Устройство для исследования электронной структуры тонкопленочных материалов
Патент 843534
Авторы
Классы МПК
Устройство для исследования электронной структуры тонкопленочных материалов
Реферат
Устройство для исследования электронной структуры тонкопленочных материалов с помощью аннигиляции позитронов, содержащее радиоактивный источник позитронов, расположенный на подложке, и детекторы аннигиляционных гамма-квантов, отличающееся тем, что, с целью расширения области применения, устройство снабжено подложкой для установки образца, а подложка источника позитронов изготовлена в виде усеченного конуса, причем обе подложки выполнены из материала с атомным номером Zэфф 70.