БЕЗИРГАНЯН ПЕТРОС АКОПОВИЧ
Изобретатель БЕЗИРГАНЯН ПЕТРОС АКОПОВИЧ является автором следующих патентов:
Установка для рентгеновской топографии монокристаллов
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 11,0875 (21) 2161522/18-25 с присоединением заявки №(23) Приоритет (5I) М. Кл. (01 М 23/04 //С 03 В 1/16 Теердеретеевеыр ееаетет 5IIITI МенеетРее 660 ее IIII ееееретееее I етерктее (43) Опубликовано 150678.Бюллетень № 22 (бЗ) УДК 621. 386 (088.8) (45) Дата опубликования описания...
611142Рентгеновская трубка
Ссчоз Советских Сстцмапистмческм Республик (! p,621038 К АВТОРСКОМУ СВИДИТВЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил.ву (22) Заявлено 11.04.77 (2!) 2475485!18-25 с прнсоедннениеьт заявки Ит (23) Приоритет— (43) Опубликовано 25 08,78, Бюллетень №31 (45) Дата опубликования описания;14,0778 2 (о!) М, Кл Н 91 7 35/10 6 01 и 2320 1 ссударстаанный камнтет .Соввта Мнннстроа СССР аа...
621038Монохроматор рентгеновского излучения
7145О6 Союз Советских Социалистических Респубпик т! -!-,1,;,. .,"p / (53)M. Кл. I (61) Дополнительное к авт. свид-ву () Заявлено 26.10.77 (2l ) 2534050/) 825 6 21 К 1/06 с присоединением заявки М Геаудеретееиньй иемитет СССР ао делам нзобретений и еткрмтий (23) Приоритет (5Ç) УДК 548. .732:621. .386 (088.8) Опубликовано 05,02.80Льюллетень Ж 5 Дата опубликования описания 05...
714506Способ дифракционной микрорентгенографии
Союз Советскнх Соцнапмсткческих Республик (ii)720349 (6l ) Дополнительное к авт. свнд-ву (5! )М. Кд. G 01 и 23/20 (22) Заявлено 22.06.78 (21) 2624500/18 — 25 с присоединением заявки РЙ Гвоударстоеииый комитет СССР (23) Приоритет по делам изоаретеиий и открытий Опубликовано 05.03.80. Бюллетень ¹ Дата опубликования описания 05.03.80 (53) УД 1(548.73 (088.8) (72) Авторы изо...
720349Рентгеновский интерферометр
Союз Советских Социалистических Республик (i i 72 () 350 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (5i ) M. Кд, 6 01 N 23/20 (22) Заявлено 22.06.78 (21) 2624500/18 — 25 с присоединением заявки РЙ (23 } П риоритет Гоаударстввииый комитет во делам иэобретеиий и открытий Опубликовано 05.03.80. Бюллетень .% " (53) УДК548.73 (088.8) Дата опубликования описания 05.03.80 (72) Автори изо...
720350Фокусирующий монохроматор рентгеновского излучения
Оп ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеСпУбЛИК (n) 737992 (61) Дополнительное к авт. свмд-ву (5 )М. Кл. (22)Заявлено 151277 (21) 2550498/18-25 с присоединением заявки М G 21 К 1/06 Государственный комитет СССР оо деяам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 300580. Бюллетень М 20 (53) УДК 535. 853. ° 4(088.8) Дата опуб...
737992Способ исследования многоволно-вого рассеяния рентгеновских лучейна монокристалле
(i i) S I I I 22 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04.04.79 (21) 2741289/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 07.03.81. Бюллетень № 9 (45) Дата опубликования описания 07.03.81 (51) М. Кл. G 01N 23/20 Государственный комитет (53) УДК 548.73 (08...
811122Способ дифракционной микрорентгено-графии монокристаллов
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик «»817552 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (&1) Дополнительное к авт. саид-ву 9 720349 720350 (22) Заавлено 2609.78 (21) 2664801/18-25 (53)М К, 3. с присоединением заявки Ио (23) Приоритет— G 01 N 23/20 Государствеимый комитет СССР по делан изобретений и открытий (53) УДК 548. 73 (088.8) Опубликовано 3003.81. Бюллетень...
817552Способ рентгеновской интерферометрии
Союз Севатакик Сециаянатнчеаккк Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ и АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ »> 866461 (61) Дополнительное к авт. санд-ву— (22) Заявлено 20.1 1,79 (21) 2841104/18-25 с нрисоеднненнем заявки М (23 }11риоритет (51)М. Кл. С 01 И 23/20 9вударвтвви«ьй кекитвт C.CC Р Вв Фалам «эавретв««« и етврытия Опубликовано 23,09.81. Бюллетень М 35 Ъ Дата ояублнковання описа...
866461Устройство для изгиба образцов монокристаллических пластин
900166 ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 19.02.80 (21) 2885119/25-26 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл.э G 01 N I/28 Гоеударственнык комитет Опубликовано 23.01.82. Бюллетень №3 Дата опубликования описания 28.01.82 (53) УДК 543.053 (088.8) I...
900166Способ определения однородности изгиба по высоте монокристаллических пластин
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз . Соватскмк Соцквямс f кмвскмк Рвсяубямк 935758 (61) Дополнительное к ввт. свнд-ву(22) Заявлено 21 10,80 {21) 29Ц5361/18" 25 с «рмсоелмненмем заявки М 1 (23) Приоритет .Ояублмковвмо 15.06.82. Бюллетень М22 Дата ояублмкованмя описания 15 . 06. 82 (5l)N. Кл. G 0l М 23/20 ВиудврствснвыЯ «еквтвт ссер N Аюльи 13вбрвтююк Я...
935758Способ исследования структурного совершенства пьезоэлектрических монокристаллов
Ь П И С А Н И Е (935759 ИЗЬВРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ. Союз Советскик Сецналнстическик Реслублнк (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву(51)И. Кй, (22) Заявлено 08. 10. 80 (2 I ) 2989163/18-25 С 01 И 23/205 с присоединением заявки М Р ударстршшый квинтет СССР . ае аман кзебретеккй к еткрыткй (23) Приоритет Опубликовано 15.06.82.. Бюллетень М 22 ($3) ggg 548 ° 73 (088...
935759Способ рентгеновской топографии пьезоэлектрических кристаллов
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 19.01.81 (21) 3235561/18-25 Р )М К з G 01 N 23/20 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытий (53) УДК 548. 73 (088.8) Опубликовано 15,08.82.Бюллетень ¹ 30 Дата опубликования оп...
951129Способ исследования структурного совершенства монокристаллов
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 21. 0.80(21) 3006667/18-25 с присоединением заявки ¹Союз Советских Социалистических Республик (ii)95707? 15т) М Кп з G 01 N 23/20 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 0709,82. Бюллетень Мо 33 15З1 УДК 548. 73 (088. 8) Д...
957077Способ исследования структурного совершенства монокристаллов
СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН 549 А (3% g g G 01 N 23/20 3",. «ч «!:;, ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н ABTOPCHOAOf СВИДЕП":ЛЬСТЕЦУ! «3 ° « «« ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЭОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21 ) 3375500/18-25 (22 ) 28,12,81 (46) 15.08.83. Бюл. М 30 f72 ) П. А. Безирганян и Г,Г,Аветисян (71) Ереванский ордена Трудового .Красного Знамени государственный...
1035489Способ исследования плотности материалов
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ПЛОТНОСТИ МАТЕРИАЛОВ, основанный на пропускании рентгеновского излучения через образец и регистрации прошедшего через образец излучения, о т личающийс я тем, что, с целью повышения чувствительности к неоднородностям распределения плотности , образец размещают в зазоре рентгеновского двублочного монокристаллического интерферометра с расстоянием между блоками, м...
1078296Способ получения линейно поляризованного рентгеновского излучения
1. СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ЛИНЕЙНО .ЛОЛЯРИЗОВАННОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ , основанный на дифракции первичного рентгеновского пучка на кристалле -монохроматоре, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью повышения интенсивности и степени поляризации излучения, производят пространственную Селекцию дифрагированного излучения в угловом диапазоне между углами полного отражения компоненты...
1100641Рентгеноинтерферометрический способ определения искажений атомной решетки монокристалла
, SU„„111750 СОЮЗ СОВЕТСНИХ COUNI РЕСПУБЛИН g G0I К 2320 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОсудАРстВенный Комитет сссР r1O ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИй (21) 35955 15/!8-25 (22) 25.05.83 (46) 07.10.84. Бюл. 937 (72) П.А. Безирганян и В.Г.Асланян (71) Ордена Трудового Красного Знамени ереванский государственный университет (53) 548.73 (088.8) (56) 1. Bonse U.,Ha...
1117503Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты)
1. Рентгенографический способ исследования совершенства монокристаллов , по которому лентообразный пучок рентгеновского излучения направляют на неподвижный исследуемый монокристалл и регистрируют за ним секцион- v ную дифракционную картину, о г л ич ающий ся тем, что, с целью расширения информативности исследования , в качестве исследуемого монокристалла используют ступенчатый мо...
1133520Рентгеновский спектрометр
Изобретение относится к рентгеновской спектроскопии и может быть использовано для исследования тонкой структуры рентгеновских спектральных линий. Спектрометр содержит входную и выходную щели, расположенные на фокусирующей окружности, и покачивающийся кристалл-анализатор 3 для получения разновременной фокусировки . Кристалл-анализатор выполнен в виде монокристального блока с проре...
1226211Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах
Изобретение относится к рентгенографическим способам исследования полимерных веществ. Цель - новыщение чувствительности и экспрессности способа. Используют рентгеновский трехблочный интерферометр для исследования надмолекулярной структуры полимеров. Между зеркальным и анализирующим блоками интерферометра размещают распятую пленку полимера в двух положениях, при которых ось ее рас...
1413493Способ определения параметров решетки поликристаллических материалов
Изобретение относится к способам исследования поликристаллических ма териалов дифракционными методами. Цель - повышение точности определения параметров кристаллической решетки при высокой экспрессности способа. Исследуемый поликристаллический образец облучают непрерывном спектром рентгеновского синхротронного излучения , на пути первичного или дифрагированного пучка устанавливают...
1436036Рентгенографический способ исследования структурного совершенства сверхрешеток
Изобретение относится к рентгенографической диагностике структурного совершенства кристаллов и предназначено для исследования структурного совершенства сверхрешеток. Цель изобретения - послойное исследование качества структуры. Снимают кривую отражения сверхрешетки для симметричной геометрии дифракции, состоящую из системы сателлитных пиков. Из данных полученной кривой рассчитываю...
1543313Способ рентгеновской топографии кристаллов
Изобретение относится к рентгенотопографическим исследованиям несовершенств кристаллов и может быть использовано для исследований структурных искажений почти совершенных кристаллов. Целью изобретения является повышение информативности за счет одновременного наблюдения эффектов маятникового решения и аномального прохождения. Это достигается приданием исследуемому кристаллу клиновид...
1562804Рентгеноинтерферометрический способ исследования кристаллов
Изобретение относится к области рентгенографических исследований несовершенств кристаллов, в частности для исследования полей деформаций в кристаллах, вызванных несовершенством их структуры. Целью изобретения является повышение информативности исследований пространственной ориентации и объемного распределения полей деформации в кристаллах, имеющих ось симметрии четвертого порядка....
1673933