PatentDB.ru — поиск по патентным документам

БЕЗИРГАНЯН ПЕТРОС АКОПОВИЧ

Изобретатель БЕЗИРГАНЯН ПЕТРОС АКОПОВИЧ является автором следующих патентов:

Установка для рентгеновской топографии монокристаллов

Установка для рентгеновской топографии монокристаллов

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 11,0875 (21) 2161522/18-25 с присоединением заявки №(23) Приоритет (5I) М. Кл. (01 М 23/04 //С 03 В 1/16 Теердеретеевеыр ееаетет 5IIITI МенеетРее 660 ее IIII ееееретееее I етерктее (43) Опубликовано 150678.Бюллетень № 22 (бЗ) УДК 621. 386 (088.8) (45) Дата опубликования описания...

611142

Рентгеновская трубка

Рентгеновская трубка

  Ссчоз Советских Сстцмапистмческм Республик (! p,621038 К АВТОРСКОМУ СВИДИТВЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил.ву (22) Заявлено 11.04.77 (2!) 2475485!18-25 с прнсоедннениеьт заявки Ит (23) Приоритет— (43) Опубликовано 25 08,78, Бюллетень №31 (45) Дата опубликования описания;14,0778 2 (о!) М, Кл Н 91 7 35/10 6 01 и 2320 1 ссударстаанный камнтет .Соввта Мнннстроа СССР аа...

621038

Монохроматор рентгеновского излучения

Монохроматор рентгеновского излучения

  7145О6 Союз Советских Социалистических Респубпик т! -!-,1,;,. .,"p / (53)M. Кл. I (61) Дополнительное к авт. свид-ву () Заявлено 26.10.77 (2l ) 2534050/) 825 6 21 К 1/06 с присоединением заявки М Геаудеретееиньй иемитет СССР ао делам нзобретений и еткрмтий (23) Приоритет (5Ç) УДК 548. .732:621. .386 (088.8) Опубликовано 05,02.80Льюллетень Ж 5 Дата опубликования описания 05...

714506

Способ дифракционной микрорентгенографии

Способ дифракционной микрорентгенографии

  Союз Советскнх Соцнапмсткческих Республик (ii)720349 (6l ) Дополнительное к авт. свнд-ву (5! )М. Кд. G 01 и 23/20 (22) Заявлено 22.06.78 (21) 2624500/18 — 25 с присоединением заявки РЙ Гвоударстоеииый комитет СССР (23) Приоритет по делам изоаретеиий и открытий Опубликовано 05.03.80. Бюллетень ¹ Дата опубликования описания 05.03.80 (53) УД 1(548.73 (088.8) (72) Авторы изо...

720349

Рентгеновский интерферометр

Рентгеновский интерферометр

  Союз Советских Социалистических Республик (i i 72 () 350 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (5i ) M. Кд, 6 01 N 23/20 (22) Заявлено 22.06.78 (21) 2624500/18 — 25 с присоединением заявки РЙ (23 } П риоритет Гоаударстввииый комитет во делам иэобретеиий и открытий Опубликовано 05.03.80. Бюллетень .% " (53) УДК548.73 (088.8) Дата опубликования описания 05.03.80 (72) Автори изо...

720350


Фокусирующий монохроматор рентгеновского излучения

Фокусирующий монохроматор рентгеновского излучения

  Оп ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеСпУбЛИК (n) 737992 (61) Дополнительное к авт. свмд-ву (5 )М. Кл. (22)Заявлено 151277 (21) 2550498/18-25 с присоединением заявки М G 21 К 1/06 Государственный комитет СССР оо деяам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 300580. Бюллетень М 20 (53) УДК 535. 853. ° 4(088.8) Дата опуб...

737992

Способ исследования многоволно-вого рассеяния рентгеновских лучейна монокристалле

Способ исследования многоволно-вого рассеяния рентгеновских лучейна монокристалле

  (i i) S I I I 22 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04.04.79 (21) 2741289/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 07.03.81. Бюллетень № 9 (45) Дата опубликования описания 07.03.81 (51) М. Кл. G 01N 23/20 Государственный комитет (53) УДК 548.73 (08...

811122

Способ дифракционной микрорентгено-графии монокристаллов

Способ дифракционной микрорентгено-графии монокристаллов

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик «»817552 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (&1) Дополнительное к авт. саид-ву 9 720349 720350 (22) Заавлено 2609.78 (21) 2664801/18-25 (53)М К, 3. с присоединением заявки Ио (23) Приоритет— G 01 N 23/20 Государствеимый комитет СССР по делан изобретений и открытий (53) УДК 548. 73 (088.8) Опубликовано 3003.81. Бюллетень...

817552

Способ рентгеновской интерферометрии

Способ рентгеновской интерферометрии

  Союз Севатакик Сециаянатнчеаккк Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ и АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ »> 866461 (61) Дополнительное к авт. санд-ву— (22) Заявлено 20.1 1,79 (21) 2841104/18-25 с нрисоеднненнем заявки М (23 }11риоритет (51)М. Кл. С 01 И 23/20 9вударвтвви«ьй кекитвт C.CC Р Вв Фалам «эавретв««« и етврытия Опубликовано 23,09.81. Бюллетень М 35 Ъ Дата ояублнковання описа...

866461

Устройство для изгиба образцов монокристаллических пластин

Устройство для изгиба образцов монокристаллических пластин

  900166 ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 19.02.80 (21) 2885119/25-26 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл.э G 01 N I/28 Гоеударственнык комитет Опубликовано 23.01.82. Бюллетень №3 Дата опубликования описания 28.01.82 (53) УДК 543.053 (088.8) I...

900166


Способ определения однородности изгиба по высоте монокристаллических пластин

Способ определения однородности изгиба по высоте монокристаллических пластин

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз . Соватскмк Соцквямс f кмвскмк Рвсяубямк 935758 (61) Дополнительное к ввт. свнд-ву(22) Заявлено 21 10,80 {21) 29Ц5361/18" 25 с «рмсоелмненмем заявки М 1 (23) Приоритет .Ояублмковвмо 15.06.82. Бюллетень М22 Дата ояублмкованмя описания 15 . 06. 82 (5l)N. Кл. G 0l М 23/20 ВиудврствснвыЯ «еквтвт ссер N Аюльи 13вбрвтююк Я...

935758

Способ исследования структурного совершенства пьезоэлектрических монокристаллов

Способ исследования структурного совершенства пьезоэлектрических монокристаллов

  Ь П И С А Н И Е (935759 ИЗЬВРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ. Союз Советскик Сецналнстическик Реслублнк (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву(51)И. Кй, (22) Заявлено 08. 10. 80 (2 I ) 2989163/18-25 С 01 И 23/205 с присоединением заявки М Р ударстршшый квинтет СССР . ае аман кзебретеккй к еткрыткй (23) Приоритет Опубликовано 15.06.82.. Бюллетень М 22 ($3) ggg 548 ° 73 (088...

935759

Способ рентгеновской топографии пьезоэлектрических кристаллов

Способ рентгеновской топографии пьезоэлектрических кристаллов

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 19.01.81 (21) 3235561/18-25 Р )М К з G 01 N 23/20 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытий (53) УДК 548. 73 (088.8) Опубликовано 15,08.82.Бюллетень ¹ 30 Дата опубликования оп...

951129

Способ исследования структурного совершенства монокристаллов

Способ исследования структурного совершенства монокристаллов

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 21. 0.80(21) 3006667/18-25 с присоединением заявки ¹Союз Советских Социалистических Республик (ii)95707? 15т) М Кп з G 01 N 23/20 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 0709,82. Бюллетень Мо 33 15З1 УДК 548. 73 (088. 8) Д...

957077

Способ исследования структурного совершенства монокристаллов

Способ исследования структурного совершенства монокристаллов

  СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН 549 А (3% g g G 01 N 23/20 3",. «ч «!:;, ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н ABTOPCHOAOf СВИДЕП":ЛЬСТЕЦУ! «3 ° « «« ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЭОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21 ) 3375500/18-25 (22 ) 28,12,81 (46) 15.08.83. Бюл. М 30 f72 ) П. А. Безирганян и Г,Г,Аветисян (71) Ереванский ордена Трудового .Красного Знамени государственный...

1035489


Способ исследования плотности материалов

Способ исследования плотности материалов

  СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ПЛОТНОСТИ МАТЕРИАЛОВ, основанный на пропускании рентгеновского излучения через образец и регистрации прошедшего через образец излучения, о т личающийс я тем, что, с целью повышения чувствительности к неоднородностям распределения плотности , образец размещают в зазоре рентгеновского двублочного монокристаллического интерферометра с расстоянием между блоками, м...

1078296

Способ получения линейно поляризованного рентгеновского излучения

Способ получения линейно поляризованного рентгеновского излучения

  1. СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ЛИНЕЙНО .ЛОЛЯРИЗОВАННОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ , основанный на дифракции первичного рентгеновского пучка на кристалле -монохроматоре, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью повышения интенсивности и степени поляризации излучения, производят пространственную Селекцию дифрагированного излучения в угловом диапазоне между углами полного отражения компоненты...

1100641

Рентгеноинтерферометрический способ определения искажений атомной решетки монокристалла

Рентгеноинтерферометрический способ определения искажений атомной решетки монокристалла

  , SU„„111750 СОЮЗ СОВЕТСНИХ COUNI РЕСПУБЛИН g G0I К 2320 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОсудАРстВенный Комитет сссР r1O ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИй (21) 35955 15/!8-25 (22) 25.05.83 (46) 07.10.84. Бюл. 937 (72) П.А. Безирганян и В.Г.Асланян (71) Ордена Трудового Красного Знамени ереванский государственный университет (53) 548.73 (088.8) (56) 1. Bonse U.,Ha...

1117503

Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты)

Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты)

  1. Рентгенографический способ исследования совершенства монокристаллов , по которому лентообразный пучок рентгеновского излучения направляют на неподвижный исследуемый монокристалл и регистрируют за ним секцион- v ную дифракционную картину, о г л ич ающий ся тем, что, с целью расширения информативности исследования , в качестве исследуемого монокристалла используют ступенчатый мо...

1133520

Рентгеновский спектрометр

Рентгеновский спектрометр

  Изобретение относится к рентгеновской спектроскопии и может быть использовано для исследования тонкой структуры рентгеновских спектральных линий. Спектрометр содержит входную и выходную щели, расположенные на фокусирующей окружности, и покачивающийся кристалл-анализатор 3 для получения разновременной фокусировки . Кристалл-анализатор выполнен в виде монокристального блока с проре...

1226211


Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах

Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах

  Изобретение относится к рентгенографическим способам исследования полимерных веществ. Цель - новыщение чувствительности и экспрессности способа. Используют рентгеновский трехблочный интерферометр для исследования надмолекулярной структуры полимеров. Между зеркальным и анализирующим блоками интерферометра размещают распятую пленку полимера в двух положениях, при которых ось ее рас...

1413493

Способ определения параметров решетки поликристаллических материалов

Способ определения параметров решетки поликристаллических материалов

  Изобретение относится к способам исследования поликристаллических ма териалов дифракционными методами. Цель - повышение точности определения параметров кристаллической решетки при высокой экспрессности способа. Исследуемый поликристаллический образец облучают непрерывном спектром рентгеновского синхротронного излучения , на пути первичного или дифрагированного пучка устанавливают...

1436036

Рентгенографический способ исследования структурного совершенства сверхрешеток

Рентгенографический способ исследования структурного совершенства сверхрешеток

  Изобретение относится к рентгенографической диагностике структурного совершенства кристаллов и предназначено для исследования структурного совершенства сверхрешеток. Цель изобретения - послойное исследование качества структуры. Снимают кривую отражения сверхрешетки для симметричной геометрии дифракции, состоящую из системы сателлитных пиков. Из данных полученной кривой рассчитываю...

1543313

Способ рентгеновской топографии кристаллов

Способ рентгеновской топографии кристаллов

  Изобретение относится к рентгенотопографическим исследованиям несовершенств кристаллов и может быть использовано для исследований структурных искажений почти совершенных кристаллов. Целью изобретения является повышение информативности за счет одновременного наблюдения эффектов маятникового решения и аномального прохождения. Это достигается приданием исследуемому кристаллу клиновид...

1562804

Рентгеноинтерферометрический способ исследования кристаллов

Рентгеноинтерферометрический способ исследования кристаллов

  Изобретение относится к области рентгенографических исследований несовершенств кристаллов, в частности для исследования полей деформаций в кристаллах, вызванных несовершенством их структуры. Целью изобретения является повышение информативности исследований пространственной ориентации и объемного распределения полей деформации в кристаллах, имеющих ось симметрии четвертого порядка....

1673933