ЮШИН ВАЛЕНТИН ДМИТРИЕВИЧ

  Сонэз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИ Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1,741123 (62 ) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 31.07.78 (22 ) 2652040/18 25 (5l)M. К;. G 01 М 23/205 с присоединением заявки.% Государственный комитет (23) Приоритет оо делам изобретений и открытий (5З ) УЙ К 548.734 (088.8) Опубликовано 15,06.80. Бюллетень Хе 22 Дата...

  O П И С А Н И Е ()851211 ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 12.07.79 (21) 2794771/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М.К . G 01 N 23/20 Гасударственные кемнтет СССР но делам нзвбретеннй н втхрмтнй Опубликовано 30.07.81. Бюллетень №28 Дата опубликовани...

  Союз Советскин Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ « 851212 г Ф 1В ив Ф > и. н (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 18.10.79 (21) 2827153/18 25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл. G 01 N 23/20 Государственный комитет по делам изобретен»» н открытий Опубликовано 30.07.81. Бюллетень №28 Дата о...

  (72) Авторы изобретения В. lL Юшин, О. К. Колеров, В. Г. Скрябин и А. Н. Логвинов Куйбышевский ордена Трудового Красного Знам институт им. акад. С. П. Королева (7!) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу попикрисгаплических тел, а именно к ренггеноструктурному исследованию поверхностных слоев и...

  Союз Советскмх Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ! )976358 \ 7 (В! ) Дополнительное к авт. саид-ву (22}Заявлено 22. 12 ° 80 (21) 3220548/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет Опубликовано 23. 11 ° 82 ° Бюллетень М 43 Дата опубликования описания 23 . 1 1. 82 (51)М. Кл. 6 01 и 23/20 Ркударствсниый какнтет СССР по делам изо...

  Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу массивных поликристаллических объектов, а именно к неразрушающему послойному исследованию объектов, собственная толщина которых намного превышает толщину анализируемого слоя, участвующего в создании дифракционной картины. С целью повьшения точности опр.еделения толщины анализируемого слоя перед изменениями определяют нулевое по...

  Изобретение позволяет повысить чувствительность рентгеноструктурного анализа поликристаллов благодаря улучшению фокусировки и повышению точности регистрации углов наклона и скольжения при исследовании поверхностных слоев массивных объектов . Рентгеновский луч-, пройдя диафрагмы , попадает на середину флуоресцентного экрана. После установки образца в держателе половина луча затеня...

  Изобретение относится к испытательной технике:, Цель изобретения - повышение точности при исследовании кинетики релаксации напряжений. Образец 16 устанавливают в захватах 21 и 22 и закрепляют шарниры 19 и 20 в крьшках 15 и 17. Затем соединяют цилиндры 13 и 14 таким образом, что образец 16 располагается коаксиально в корпусе 3, образованном цилиндрами 13 и 14. При помощи прижимов...

  Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для испытания образцов на релаксацию напряжений. Цепь изобретения - повышение точности при испытании кольцевых образцов с прорезью. Устройство содержит герметичный кор7 Z 5 пус 1, в котором установлены пассивный захват 3, связанный при помощи сильфона 5 с силовой тягой 4. Последняя через упругий элемент 6 свя...

  Изобретение относится к области научного приборостроения, конкретнее к средствам рентгенографического контроля материалов. Цель изобретения - повышение точности установки и регистра1 яи углов. Гониометр состоит из основания 1, на котором установлен И-образный корпус 2. В щеках корпуса напротив друг друга и соосно смонтированы шаговые двигатели 7, 8 с вра Т1аюг 1мися трансформатор...

  Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрической аппаратуре для анализа кристаллических веществ. Цель изобретения - обеспечение возможности структурного и фазового анализа слоев заданной толщины и повышение точности послойного структурного анализа. Для этого в дифрактометре используют двухъярусный поворотный держатель 4 образцов, один ярус 5 которого может прецизионно раз...

  Изобретение относится к анализу газов в металлах и позволяет повысить точность раздельного определения газосодержания в порах и в твердом растворе металла, а также коэффициента диффузии и коэффициента поверхностного обмена газа с металлом при различных температурах. Сущность изобретения состоит в том, что корпус загрузочного устройства выполнен крестообразным с размещенной в верхн...

  Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для определения механических свойств изделий и полуфабрикатов из однонаправленных волокнистых композиционных материалов. Цель изобретения - повышение точности определения свойств композиционных материалов. Используют плоские образцы для испытания на растяжение , изготовленные из изделий или полуфабрикатов, Ме...

  Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для испытаний на релаксацию напряжений при изгибе. Цель изобретения - повышение точности испытания образцов из алюминиевых сплавов при повышенных температурах. Образец выполнен в виде кольца с прорезью , содержащего рабочую часть в виде балки равного сопротивления изгибу длиной , равной не менее половины длин...

  Изобретение относится к технике испытаний , а именно к способам определения механических характеристик металлов и сплавов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей способа путем определения помимо прочностных характеристик также концентрации газа в сплаве. Способ исключает растяжение образцов с записью диаграммы нагрузка - абсолютное удлинение и обработку...