КАЦНЕЛЬСОН ЛЕОНИД БОРИСОВИЧ
Изобретатель КАЦНЕЛЬСОН ЛЕОНИД БОРИСОВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ изготовления оптического покрытия Способ изготовления оптического покрытия](https://img.patentdb.ru/i/200x200/35ff78a9200413755d61701564946545.jpg)
Способ изготовления оптического покрытия
ОПИСАНИЕ ИЗОЬЕЕтЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1п 461398 Союв Соватских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 21.05.73 (21) 1921338/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 25.02.75. Бюллетень № 7 (51) М. Кл. G 02Ь 5/28 Гасударственный камитет-. Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 535.345.67...
461398![Способ изготовления диэлектрического полосового пропускающего интерференционного фильтра Способ изготовления диэлектрического полосового пропускающего интерференционного фильтра](https://img.patentdb.ru/i/200x200/088027fe07e069ba28b893c5dfa83ecd.jpg)
Способ изготовления диэлектрического полосового пропускающего интерференционного фильтра
O Л И C А Н И Е (!1) 491И6 Союз Советских Социалистических Республик И ОБРЕТ . КЧ iN ABTC; СИОМ т СВИДЕТЬ АДЬО Вот (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 27.12.73 (21) 1980270/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет (51) М. Кл. б 02b 5 28 Государственный комитет Совета Министров СССР (53) УДК 535.345.67 (088.8) Опубликовано 05.11.75. Бюллетень М 41 по делам и...
491116![Устройство для контроля толщиныпленок многослойных покрытий в про-цессе напыления Устройство для контроля толщиныпленок многослойных покрытий в про-цессе напыления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/25f59a3a83f4126ab0f47721c83dcd3d.jpg)
Устройство для контроля толщиныпленок многослойных покрытий в про-цессе напыления
иалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 18.04.73 (21) 1910082/25-28 с присоединением заявки № (51) М. Кл. G 01В 11/02 Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 531 717 55 (088.8) Опубликовано 30.03.76. Бюллетень № 12 Дата опубликования описания 21.05.76 (72) Авторы изобретения О. В. Александров, Л. Ь. Кацнельсон и Ш. А. Ф...
508666![Фотоэлектрический способ контроля положения рабочего органа станка Фотоэлектрический способ контроля положения рабочего органа станка](https://img.patentdb.ru/i/200x200/28ecdfcd83beb6172e7f111c99c53a70.jpg)
Фотоэлектрический способ контроля положения рабочего органа станка
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 0Ц 5lll62 Союз Советских Социалистических е осиубоик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 29.07.74 (21) 2053956/25-8 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 25.04.76. Бюллетень № 15 (45) Дата опубликования описания 30.03.78 (51) М. Клз В 23G 19/00 G 01B 11/00 Государственный номнтет Совета Мнннст...
511162![Способ изготовления оптического поглощающего фильтра Способ изготовления оптического поглощающего фильтра](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c24d8a662e9a6cf02b3cbae53dbce163.jpg)
Способ изготовления оптического поглощающего фильтра
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (11) 525906 (61) Дополнительное к авт. свид-ву е— (22) Заявлено 10.02.75(21) 2104110/10 с присоединением заявки № (23) Приоритет— (51) М. Кл.е 02 B 5/22 Гасударственный камитет Савета Минпетрав СССР па делам изабретений и аткрытий (43) Опубликовано25.08.76.Бюллетень № 31 (53) удК...
525906![Способ контроля толщин слоев при изготовлении оптического покрытия на детали Способ контроля толщин слоев при изготовлении оптического покрытия на детали](https://img.patentdb.ru/i/200x200/59c3b0b949f7e147f4cdf30bfc8667f7.jpg)
Способ контроля толщин слоев при изготовлении оптического покрытия на детали
пц 526768 ОП ИСАН И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских,Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 05.07.74 (21) 2044945/28 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 30.08.76. Бюллетень № 32 Дата опубликования описания 02.11.76 (51) М. Кл.з G 01В 11/06 Государственный комитет Совета Министров СССР (53) УДК 5...
526768![Способ отсчета по линейной шкале Способ отсчета по линейной шкале](https://img.patentdb.ru/i/200x200/78700615e791744a978d5ef454f1ff19.jpg)
Способ отсчета по линейной шкале
O Е т: О1 Г ° Ф бнбд:с tw Е 11 1) тратт О П 5320OI Со(оз. Советс(, нх Социалистических Республик ИЗОБРЕТЕНИЯ И АВТОРСКОМУ С;ВЙДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополните: ьиос и авт. спид-ву (22) Заявлено 12.64.74 (21) 2015!Ю8 28 (5! ) М. Кл.- G 01 8 11, тт:,1 С Il1) IIСОЕДII! I" IIIII)М т;1(тВК)1 Государственный комитет Совета Министров СССР (23) Приоритет Опт бли)тювано 15.10.7С, I>)o,!:I...
532001![Способ изготовления полосового контрастного диэлектрического пропускающего оптического фильтра Способ изготовления полосового контрастного диэлектрического пропускающего оптического фильтра](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9291d04597980d2a5eb7f9df0b80fef6.jpg)
Способ изготовления полосового контрастного диэлектрического пропускающего оптического фильтра
Гс .. " О П И С А Н И Е ()553565 ИЗОБРЕТЕН Ия Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 31.12.74 (21) 2091607/10 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.04.77. Бюллетень j¹ 13 (45) Дата опубликования описания 08.07.77 (51) М К а з 6 02 В 5/ 28 Государственный комитет С...
553565![Устройство для контроля толщин пленок в процессе нанесения оптического покрытия испарением в вакууме Устройство для контроля толщин пленок в процессе нанесения оптического покрытия испарением в вакууме](https://img.patentdb.ru/i/200x200/21b85676bfde8dc7d01cbf10a87b2f34.jpg)
Устройство для контроля толщин пленок в процессе нанесения оптического покрытия испарением в вакууме
ОП ИСАЙ ИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (11) 555278 (61) Дополнительное к авт. свил-ву— (22) Заявлено 26.01.76 (21) 2320608/28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет (43) Опубликовано 25.04.77. Бюллетень № 15 (45) Дата опубликования опнсання25.07.77 (51) М. Кл.а а01В11/06 Гасударственный камитет Савета Министров ССС...
555278![Оптическое устройство Оптическое устройство](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f180518e0efeb9ba8a4c1e1a7dec4a38.jpg)
Оптическое устройство
I ! Bcc""., юзная 1 I и 1 и -и т, -,r ill „:,, ОПИСАНИЕ 56В24 ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союв Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.01.76 (21) 2313014/10 (51) М Кa G 02В 5/28 с присоединением заявки ¹ Государственный комитет Совета Министров СССР чо делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 15....
561924![Оптическое устройство Оптическое устройство](https://img.patentdb.ru/i/200x200/88ab8bde4b611fd536392ce689b9034c.jpg)
Оптическое устройство
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ . К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Соаетскнх (1!) 738839 Социаанстнческнх Респубднк (61) Дополнительное 1к авт. свяд-ву 561924 (22-) Заявлено 25.09.78 (21) 2669654/18-10 (51) М.Кл.2 б 02 В 5/28 (53) УДК 535.813 (088.8) с присоединением заявки №вЂ” 1осударстаенный комитет СССР (23) .Пр иоритет— (43) Опубликовано 28.02.80. Бюллетень № 8 по делам изобретени...
718819![Устройство для измерения спектральных коэффициентов пропускания и отражения Устройство для измерения спектральных коэффициентов пропускания и отражения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8e358b3dd54501d4d681476f56f2ce8b.jpg)
Устройство для измерения спектральных коэффициентов пропускания и отражения
О Л И С А Н И Е (»;894374 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДВТИВЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву(22) Заявлено 12. 03. 80 (21) 289291 7/18-25 (5 ) ) щ Кл с присоединением заявки J4(23) Приоритет6 01 J 3/32 Ъеударотюиый комитет СССР по делам изобретений и открытий Опубликовано 30.12.81. бюллетень р@ Ц8 Дата опубликования описания 3...
894374![Сканирующий спектральный прибор Сканирующий спектральный прибор](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ce2064f3400f86e43f90336116dc9ce9.jpg)
Сканирующий спектральный прибор
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Реслублмк и 934246 (6! ) Дополнительное к авт. саид-ву (22)Заявлено 24.11 ° 80 (21) 3006875/18-25 1 . с присоединением заявки М (5l)M. Кл. G 0l J 3/42 Ркудвуствсивй квинтет СССР ае двлаи нзвбрвтвннй и вткрытнй (23) Приоритет Опубликовано 07.06.82. Бюллетейь J421 Дата опубликования описания 0...
934246![Инфракрасный спектрофотометр Инфракрасный спектрофотометр](https://img.patentdb.ru/i/200x200/38687444a1a47d2bf799b86348047b46.jpg)
Инфракрасный спектрофотометр
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик
947652![Осветитель двухлучевого спектрофотометра Осветитель двухлучевого спектрофотометра](https://img.patentdb.ru/i/200x200/4fd4a30415b0ee7cfb2e09bd8e5e1e2d.jpg)
Осветитель двухлучевого спектрофотометра
< !981832 ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советск ив СоцналнстнчвГник республик (61) Дополнительное к авт. свнд-ву (22) Заявлено 02.06.81 (2! ) 3294402/18-25 (5l )M. Кл . С 01 J 3/18 с присоединением заявки И 9муйврствиай квинтет ВИР во дааан юеврвтеввв 1 н впрнтвй (23) Приоритет Опубликовано 1 5.12.82. Бюллетень М 46 . Дата опубликования описания 17....
981832![Устройство для контроля толщины пленки в процессе нанесения ее на крупногабаритную оптическую деталь Устройство для контроля толщины пленки в процессе нанесения ее на крупногабаритную оптическую деталь](https://img.patentdb.ru/i/200x200/50da9373a5d74ecb546f5137c38a208a.jpg)
Устройство для контроля толщины пленки в процессе нанесения ее на крупногабаритную оптическую деталь
Изобретение может быть использовано для контроля толщины оптической пленки в процессе ее нанесения на крупногабаритную оптическую деталь . Целью изобретения является повьшение точности контроля толщины пленки за счет устранения смещения изображения источника излучения на входной щели монокроматора при вращении контролируемой детали. Излучение от источника 1 с помощью конденП-л со...
1346945![Устройство для контроля толщины пленки в процессе нанесения ее на крупногабаритную оптическую деталь Устройство для контроля толщины пленки в процессе нанесения ее на крупногабаритную оптическую деталь](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a53f599b88f4c119c9c3526e223cacb6.jpg)
Устройство для контроля толщины пленки в процессе нанесения ее на крупногабаритную оптическую деталь
Изобретение может быть использовано для контроля толщины оптической пленки в процессе ее нанесения на крупногабаритную оптическую . деталь. Целью изобретения является повышение точности контроля толщины пленки за счет устранения смещения изображения источника излучения на входной щели монохроматора при вращеW X, til. НИИ контролируемой детали. Излучение от источника 1 проектируют...
1346946![Устройство для контроля толщины пленок, в процессе напыления осаждением в вакуумной камере многослойного оптического покрытия Устройство для контроля толщины пленок, в процессе напыления осаждением в вакуумной камере многослойного оптического покрытия](https://img.patentdb.ru/i/200x200/82d51295063eaea5009f09ab7deac141.jpg)
Устройство для контроля толщины пленок, в процессе напыления осаждением в вакуумной камере многослойного оптического покрытия
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к изготовлению многослойных оптических покрытий.наносимых путем осаждения веществ в вакууме. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет уменьшения случайной составляющей погрешности и снижения уровня мешающего излучения. Объективы зеркала создают изображение источника излучения в плоскости образца. Излучение, про...
1705700