PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КОМЯК НИКОЛАЙ ИВАНОВИЧ

Изобретатель КОМЯК НИКОЛАЙ ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Бескристалльный рентгеновский квантометр

Бескристалльный рентгеновский квантометр

  Союз Советских Социвлистимеских Республик I (61) Зависимое от авт. свилетельства(.",2) Заявлено 25 Gg,>2 (21)?8307 4/26(51) М Кл. Q G1 З/га с присоединением заявки Гасудврственнмй наметет Саветв Мнннстрав СССР аа делам нзааре1еннй и аенрмтнй (32) Приоритет Опубликовано 30 08."74 Бюллетень _#_ogg (45) Дата опубликования описания ?5.42.74 (53} УЕК б2).386/GBB.8/ 3.А. Аб, З.И....

441492

Рентгеновский анализатор

Рентгеновский анализатор

  :с Р .-. c. 5 ".:сг, .ъ:-а L ! О П И вЂ” (А"Н" И-Е. ИЗОБРЕТЕН ИЯ (1Т), 44497I Союз Соеетскнх Соцнапнстнмескнх Респубпнк К АВТОВСКОМУ СВИДЮИЛЬСТВУ (6l) Зависимое от авт. свидетельства— (22) ЗаявленоТ I 05,72 (21)I78IOOI/262 (51) М Кл. с присоединением заявки— 6 О?и 23/32 Государственный номнтет Совета Мнннстров СССР оо делам нэобретеннй н открытой (32) Приоритет— Опуб...

444971

Многоканальный дифрактометр

Многоканальный дифрактометр

  p .. О П Й С"А"- H-И Е И ЗО БРЕТ Е Н И Я Союз Советских Социалистических Республик.458747 Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено 14.02.73 (21) 1881913/26-25 (51) М. Кл. G 01п 23 20 с присоединением заявки М— Гасударственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет— Опубликовано 30.01 75. Бюлле...

458747

Способ бескристального рентгеноспектрального анализа

Способ бескристального рентгеноспектрального анализа

  о и Р :;и: и и е ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

477335

Многоканальный рентгеновский анализатор

Многоканальный рентгеновский анализатор

  О П И С А Н И Е в) 545966 ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 18.10.73 (21) 1964642/25 с присоединением заявки Ме— (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.02.77. Бюллетень No 5 (45) Дата опубликования описания 28.03.77 (51) М.Кл G 01 N 23/20 G 01п 23 22 Государственный комитет...

545906


Флуоресцентный рентгеновский спектрометр

Флуоресцентный рентгеновский спектрометр

  И патеч нс i v н i ; .« с, " -"Я- -И Е ОП И ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Соеетосмк Сфцмаамстмчесммх Рфсптбпмм (и) 6143б7 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено26,0э.75 (21) 2174672/18-25 с присоединением заявки Ph (23) Приоритет (4З) Опубликовано 050778. Бюллетень М 25 (45) Дата опубликования описания 140678 (5l) М. Кл. Q01 N 23/223 Государственный...

614367

Рентгеновский дифрактометр

Рентгеновский дифрактометр

  618673 Формула изобретения пространенный sin2ô -метод определения напряжения требует рентгенографирования при четырех-пяти значениях угла у . Также известен дифрактометр, в котором предусмотрено перемещение детектора по окружности гониометра, при этом ось детектора остается ориентированной в точку касания исследуемого объекта и гониометра, а трубка может занимать любое положе...

618673

Рентгеновский дифрактометр

Рентгеновский дифрактометр

  Сеюэ Советакив Сощу вектическйк CkCN+l316C т е.,,я и ческая т . К:А 1 -Ъм (51)М. Кл. (6Ц Дополиительиое к авт. сеид-ву (22) 3аввиеио 02,1277 (21) 2545853/18-25 (т 01 N 23/20 с присоединением заявки Hо Гоеударствеввый комитет СССР по девам иаобрете йй и открытий (23) ГЗриоритет Опубликовано 2505.79. Ьюллетеиь МФ 19 Дата опубликования описания 2805?9 (53) УДК 621. 386 (088.8)...

664093

Рентгеновский дифрактометр

Рентгеновский дифрактометр

  l .я г ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ (i (1 682803 Сснгз Ссеетсйих Социалистических Реслуслик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 29.12.77 (21) 2556651/18-25 (51) М. К . G 01N 23/207 с присоединением заявки ¹ (осударстаенный комитет СССР ло делам нзабрегений и открытии (23) Приоритет Оп; блпповапо 30.08.79. Бголггстснь № 32 (53) УДК 548.73: :...

682803

Импульсный рентгеновский генератор

Импульсный рентгеновский генератор

  1ц У!2979 СПИ ИЗОБ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКО (61) Дополнительн (22) Заявлено 31.0 с присоединен (23) Приоритет (43) Опубликовано (45) Дата опублик 1) М. Кл."Н 05G 1/24 Государственный комитет 3) УДК 621.386 (088.8) по делам изобретений и открытий (72) Авторы изобретения Н. В. Белкин, Н. И. Комяк, Е. А. Пелик и В. А. Цукерман (71) Заявитель (54) ИМПУ...

712979


Портативный многоканальный анализатор рентгеновского излучения

Портативный многоканальный анализатор рентгеновского излучения

  Союз Советсиик Социапистичвсиик Республик К АВТОРСКОМУ СВИ ТЕЛЬСТВУ (61) Дояолнительное к авт. санд-ау(22) Заявлено 28. 12.79 (21) 2853823/18-25 с.присоединением заявки М (23) Приоритет Опубликовано 30.08.81. Бюллетень М 32 Дата опубликования описания 01.10.81 (51)M. Кл. Я 01Н 23/22 1Ьеударствснный квинтет СССР h0 делан нзебретеннй н открытки (53) УДК 621. .386(088.8) 1...

859891

Флуоресцентный рентгеновский анализатор с рентгеновским зондом

Флуоресцентный рентгеновский анализатор с рентгеновским зондом

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОИ:КОМУ СВИ ТИЛЬСТЕУ Саюз Советских Социалистических Республик < >894503 (61) Дополнительное к авт. свнд-ву (22) Заявлено 270580 (21) 2922651/18-25 с присоединением заявки 89 (23) Г1рноритет Опубликовано 301281 Бюллетень й948 Дата опублмковання описания 30. 12. 81 (5ЦМ. К. G 01 N 23/223 Гвеухвуетвеяямй квинтет СССР яв дмви мзоеретений а открмтвй...

894503

Флуоресцентный рентгеновский спектрометр

Флуоресцентный рентгеновский спектрометр

  Оп ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союэ Советсиик Социалистически к Республик ()974230 (61) Дополнительное к авт. свид-ву p -614367 (22) заивлено 29. 01, 79 (21) 2711301/18-25 с присоединением заявки J4 (23) Приоритет Опубликовано 15,11.82, Бюллетень № 42 Дата опубликования описания 15, 11, 82 (5i)M. Кл. G 01 М 23/223 3ЬсударетиаииыИ кемитит СССР А0 двлам...

974230

Электронный микроскоп

Электронный микроскоп

  1. ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП) сооержапфгй niedctpoi9 коялрну каркас и среаства амортизации и демпфцровадвя колебаний, отличающийся тем, что, с целью уменьшения габаритов и веса, электрондо-оптическая KojjoHaa аа1феплена в гор онтальном положении в средствах амортизации, которые вьшсшнены в ввде, по крайней мере, одной кольпевой пружшш , зажатой через прокладки из демпфиропсяцего мате...

1023445

Способ определения отклонения угла ориентации кристаллографических плоскостей от заданного угла относительно поверхности среза кристалла (его варианты)

Способ определения отклонения угла ориентации кристаллографических плоскостей от заданного угла относительно поверхности среза кристалла (его варианты)

  1. Способ определения отклонения угла ориентации кристаллографн-г ческих плоскостей от заданного угла относительно поверхности среза кристалла, включающий облучение поверхности среза исследуемого кристалла пучком рентгеновских лучей и регистрацию отраженных от него лучей с помощью детектора, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности и точности определения отклонения...

1052956


Рентгеновская трубка для спектрального анализа

Рентгеновская трубка для спектрального анализа

  РЕНТГЕНОВСКАЯ ТРУБКА ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА, содержащая вакуумную оболочку, катод, фокусирующее устройство и анод - выпускное окно, отличающаяся тем, что, с целью расширения диапазона возбуждаемых элементов при сохранении контрастности спектра, анод трубки выполнен из титаловой фольги толщиной J , которая выбирается из условия d 0,6-0,9 R(EQ) где R(EQ) - массовый пробег электр...

1117733

Устройство для рентгеновской топографии монокристаллов

Устройство для рентгеновской топографии монокристаллов

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОВС- КОЙ ТОПОГРАФИИ МОНОКРИСТАЛЛОВ, содер .жащее микрофокусный источник рентгеновского излучения, держатель исследуемого монокристалла со средством его перемещения в брэгговском направлении и регистратор излучения, отличающееся тем, что, с целью улучшения пространственного разрешения топографического изображения, в качестве регистратора излучения использован...

1132205

Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов на отражение

Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов на отражение

  СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ДИФРАКЦИОННЫХ ТОПОГРАММ МОНОКРИСТАЛЛОВ НА ОТРАЖЕНИЕ, включающий облучение исследуемого кристалла расходящимся пучком немонохроматизированного рентгеновского излучения микрофокусного источника, сканирование монокристалла при такой его ориентации , что отражающие плоскости при сканировании остаются параллельными плоскости регистрации и регистрацию диф...

1138717

Рентгеновский дифрактометр по схеме гинье для исследования поликристаллических материалов

Рентгеновский дифрактометр по схеме гинье для исследования поликристаллических материалов

  Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу, а точнее к дифрактометрам по с.хеме Гинье, и может быть использовано для экспрессного анализа поликристаллических образцов. Изобретение позволяет упростить конструкцию дифрактометра, заменив сложное взаимное перемещение образца и детектора в ходе сбора дифрактометрических данных простым перемещением образца и детектора вокруг...

1245966

Устройство для исследования объектов с помощью рентгеновского излучения

Устройство для исследования объектов с помощью рентгеновского излучения

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ РЕСПУБЛИК,.SU„„1278692 А 1 (59 4 G О1 N 23/04 G 21 К 7/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ. 3 ! К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 2754996/18-25 (22) 23.04. 79 (46) 23. 12.86. Бюл, Р 47 (72) Ю.Б.Глушанок, В.А.Гущин, Н.И.Комяк, В.Г.Лютцау и В.П.Ефанов (53) 621 ° 386 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР 9 36881...

1278692


Способ изготовления деталей

Способ изготовления деталей

  Изобретение относится к машиностроению Целью изобретения является повышение тчесгвз деталей за счет обеспечения криостабилизации детали и инструмента Перед механической обработкой деталь и инструмент предварительно захолаживают до температуры сжиженного газа 2 ил дФ % 1"." I ф() j?3j П К . 1 C )111 I C V. È X СCi11И ". 1111 11! II i "ЫX 1 Г СПУ1. Л" v ) I ll)i Б 23 В 1/00...

1759562