изд. НИИмаш, М., 1971 г.

2. Лвторское свидетельство ¹ 374494 по

М. Кл. G 01В 11/02, 73 г. (прототип),