КИРЕЕВ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ

  Союз Советских Социалистических Республик (63) Дополнительное к авт.свид-ву (22) Заявлено 17.02.78 (21) 2582067/29-33 (5 t ) M. Кд. E 04 В 7/18 с присоединением заявки,%— Гевудервтвееиый ееиетет ссср ев делам кзебретенее и еткрытек (23) Приоритет Опубликовано 25.11.79. Бюллетень М43 Дата опубликования описания 28.11.79 (53) УДК69.024 .92(088.8) (72) Авторы изобретения В....

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик 777672,(61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 25.12.78 (21) 2702137/28-12 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл. G 09 В 25/00 Государственный комитет iCCCP но делам изобретений и открытий (43) Опубликовано 07.11.80. Бюллетень № 41 (53) УДК Л72.021. .23 (0...

  Союз Советскик Социалистических РЕс ублиК ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТ©УСКОВА С ВЯЛЬСТВУ {u>800865 (е1) Дополнительное к авт. саид-ву (22) ЗаявлЬно 30.03.79- (23) 2759248/18-25 с присоединением заявки Й9 (51)м. к.з С 01 И 27/62 В 01 О 59/44 Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытий (2З)приоритет Опубликовано 30,01,81. Бюллетень ИЯ 4 (53) УДК 6 21 . 384 (088....

  (i>i 898491 Союз Советскик Социалистическик Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву(22) Заявлено 1 9,05.80 (21) 2927009/29-33 с присоединением заявки М(23) Приоритет Опубликовано 1 5,01.82. Бюллетень Р6 2 Дата опубликования описания 15.01.62 (5! )М. Кл. G 09 В 25/04 ааоударетааяный комитат СССР яо долам «зобратаник к о...

  ОП ИСАНИЕ ИЗО6РЕТЕ Н ИЯ k АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Реслублик < >953132 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 04.09.80 (21) 2996535/29-33 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл. Е 04 В 7/18 Г1сударстееннмй немнтет (53) УДК 628.928 (088.8) Опубликовано 23.08.82. Бюллетень № 31 Дата опубликования описания 28.0...

  СПОСОБ ИДЕНТИФИКАЦИИ ПИКОВ ХИМИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ ЭЛЕМЕНТОВ В МАСС-СПЕКТРОМЕТРИИ ВТОРИЧНОЙ ИОННОЙ ЭМИССИИ, при котором поверхность образца облучают пучком первичных ионов и регистрируют масс-спекТры вторичных ионов, отличающийс я тем, что, с целью повышения точности и упрощения анализа, в несколько одинаковых образцов вводят различные заданные количества исследуемого элемента, пос...