PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЧЕРЕПИН ВАЛЕНТИН ТИХОНОВИЧ

Изобретатель ЧЕРЕПИН ВАЛЕНТИН ТИХОНОВИЧ является автором следующих патентов:

Препаратоводитель для электронного микроскопа

Препаратоводитель для электронного микроскопа

  QllNCAHHE ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик п (71) Заявитель (54) ПРЕПАРАТОВОДИТЕ,. 1Ь ДЛЯ ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА Изобретение о: .::: итси к предметным столиl ам для мик >cхопя. я именно к пух взаимно перпендикулярны. . о < в пелелах +40 (1}. Известен также препяратоволитель для сканирующего микроскопа, солержащий предметны...

686000

Ионно-эмиссионный микроскопмикроанализатор

Ионно-эмиссионный микроскопмикроанализатор

  ОПИСАН= ИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ oi>708437 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 131274 (21) 2083343/25 с присоединением заявки М (23) Приоритет (51)М. Кл. Н 01 У 39/40 Q 02 8 21/06 В 01 Д 59/44 Q 01 N 27/62 (53) УДК 621. 384 (088.8) Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий Опубликовано 0501.80 Б олдетень Ио 1 Дата опублико...

708437

Способ определения температуры кюри ферромагнитных образцов

Способ определения температуры кюри ферромагнитных образцов

  Союз Советскнк Соцналнстнческнк Республик о л721787 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 09.1177 (21) 2541480/18-21 (51)М. КЛ. G 01 R 33/12 с присоединением заявки ¹ Госупарственннй комитет СССР но аелам изобретений и открытий (23) Приоритет— (З) >4К е21. 317 ° 44 (088. 8) Опубликовано 150380. Бюллетень Йо 10 Дата опубликования описания 180380 (72} Авторы изо...

721787

Способ определения локализациипримеси b неоднородных сплавах

Способ определения локализациипримеси b неоднородных сплавах

  Союз Советскик Социалистических РЕс ублиК ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТ©УСКОВА С ВЯЛЬСТВУ {u>800865 (е1) Дополнительное к авт. саид-ву (22) ЗаявлЬно 30.03.79- (23) 2759248/18-25 с присоединением заявки Й9 (51)м. к.з С 01 И 27/62 В 01 О 59/44 Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытий (2З)приоритет Опубликовано 30,01,81. Бюллетень ИЯ 4 (53) УДК 6 21 . 384 (088....

800865

Квадрупольный масс-спектрометр

Квадрупольный масс-спектрометр

  Союз Советскии Социалистических Ресаублик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (63) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 11.03.79 (21) 2737182/18-25 (54)M Кл H 01 J 49/42 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет— Государственный комитет СССР flo делам изобретений и открытий Опубликовано 3001.81. Бюллетень ¹ 4 Дата опубликования описания 30- о1- 81 (53) У...

801140


Квадрупольный масс-спектрометр

Квадрупольный масс-спектрометр

  817800 Союз Советскик Социалистичаскик Феслублик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву— (22) Заявлено 0210.78 (21) 26 792 30/18-25 (51)М. Кл.з с присоединением заявки ¹â€” Н 01 3 49/42 G 01 N 27/62 В 01 0 59/44 (23) Приоритет— Государственный комитет СССР ио делан изобретений и открытий Опубликовано 300381. Бюллетень Р 12 (...

817800

Монопольный масс-анализатор

Монопольный масс-анализатор

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ВТЮЛЬСТВУ Союз Советских Социалистичвских Республик (6! ) Дополнительное к авт. свмд-ву(22) Заявлено 27.1178 (21) 2688903/18-25 с присоединением заявки М— (23) Приоритет— Опубликовано 300381. Бюллетень М 12 рцм. к,. H 01 J 49/42 G 01 и 27/62 В 01 0 54/44 Государствеииый комитет СССР Il0 делам июбретеиий и открытий (53) УДК 621.38...

817801

Устройство для разрушения образцовв вакууме

Устройство для разрушения образцовв вакууме

  О П И С А Н И Е (1842452 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскик Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заи влено 04. 01. 79(21) 2705591/25-26 с присоединением заявки Р1е (23 ) П рноритет . (5! )М. Кл. 6 01N 1/00 Гооударстеенный комитет СССР по делам изобретений и открытий Опубликовано 30.06.81. Бюллетень Рй 24 (53) УДК 543.053 (08...

842452

Источник постоянного напряжения с защитой от перегрузок

Источник постоянного напряжения с защитой от перегрузок

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскиз Социвлистичесмик Республик К йВТОР"СИОМУ СВ ИИЛЬСТВУ . {61) Дополнительное к авт. сеид-ву 9 648967 (22) Заявpepcj 010480 Р1) 2903223Д4-07 (51)М. Кл З с присоединением заявки Ио— (23) Приоритет— G 05 F 1/58 -Гвеуяврстьеииый комитет СССР вв аеаам изобретеиий к открытий Опубликоеано 2312В1. бюллетень N9 47 (53) УДК 621. 316., . 722. 1 (08...

892433

Высоковакуумный вентиль для шлюзования образцов

Высоковакуумный вентиль для шлюзования образцов

  ОП ИСАНИЕ ИЗЬБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик ()949269 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 10.12.80 (21) 3213637/25-08 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет— (51) Я. Кл.з F 16 К 3/08 Гоаударствевлый комитет СССР Опубликовано 07.08.82. Бюллетень № 29 (53) УДК62! .646 (088.8) по делам лзобретений и открыти...

949269


Стабилизированный источник постоянного напряжения

Стабилизированный источник постоянного напряжения

  Союз Советскмк Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву {22) Заявлено 03. 02. 81 (2! ) 3243132/24-07 с присоелинением заявки М (23 ) П ри ори тет Опубликовано 07. 09. 82. Бюллетень Рй 33 (51)М. Кл. 6 05 F I/46// H 02 М 7/217 Гооударстоенный комитет СССР но делам изобретений и открытий (53) УДК 62). 316. . 722. 1 (088. 8) Да...

957185

Энерго-массанализатор

Энерго-массанализатор

  Союз Советских Социалистических Республик КСАН И Е К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 27.02.81 (21) 3254083/18-21 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) M. Кл. Н 01 J 49/32 Н 01 J 49/44 Гееударствеилмк иемитет СССР (53) УДК 621.384 (088.8) Опубликовано 07.09.82. Бюллетень №ЗЗ Дата опубликования описания 17.09.82 ло...

957317

Способ преобразования и стабилизации переменного напряжения и устройство для его осуществления

Способ преобразования и стабилизации переменного напряжения и устройство для его осуществления

  ОП ИСАНИЕ „„е64ео4 ИЗОБРЕТЕКИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз- Советекнк Соцналнстнчеекна реслублнк (6I ) Дополнительное к авт. свнд-ву f22) Заявлено 15,08.80 (2I ) 2973629/24-07 (51)IN. Кл. Н 02 М 3/335 Н 02 P 13/16 . с присоединением заявки М 5 еудерстеекиьй кемнтет СССР ае делам кзобретекнк и епрмткй (23) Приоритет (5З) УДК 621.314, 57 (088.8) Опубликовано 07.10.82. Б...

964904

Способ определения относительного значения коэффициентов вторичной ионно-ионной эмиссии компонент-поверхности твердых тел

Способ определения относительного значения коэффициентов вторичной ионно-ионной эмиссии компонент-поверхности твердых тел

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТНОСИТЕЛБНОГО ЗНАЧЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ВТОРИЧНОЙ ИОННО-ИОННОЙ эмиссии КОМПОНЕНТ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДБ1Х ТЕЛ, заключающийся в проведении ионного легирования твердого тела, распылении его первичным пучком ионов и масс-анализе возникающих при этом токов вторичных ионов исследуемых и легированной компонент и вычисления отнощений первых .к второму при постоянном значени...

1078502

Сверхвысоковакуумный клапан

Сверхвысоковакуумный клапан

  СВЕРХВЫСОКОВАКУУ.М1-1!оИ1 КЛАП.АН, содержащий корпус, в к{)т()[)ом установлена с воз.можностью переменим!}!?! в направляюш.и.х онорная рама с размемкм!- ным на ней запорным органом, ме.ха1-:изм его перемещения перпендикулярно оси iipo.xo;;-iioi'o отверстия, \i:op, центрирующий запорный орган от110с!;те,'|Ь!н) проходного отверстия, и. привод, от.1и';аю!цпися тем, что, с iUMbio повы...

1079812


Способ идентификации пиков химических соединений элементов в масс-спектрометрии вторичной ионной эмиссии

Способ идентификации пиков химических соединений элементов в масс-спектрометрии вторичной ионной эмиссии

  СПОСОБ ИДЕНТИФИКАЦИИ ПИКОВ ХИМИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ ЭЛЕМЕНТОВ В МАСС-СПЕКТРОМЕТРИИ ВТОРИЧНОЙ ИОННОЙ ЭМИССИИ, при котором поверхность образца облучают пучком первичных ионов и регистрируют масс-спекТры вторичных ионов, отличающийс я тем, что, с целью повышения точности и упрощения анализа, в несколько одинаковых образцов вводят различные заданные количества исследуемого элемента, пос...

1100656

Устройство для перемещения объектов в рабочую зону

Устройство для перемещения объектов в рабочую зону

  1, УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПЕРЕМЕЩЕ ОБЪЕКТОВ В РАБОЧУЮ ЗОНУ, содержащее основание и транспортную платформу со схватом, имеющим двуплечие рычаги, отличающеес я тем, что, с целью расширения технологических возможностей, оно снабжено смонтированными на основании упорами, обоймой с фиксатором, а также установленным в рабочей зоне дополнительным захватом, выпол ненным в виде корпуса с размещен...

1122503

Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел

Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел

  СПОСОБ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО ПОСЛОЙНОГО АНАЛИЗА ТВЕРДЫХ ТЕЛ, включаюпщй воздействие на объект пучком первичных ионов, разделе ние и последующую регистрацию вторичных ионов, отличающийс я тем, что, с целью повышения послойного разрешения без снижения концентрационной чувствительности или локальности анализа, воздействие на объект осуществляют пучком ионов I водорода (протонами...

1138855

Высокотемпературный рентгеновский дифрактометр

Высокотемпературный рентгеновский дифрактометр

  ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ ЛИФРАКТОМЕТР, содержащий источник рентгеновских лучей, детектор , систему щелей, формируюпщх пучки первичного и рассеянного излучений , гониометр с горизонтальной осью поворота источника рентгеновских лучей и детектора, высокотемК;С-Гя .;;-,.;. пературную вакуумную камеру с окнами , прозрачными для рентгеновского излучения, смонтированную на оси...

1151874

Способ определения коэффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца

Способ определения коэффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца

  Изобретение относится к массспектрометрии вторичных ионов. Цепь изобретения - повышение Точности и воспроизводимости измерений козффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца. Образец, например техническое железо, содержащее Clr, .V и Zrt , помещают в ваку- ,.умную камеру. Камеру откачивают до давления , и очищают поверхность образца ионным пучком с энергией 5 кэВ и то...

1211645


Способ количественного послойного анализа твердых веществ

Способ количественного послойного анализа твердых веществ

  Изобретение относится к массспектрометрии вторичных ионов и может быть использовано для элементного и фазового послойного анализа твердьк веществ. Цепь изобретения - повышение точности количественного послойного анализа, достигается благодаря тому, что твердое вещество бомбардируют и распыляют двумя пучками первичных ионов. При этом коэффициент распьшения одного пучка меньше един...

1224855

Способ масс-спектрометрического анализа твердых веществ

Способ масс-спектрометрического анализа твердых веществ

  Изобретение может быть использовано для элементного, изотопного и фазового анализа твердых веществ. Цель изобретения - повышение точности анализа. Образец, например чистую медь, бомбардируют в вакуумной камере пучком первичных ионов аргона с энергией 5 кэВ, получаемые вторичные ионы меди и ее примеси анализируют на масс-анализаторе. Кроме того, образец дополнительно: бомбардируют...

1226554

Способ послойного анализа твердых веществ

Способ послойного анализа твердых веществ

  Изобретение относится к области масс-спектрометрии вторичных ионов. Цель изобретения - повышение точности послойного анализа твердых веществ . Железо и кремний испаряли в вакуумной камере в присутствии кислорода давлением . Полученный многослойный образец с толщиной каждого слоя 200-50 атомных слоев бомбардировали первичными ионами Аг с энергией кэВ. Вторичные ионы Fe регистриров...

1257725

Способ анализа содержания компонентов твердых веществ

Способ анализа содержания компонентов твердых веществ

  Изобретение относится к массспектрометрии вторичных ионов. Может быть использовано для элементного и фазового анализа твердых ветцеств. Целью .изобретения является повьшение точности анализа. Способ предусматривает легирование твердого вещества (ТВ) известным количеством заданного элемента, бомбардировку его пучком первичных ионов, масс-анализ и регистрацию потоков вторичных ионо...

1262594

Энерго-массанализатор

Энерго-массанализатор

  Изобретение относится к физическому приборостроению, в частности к ;устройствам для анализа ионов и электронов и может быть использовано при анализе поверхностных слоев материала . Цель изобрете:1ия - увеличение чувствительности и расширение аналитических возможностей. Пучок частиц направляется на поверхность исследуемого образца 3. Угол отбора анализируемых частиц относительно п...

1265890