Способ дифракционной микрорентгено-графии монокристаллов

Способ дифракционной микрорентгено-графии монокристаллов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

«»817552

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (&1) Дополнительное к авт. саид-ву 9 720349

720350 (22) Заавлено 2609.78 (21) 2664801/18-25 (53)М К, 3. с присоединением заявки Ио (23) Приоритет—

G 01 N 23/20

Государствеимый комитет

СССР по делан изобретений и открытий (53) УДК 548. 73 (088.8) Опубликовано 3003.81. Бюллетень N9 12

Дата опубликования описания 300 381 . (72) Авторы изобретения

П.A.Áåýèðãàíÿí и Г.P.Äðìåÿí

13.,"; "

БИБЛ1т "; у,4 (73) Заявитель

Ереванский государственный университет (54) СПОСОБ ДИФРАКЦИОННОЙ МИКРОРЕНТГЕНОГРАФИИ

M0H0KPHCTAJI JIO8

Изобретение относится к ренггеноструктурному анализу.

По основному авт. св. 9 720349, 720350 известен способ цифракционной микрорентгенографии монокристаллов, 5 заключающий в том, что дифрагированный исследуемым монокристаллом пучок пропускают через установленный в отражающее положение совершенный монокристалл, толщину которого выбирают lp из условий нормального прохождейия рентгеновского излучения (1) .

Этот способ обеспечивает увеличение дифракционных картин, но в некоторых случаях получаемое разрешение недостаточно для выявления тонких деталей структуры.

Цель изобретения — повышение разрешения получаемой дифракционной 20 картины.

Поставленная цель достигается тем, что осуществляют сканирование исследуемого кристалла рентгеновским пучком и синхронное перемещенйе средств 25 регистрации, причем отношение скорости сканирования исследуемого кристалла к скорости перемещения средств регистрации выбирают равным отношению ширины .падающего на совершенный мо- 30

2 нокристалл пучка к ширине выходящего из указанного кристалла пучка .

При этом в одном варианте сканирование исследуемого кристалла осуществляют путем перемещения щели, установленной между этим кристаллом н

i совершенным монокристаллом на пути дифрагированного пучка.

В другом варианте сканирование исследуемого кристалла .осуществляют путем его перемещения относительно первичного пучка.

На фиг. 1 представлена схема увеличения интерференционных картин с движущейся щелью; на фиг. 2 — схема получения рентгеновских топограмм.

Первичный рентгеновский пучок 1 падает под углом Вульфа-Брегга на интерференционную систему из тонких монокристаллов 2. Дифрагированный пучок 3 падает на совершенный .монокристалл 4, толщина которого выбрана из условия нормального прохождения рентгеновского излучения и который установлен в. отражающее положение. На пути пучка 3 установлена щель 5. Прошедший через совершенный монокристалл 4 пучок регистрируется на фотопленке 6. При этом производят синхронное перемещение щели 5 и

817552 талла пучка . тличаюнирование ис-. уществляют установленной совершенным дифрагировантличаюнирование исуществляют пуосительно мацки, и экспертизе льство СССР явке

01 N 23/20, Формула изобретения аэ 1321/57

Подписное

ВНИИПИ За

Тираж 907

Патент", .Проектная,4

Филиал ППП

r.Óæãoðoä,ó фотопленки 6 в соответствии с отношением.

% 8щ

Ss где Чщ — скорость щели, Ч вЂ” скорость фотопленки, 3

S — ширина щели, Я вЂ” основание треугольника Bopp

Б мана или ширина пучка, выходящего из совершенного монокристалла 4. 16

При получении топограмм (фиг. 2) осуществляют синхронное перемещение исследуемого кристалла 7 и фотопленки 6.

Предлагаемый способ обеспечивает увеличение дифракционных картин примерно на три порядка ло сравнению с обычными методами и примерно на порядок по сравнению с известным способом.

2О

Изобретение может применяться в таких областях физических исследований, как рентгенография микродефектов, рентгеновская спектроскопия, рентгеновская интерферометрия, прецизионный рентгеноструктурный анализ и т.д.

1. Способ дифракционной микрорент- 39 генографии манокристаллов по авт. св.

Р 720349, 720350, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повышения разрешения получаемой дифракционной картины, осуществляют сканирование исследуемого кристалла рентгеновским пучком и синхронное перемещение средств регистрации, причем отношение скорости сканирования исследуемого кристалла к скорости перемещения средств регистрации выбирают равным отношению ширины падающего на совершенный монокристалл пучка к ширине выходящего иэ укаЙанного крис-

2. Способ по п. 1,,щи и с я тем, что ск следуемого кристалла о путем перемещения щели .между этим кристаллом монокристаллом на пути ного пучка.

3. Способ по и, 1,. шийся тем, что ск следуемого кристалла о тем его перемещения от первичного пучка.

Источники инфо ,принятые во внимание п

1. Авторское свидет

9 720349, 720350, по з

9 2624500/18-25, кл. G

1978 (прототип),