PatentDB.ru — поиск по патентным документам

СКРЯБИН ВАЛЕНТИН ГРИГОРЬЕВИЧ

Изобретатель СКРЯБИН ВАЛЕНТИН ГРИГОРЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Камера для рентгеноструктурного анализа кристаллов

Камера для рентгеноструктурного анализа кристаллов

  Сонэз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИ Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1,741123 (62 ) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 31.07.78 (22 ) 2652040/18 25 (5l)M. К;. G 01 М 23/205 с присоединением заявки.% Государственный комитет (23) Приоритет оо делам изобретений и открытий (5З ) УЙ К 548.734 (088.8) Опубликовано 15,06.80. Бюллетень Хе 22 Дата...

741123

Рентгеновский дифрактометр по схемезеемана-болина

Рентгеновский дифрактометр по схемезеемана-болина

  O П И С А Н И Е ()851211 ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 12.07.79 (21) 2794771/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М.К . G 01 N 23/20 Гасударственные кемнтет СССР но делам нзвбретеннй н втхрмтнй Опубликовано 30.07.81. Бюллетень №28 Дата опубликовани...

851211

Приставка к рентгеновскому дифрактометру

Приставка к рентгеновскому дифрактометру

  Союз Советскин Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ « 851212 г Ф 1В ив Ф > и. н (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 18.10.79 (21) 2827153/18 25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл. G 01 N 23/20 Государственный комитет по делам изобретен»» н открытий Опубликовано 30.07.81. Бюллетень №28 Дата о...

851212

Способ определения толщины поликристаллических пленок

Способ определения толщины поликристаллических пленок

  (72) Авторы изобретения В. lL Юшин, О. К. Колеров, В. Г. Скрябин и А. Н. Логвинов Куйбышевский ордена Трудового Красного Знам институт им. акад. С. П. Королева (7!) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу попикрисгаплических тел, а именно к ренггеноструктурному исследованию поверхностных слоев и...

859890

Способ рентгеноструктурного анализа поликристаллических образцов

Способ рентгеноструктурного анализа поликристаллических образцов

  Союз Советскмх Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ! )976358 \ 7 (В! ) Дополнительное к авт. саид-ву (22}Заявлено 22. 12 ° 80 (21) 3220548/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет Опубликовано 23. 11 ° 82 ° Бюллетень М 43 Дата опубликования описания 23 . 1 1. 82 (51)М. Кл. 6 01 и 23/20 Ркударствсниый какнтет СССР по делам изо...

976358


Способ неразрушающего послойного рентгеноструктурного анализа поликристаллических массивных объектов

Способ неразрушающего послойного рентгеноструктурного анализа поликристаллических массивных объектов

  Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу массивных поликристаллических объектов, а именно к неразрушающему послойному исследованию объектов, собственная толщина которых намного превышает толщину анализируемого слоя, участвующего в создании дифракционной картины. С целью повьшения точности опр.еделения толщины анализируемого слоя перед изменениями определяют нулевое по...

1221558

Камера для рентгеноструктурного анализа поликристаллов

Камера для рентгеноструктурного анализа поликристаллов

  Изобретение позволяет повысить чувствительность рентгеноструктурного анализа поликристаллов благодаря улучшению фокусировки и повышению точности регистрации углов наклона и скольжения при исследовании поверхностных слоев массивных объектов . Рентгеновский луч-, пройдя диафрагмы , попадает на середину флуоресцентного экрана. После установки образца в держателе половина луча затеня...

1223105

Способ испытания образцов на релаксацию напряжений

Способ испытания образцов на релаксацию напряжений

  Изобретение относится к испытательной технике:, Цель изобретения - повышение точности при исследовании кинетики релаксации напряжений. Образец 16 устанавливают в захватах 21 и 22 и закрепляют шарниры 19 и 20 в крьшках 15 и 17. Затем соединяют цилиндры 13 и 14 таким образом, что образец 16 располагается коаксиально в корпусе 3, образованном цилиндрами 13 и 14. При помощи прижимов...

1328735

Гониометр

Гониометр

  Изобретение относится к области научного приборостроения, конкретнее к средствам рентгенографического контроля материалов. Цель изобретения - повышение точности установки и регистра1 яи углов. Гониометр состоит из основания 1, на котором установлен И-образный корпус 2. В щеках корпуса напротив друг друга и соосно смонтированы шаговые двигатели 7, 8 с вра Т1аюг 1мися трансформатор...

1396022

Рентгеновский дифрактометр

Рентгеновский дифрактометр

  Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрической аппаратуре для анализа кристаллических веществ. Цель изобретения - обеспечение возможности структурного и фазового анализа слоев заданной толщины и повышение точности послойного структурного анализа. Для этого в дифрактометре используют двухъярусный поворотный держатель 4 образцов, один ярус 5 которого может прецизионно раз...

1599733


Образец для испытаний на релаксацию напряжений при изгибе

Образец для испытаний на релаксацию напряжений при изгибе

  Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для испытаний на релаксацию напряжений при изгибе. Цель изобретения - повышение точности испытания образцов из алюминиевых сплавов при повышенных температурах. Образец выполнен в виде кольца с прорезью , содержащего рабочую часть в виде балки равного сопротивления изгибу длиной , равной не менее половины длин...

1677575