МЕДЮХ МИХАИЛ МАКСИМОВИЧ
Изобретатель МЕДЮХ МИХАИЛ МАКСИМОВИЧ является автором следующих патентов:

Криостат для исследования эффекта памяти формы
Союз Советских Социалистических Респубики О (6l ) Д (22) 3 с прис Гаеуаерстееииый комитет CCCP ао делан изеоретеиий и открытий (23) П О.(72) Автор изобретения М. М. Медюх (71) заявитель (54) КРИОСТАТ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭФФЕКТА ПАМЯТИ ФОРМЫ Изобретение относи-.ся к области юмерйтельной техники и может быть использовано для исследования эффекта памяти формы (ЭПФ), Известна конст...
887890
Устройство для деформации образцов материалов
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистнческни Республик < 953500 (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено30.01.81 (21) 3246610/25-28 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 23.08.82. Бюллетень № 31 Дата опубликования описания 23.08.82 (51 ) М. Кл. G 01Й 3Ю2 3ЬоударсткииыН комитет СССР ао аелам иэаоретеиий и открыт...
953500
Устройство для деформирования образцов материалов
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДЕФОРМИРОВАНИЯ ОБРАЗЦОВ МАТЕРИАЛОВ, содержащее основание, штатив, шток-деформатор и матрицу, установленную на основании с возможностью перемещения перпендикулярно оси штока-деформатора и имеющую обращенный к последнему гибочный участок ступенчатой в направлении перемещения формы с различными радиусами закругления отдельных ступеней, отличающееся тем, что с целью об...
1070450
Устройство для деформирования образцов материалов
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДЕФОРМИРОВАНИЯ ОБРАЗЦОВ МАТЕРИАЛОВ, содержащее держатель образца, матрицу с гибочным участком, установленную на держателе, и шток с деформирующим элементом на его конце, обращенном к гибочному участку матрицы, отличающееся тем, что, с целью повышения точности деформирования путем обеспечения более равномерного прилегания деформирующего элемента к образцу, деформ...
1146576
Держатель образцов материалов для исследования эффекта памяти формы
1. ДЕРЖАТЕЛЬ ОБРАЗЦОВ МАТЕРИАЛОВ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭФФЕКТА ПАМЯТИ ФОРМЫ при низкотемпературных испытаниях, содержащий основание, закрепленную на нем гибочную матрицу и прижимную плайку для поджатия образца к гибочной матрице,- отличающийся тем, что, с целыо повьппения точности исследования путем улучшения теплообмена ме(ду хладагентом и образцом и упрощения конструкции, основание...
1180747
Способ препарирования образцов для просвечивающей электронной микроскопии
Изобретение относится к технике препарирования образцов для электронной микроскопии и может быть использовано при исследованиях тонкой структуры металлов и сплавов. Препарирование осуществляется электролитическим утонением дискообразной плоской заготовки, установленной между двумя шайбами 2 из проводящего материала . Утонение производят последовательно при увеличении обрабатываем...
1442861
Способ идентификации собственной оксидной фазы в ниобии и ванадии
Изобретение относится к области металлургии , в частности к способу идентификации оксидной фазы в ниобии и ванадии, и может найти применение в металлообрабатывающей промышленности Цель - повышение надежности л улрб щеНие методики анализа оксидных, нитридных и карбидных фаз. Проводят оптическую визуализацию эндогенных включений в образце, затем его выдерживают в расплаве лития, по...
1754792
Способ препарирования образцов для просвечивающей электронной микроскопии
Использование изобретения: в области исследования физических свойств материалов методом электронной микроскопии. Сущность изобретения: плоскую заготовку размещают в держателе между шайбами с разным внутренним диаметром, проводят двухэтапное электролитическое утонение заготовки до образования в ней отверстий, после первого этапа утонения заготовку переворачивают . 4 ил. СОЮЗ С...
1798651