Рентгеновский дифрактометр

Рентгеновский дифрактометр

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Сеюэ Советакив

Сощу вектическйк

CkCN+l316C т е.,,я и ческая т . К:А 1

-Ъм (51)М. Кл. (6Ц Дополиительиое к авт. сеид-ву (22) 3аввиеио 02,1277 (21) 2545853/18-25 (т 01 N 23/20 с присоединением заявки Hо

Гоеударствеввый комитет

СССР по девам иаобрете йй и открытий (23) ГЗриоритет Опубликовано 2505.79. Ьюллетеиь МФ 19

Дата опубликования описания 2805?9 (53) УДК 621. 386 (088.8) Ю. Н. Ведерников, В. М. Викторов, Е. H. Владимиров, Я. И. Комяк, t0. Г-. мясников и A. A. Шашнлов (72} Авторы изобретения (71) Заявитель (54 ) PEHTL EHOBCKHA ДИФРАКТОМЕТР

Изобретение относится к приборам " и аппаратам для рентгеноструктурного анализа, в честности к рейтгеновским дифрактометрам, применяемым для научнщ и промейн целей. 5

Известен дифрактометр, содержащий источник рентгеновского излучения и гониометр, установленные неподвижно по отношению друг к другу и к опор:ной плите, благодаря чему достигается механйческая жесткость системы и высокая точность прйбора 11).

Известен также рентгеновский дифрактометр, в котором осуществляется поворот источника, рентгеновского излучения отиосительно оси кристалламонохроматора, являющегося несменным элементом конструкции (2). В дифрак тометре обеспечивается необходимая механическая стабильность в системе: источник излученйя — монохроматорисследуезаюй образец. Однако прибор не позволяет устанавливать сменные устройства между источником излучения и гониометрическим устройством, поскольку расстояние между ними должно все время оставаться постоянным.

Наиболее близким по техническому решению к предлагаемому является рентгеновский дифрактометр, содержа2 щий опорную плиту, источник рентгеновского излучения со средствами юстировки и гониометр со сменными приставкаьа для образца и кристалламонохроматора, смонтированные на плите, блок питания рентгеновской трубки, детектор излучения и регистрирующую дифрактометрическую стойку

E3) °

Этот дифрактометр, имея высокую точность отсчета угловых величин (3 0,005 ), не позволяет реализовать ее при работе с плоским кристалломмоиохроматором и другими смейными устройствами, устанавливаемыми между источником излучения и гониометром, так как не обладает достаточной механической жесткостью, поскольку все рабочие и юстировочные перемещения осуществляются с помощью самого гониометра.

Кроме того, ряд новйх методов рентгеноструктурного анализа (в частности, рентгеновская топографйя, метод двойного кристалла-спектрометра и т. д.) требует дополнительных перемещений в системе: источник излучения - гониометрическое устройство, что вызывает еще большую механическую ,нестабильность, и исключает возмож6640 ность применения прибора для прецизионных исследований и ставит определенный предел его универсальности.

Цель изобретения состоит в повышении точности, универсальности и упрощении юстировки при смене приставок.

Для решения поставленной задачи в рентгеновском дифрактометре, содержащем опорную плиту, источник рентгеновского излучения и гониометр со сменными приставками для образца и кристалла-монохроматора, смонтированные на плите, блок питания рент геновской трубки, детектор излучения и регистрирующую дифрактометрическую стойку, гонйометр жестко

C установлен на опорной плите, а источник рентгеновского излучения со средствами юстировки смонтирован на поворотной пЛатформе с воэможностью поступательного перемещения вдоль 20 нее и совместного с ней поворота вокруг оси, параллельной оси гониометра в интервале углов 0-90

На чертеже показана схема взаимного расположения гониометра и источ- 2я ника излучения, а также средства перемещения последнего.

Устройство содержит опорную плиту 1; источник рентгеновского излучения 2; гониометр 3 с поворотным держателем образца 4; детектор излучения 5; сменное устройство, ось поворота которого совпадает с осью

6, отстоящей от оси гониометра на расстояние, определяющее оптимальное условие фокусировки; поворотную платформу 7 с крепежными винтами

8 и 9; винтами тонкого поворота 10; шкалой 11 отсчета угла поворота плат- . формы; направляющей 12 поступательного перемещения и дуги 13. 40

Для установки вспомогательного сменного устройства (например, кристалла-монохроматора) и совмещения его оси с осью 6 источник рентгеновского излучения 2 перемещают в ра= 45 диальном направленни вдоль направляющей 12 на расстояние, необходимое для установки сменного устройства.

Затем производят грубый повОрот платформы 7 по дуге 13 с отсчетом, 50 угла по шкале 11 при отпущенных винтах 8 и 9 и тонкую фокусировку винта93 4 ми 10 при отжатом винте 8. Юстировку первичного пучка относительно, заданного участка кристалла осуществляют грубым и плавным возвратно-поступательным перемещением источника излучения 2 в направлении, перпендикулярном к его радиальному перемещению.

Размещение источника рентгеновского излучения на поворотной платформе с возможностью .поступательного перемещения в двух взаимно-перпендикулярных направлениях создает большие удобства и преимущества для изменения рентгенооптической схемы аппарата, для реализации новых методов рентгеноструктурного анализа, включая рентгеновскую топографию, метод двойного кристалл-спектрометра, исследования в параллельном пучке рентгеновского излучения (с монохроматором Бонзе), исследования текстур, температурйые исследования и т. и.

Формул а и з о брет ени я

Рентгеновский дифрактометр, содержащий опорную плиту, источник рентгеновского излучения со средствами юстировки и гониометр со сменными приставками для образца и кристалла-монохроматора, смонтированные на плите, блок питания рентгеновской трубки, детектор излучения и регистрирующую ди@рактометрическую стойку, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, универсальности и упрощения юстировки при смене приставок, гониометр жестко установлен на Опорной плите, а источник рентгеновского излучения со средствами юстировки смонтирован на поворотной платформе с возможностью поступательного перемещения вдоль нее и совместного с ней поворота вокруг оси, параллельной оси гониометра в интервале углов 0-90

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Техническое описание Дифрактометр Гейгерфлекс, ВЦП перевод

Р 68882- 68897, 1976.

2. Авторское свидетельство

Р 543858, кл. G Ol N 23/22, 1975, 3. Авторское свидетельство

Ф 270290, кл. Q 01 N 23/20, 1970.

А,, 664093

Составитель Е. Сидахин

2ж к

4 5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород; ул. Проектная, 4

Заказ 298 /42 Тираж 1089 Подписное

ЦЯИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035 Москва Ж-35 Ра шская наб.