PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ИМАМОВ РАФИК МАМЕД-ОГЛЫ

Изобретатель ИМАМОВ РАФИК МАМЕД-ОГЛЫ является автором следующих патентов:

Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла

Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскмх Соцмалмстичеснмк Республмк 763751 (6l) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено О!.02.79 (21} 2713101/18-25 с присоединением заявки .%— (23) Приоритет— (51) М. Кл G 0l N 23/207 Н 01 1 21/66 Государственный комитет Опубликовано 15.09.80. Бюллетень №34 {53) УДК 548.73: :621 ..382 (088.8) по делам и...

763751

Устройство для исследования совер-шенства структуры монокристалли-ческих слоев

Устройство для исследования совер-шенства структуры монокристалли-ческих слоев

  Союз Советскми Социелмстмчесммх Республик ОП ИСДНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ()800836 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.03.79 (2l ) 2731193/18-25 (5 I ) M. Кл. С 01 М 23/20 с присоедннением заявки М 3ЬеудерстееннмМ кемнтет СССР ав делам нзебретеннй N Ртнрмтнй (23) Приоритет (53) УДК548.73: :543.53 (088.8) Опубликовано 30.01.81. Бюллетень 34...

800836

Способ изготовления монохромато-pa рентгеновского излучения

Способ изготовления монохромато-pa рентгеновского излучения

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалмстическнх Республнк К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву— (22) Заявлена 14. 03. 79 (21) 2731192/18-25 (5 )М 6 21 К 1/06 с присоединением заявки Мо Государственный комитет СССР ло делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 1Ь0281. Бюллетень Йо б Дата опубликования описания 15. 02. 81 (5Ç) УД)(...

805419

Рентгеновский спектрометр длясинхротронного источника излучения

Рентгеновский спектрометр длясинхротронного источника излучения

  Сеез Севетския Сециалистическик Ресвублик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВ ИТВЛЬСТВУ < 817553 {61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Завалено" 2906.79 (21) 2811304/18-25 с нрнсоединением заявки й9— G 01 N 23/207 (23) ПриОритет Госуяарствеквык кокитет СССР яо амаи изобретения и открытка (53) УДК 648.73 (088.8) Опубликовано 300381. Бюллетень Н9 12 Дата опубликования опис...

817553

Способ определения профиля распределенияструктурных искажений b поверхностномслое монокристалла

Способ определения профиля распределенияструктурных искажений b поверхностномслое монокристалла

  Союз Советскнк Соцналистмческих Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ Опубликовано 15.0581. Бюллетень № 18 (51)М. Кл G 01 и 23/20 Государствеииый комитет СССР ио делам изобретений и открытий (53) УДК 548.73 (088.8) Дата опубликования описания 150581 A.Ì.Àôàíàñüåâ, Л.Д.Буйко, P.Ì.Èìàìoâ, М.В.,Ковальчук, В.Г.Кон и Э.Ф.Лобанович 1 с 3 Институт кристаллогр...

830206


Способ электронно-дифракционногоструктурного анализа материалов иустройство для его осуществления

Способ электронно-дифракционногоструктурного анализа материалов иустройство для его осуществления

  Союз Советскин Социалистических Республик О П И Н И Е м 843024 ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 17.09.79 (21) 2817384/18-25. с присоединением заявки М— (23) Приоритет (5! )М. Кд. Н 01 J 37/26 С 01 и 23/225 Государственный камитет СССР Опубликовано30.06.81. Бюллетень ЛЬ 24 (53) ДК 620. 187 (088.8) но делам изоб...

843024

Способ исследования структурного совершенства поверхностного слоя монокристалла

Способ исследования структурного совершенства поверхностного слоя монокристалла

  Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОИЖОМУ Св НИЛЬСТВУ » 894500 {б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 1605.80 (2! ) 2924064/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет (51)М. КЛ.З G 0l N 23/207 Государственный коиитет СССР во левам изобретений н открытий Опубликовано 30 12,&1, Бюллетень ИЯ 4& Ю)НРС 548.735 (088.8) Дата опубликовани...

894500

Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла и трехкристалльный рентгеновский спектрометр для осуществления способа

Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла и трехкристалльный рентгеновский спектрометр для осуществления способа

  Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К А8ТОРСКОМУ С8И ТИЗЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (т 763751 (22) Заявлено 160580 (21) 2924065/18-25 (51) М, Кл. с присоединением заявки Ио 2924066/18-25 G 01 N 23/207 ГосударствеиинЯ комитет СССР no aeneas бpииЯ и откРытиЯ (23) Приоритет Опубликовано 301281 Бюллетень йо 48 (SS) V 548.735 (088.8) Дата опу...

894501

Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов

Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов

  ОПИСЛНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТИЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. сеид-ву (22) Заявлено 160580 (21) 2924067/18-25 ()М Кл. с присоединением заявки 14Р (23) Приоритет С 01 И 23/207 Государственный комитет СССР но делам изобретений н открытий Опубликовано 301281, Бюллетень МВ 48 Дата опубликования описания 30. 12. 81 (53) УДК...

894502

Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов

Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов

  Союз Советсиик Социалистические Реслублии О П @ С A Н И Е < 898302 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 160580 (2I ) 2958773/18-25 с присоединением заявки М (23) П риоритет Опубликовано 1501.82. Бюллетень № 2 Дата опубликования описания 150182 (53)M. Кл. G 0l и 23/207 Гасударственный комитет СССР (53) УДК 548.73 (088.8)...

898302