ВАСИЧЕВ БОРИС НИКИТОВИЧ
Изобретатель ВАСИЧЕВ БОРИС НИКИТОВИЧ является автором следующих патентов:
![Микрозондовое устройство для анализа микрорельефа Микрозондовое устройство для анализа микрорельефа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c99a9c92b8726b7e83eab03079be63fa.jpg)
Микрозондовое устройство для анализа микрорельефа
fs ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Слйоз Советских Соееееелистических республик (») 557299 (61) Дополнительное .к авт. свнд-ву (22) Заявлено 23.02,76 (21) 2326583t25 с присоединением заявки № (513 М. Кл.е ф01 121/22 (23} Приоритет йеударатвенввй аематет Ъавта Мв треа ССу ав делам нзабретеай а юткрмтей (43) Опублнковано05.05.77.Бюллетень № 17 (45) Дата опу...
557299![Растровый электронный микроскоп Растровый электронный микроскоп](https://img.patentdb.ru/i/200x200/27b906ef26df244e84718643f33f28ef.jpg)
Растровый электронный микроскоп
СОюз СОВетбких Социалистичебкик Республик 1 ои7 1 4544 с %с 1;.:: /-", ;. .;, r (S1)e. Кл.2 (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 250577(23j 2489798/18-25 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 0 502.80. Бюллетень № Дата опубликования описания 08.0280 н 01 т 37/28 Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий (72) Авторы изобретени...
714544![Камера объектов для электронно-зондо-вого устройства Камера объектов для электронно-зондо-вого устройства](https://img.patentdb.ru/i/200x200/744ba9aa121a9f2d54ce65be0023fe36.jpg)
Камера объектов для электронно-зондо-вого устройства
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ. СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное и авт. саид;ву- (22) Заявлено 14.12. 77 (21) 2554677/18-25 (51)М. Кл, Н 01 37/20 С ПРИСОЕДИНЕНИЕМ ЗаЯВКИ Ио— (23) Приоритет— Государственный комитет С ССР по делам изобретений и открытий Опубликоваио150281. Ьюллетеиь Мо 6 (53) УДК 539 ° 25 (088.8) Дата опублико...
805445![Устройство для изготовления микрорисун-kob ha изделии Устройство для изготовления микрорисун-kob ha изделии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/31e172a85b7c4299eca2f583d7de9b00.jpg)
Устройство для изготовления микрорисун-kob ha изделии
Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ 851555 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— р )м. к. (22) Заявлено 05.10.79 (2! ) 2829615/18-21 с присоединением заявки М— (23) Приоритет— Опубликовано 300781 бюллетень йЯ 28 Дата опубликования описания 300781 Н 01 L 21/302 Государственный комитет СССР по делам изобретений и откр...
851555![Магнитная электронная линза Магнитная электронная линза](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e289b5dc80a2911e0b15322354f3c727.jpg)
Магнитная электронная линза
ОП ИСАНИЕ ИЗОВРЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Реслублик 995153 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 23.10.81 (21) 3350165/18-21 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл.з Н 01 J 37/14 CocyAapcteewbli кемнтет СССР Опубликовано 07.02.83. Бюллетень № 5 Дата опубликования описания 17.02.83 (53) УДК 621.385.....
995153![Способ литографии Способ литографии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a9816485b891432e59b24a9d99c1114b.jpg)
Способ литографии
СПСХ:ОВ ЛИТОГРАФИИ включающий нанесение на подложку чувствительного слоя кремнийорганического соединения методом вакуумного испарения , его экспонирование м вакуумное термическое проявление, о т л ичаюЕцййс я тем, что, с целью по вышеНИН качества получаемого изображения , нанесение чувствительного слоя проводят при температуре испарения 19О-200°С и при температуре подложк...
1045312![Коллектор вторичных электронов растрового электронного микроскопа Коллектор вторичных электронов растрового электронного микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7d82bc0af7549c7046641150d6882a05.jpg)
Коллектор вторичных электронов растрового электронного микроскопа
КОЛЛЕКТОР ВТОРИЧНЫХ ЭЛЕКТРОНОВ РАСТРОВОГО ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА, содержащий, экранированный сцинтиллятор с плоским входным окном, подключенный к блоку преобразоъаякя сигнала, отличающийся тем, что, с цепью повышения точности регистрации за счет увеличенир отношения сигнал-члум, он содержит дополнительный экранированный сцинтиллятор, при этом оба сцинтиллятора установлены симмет...
1056309![Автоэлектронный эмиттер с локализованной эмиссией Автоэлектронный эмиттер с локализованной эмиссией](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ccfc42d54dd07cfcf00050d28599c369.jpg)
Автоэлектронный эмиттер с локализованной эмиссией
АВТОЭЛЕКТРОННЫЙ ЭМИТТЕР С ЛОКАЛИЗОВАННОЙ ЭМИССИЕЙ, выполненный в виде острля из тугоплавкого металла с присадкой элемента, образующего на поверхности пленку с низкой работой вы.хода, отличающийся тем, что, с целью увеличения срока службы эмиттера и его электронной светимости, в качестве присадки острие содержит по крайней мере один из элементов, взятых пз группы литий, натрий , к...
1069029![Фокусирующе-отклоняющая система устройства для электронно- лучевой литографии Фокусирующе-отклоняющая система устройства для электронно- лучевой литографии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0732c66abe0e40cd72ff0e72a36fac43.jpg)
Фокусирующе-отклоняющая система устройства для электронно- лучевой литографии
ФОКУСИРУЩЕ-ОТКПОНЯЮЩАЯ СИСТЕМА УСТРОЙСТВА ДЛЯ ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВОЙ ЛИТОГРАФИИ, содержащая соосно установленные магнитную фокусирукщую линзу с внутренним каналом в виде набора чередующихся магнит.ных и не1 шгнитных колец, лучепровод и размещенную в канале линзы систему отклой:ения электронного пучка, о т л и чающаяся тем, что, с целью упрощения конструкции при уменьшении аберраций,...
1127023![Видеоконтрольное устройство для растрового электронного микроскопа Видеоконтрольное устройство для растрового электронного микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/65823f92590127114853d6df4497d052.jpg)
Видеоконтрольное устройство для растрового электронного микроскопа
ВВДЕОКОНТРОПЬНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАСТРОВОГО ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА , содержащее последовательно соеда1ненные детектор излучения, видеоусилитель , блок цветокодирования и цветную электронно-лучевую трубку, включающую модуляторы синего, зеленого и красного лучей, а также блок развертки, oтличaюв(eecJR тем, что, с целью повышения информативности при упрощении конструкции, блок цвето...
1127024![Коллекторная система растрового электронного микроскопа Коллекторная система растрового электронного микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/23e5405d4d3e72f5058055db945e645b.jpg)
Коллекторная система растрового электронного микроскопа
Изобретение относится к электронно-оптическому приборостроению. Цель - повышение точности электронномикроскопического аналиэа. Коллекторная система растрового электронного микроскопа содержит пару сцинтшшяторов (с) 1 и 2, пару электродов (э) 5 и 6, блок И преобразования сигналов , включающий электронный коммута- 1 тор 12, логическое устройство (У) 13, запоминающее У 14. Цель дост...
1275583![Устройство для создания пучка заряженных частиц с изменяемой формой сечения Устройство для создания пучка заряженных частиц с изменяемой формой сечения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7b0e2ea64ae736c2de680ad05cd76c17.jpg)
Устройство для создания пучка заряженных частиц с изменяемой формой сечения
Изобретение относится к электроннооптическим и ионно-оптическим устройствам с изменяемой формой сечения пучка и может быть использовано в установках электроннои ионно-лучевой литографии. Целью изобретения является повышение производительности устройства и уменьшение искажений формы пучка. Устройство содержит две фигурные диафрагмы и многоярусную систему отклонения пучка. Система...
1677734![Электронно-зондовое устройство Электронно-зондовое устройство](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7ba870c19f2110e444b7cd6eb99cfb24.jpg)
Электронно-зондовое устройство
Изобретение относится к электроннозондовой технике и может быть использовано для исследования слоистых материалов. Целью изобретения является повышение точности измерений и сокращение времени анализа при определении гетерограниц образца за счет уменьшения ошибок при измерении интенсивности аналитических линий вблизи этих границ. Устройство содержит составной корпус, включающий не...
1688303![Устройство для микроанализа образца Устройство для микроанализа образца](/img/empty.gif)
Устройство для микроанализа образца
Изобретение относится к устройствам для микроанализа образца, Целью изобретения является расширение диапазона изменении и точности микроанализа образца зи счет изменения в ходе эксперимента выхода вторичного излучения в двух или более противоположно-симметричных направлениях относительно точки возбуждения. Устройство содержит источник 1 излучения , камеру 2 объектов, состоящую из нитней...
1698915![Координатное устройство Координатное устройство](https://img.patentdb.ru/i/200x200/cb3b611fff326d9af73b5131709f6a2e.jpg)
Координатное устройство
Использование: в устройствах для формирования поворотных и возвратно-поступательных движений, в частности для перемещения изделий, подвергаемых бесконтактному методу обработки в контролируемых , агрессивных средах и вакууме в широком диапазоне температур. Приводы перемещения верхней платформы 10 во взаимно перпендикулярных направлениях в горизонтальной плоскости выполнены в виде...
1798175