ДЕНИСОВ ДМИТРИЙ ИВАНОВИЧ
Изобретатель ДЕНИСОВ ДМИТРИЙ ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ изготовления образцов для дефектоскопии Способ изготовления образцов для дефектоскопии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/29c7a3dae2a11d62bbac242fac4f68e6.jpg)
Способ изготовления образцов для дефектоскопии
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союэ Советских Социалистических Республик < 1947736 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 09. 12. 80 (21) 3214283/25-28 (51) М. Кд. с присоединением заявки МС 01 И 27/82 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет (53) УДК б20. 179. . 14 (088. 8) Опубликовано 30.07.82Бюллетень М 28 Да...
947736![Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/4bd019d07a083800315d0a713df77f1d.jpg)
Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов
(7!) Заявитель Научно-исследовательский институт интроскопии (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗБОВ ДЛЯ КАЛИБРОВКИ ДЕФЕКТОСКОПОВ Изобретение относится к неразрушающему контролю н может быть использовано для изготовления образцов, предназ наченных для калибровкй дефектоскопов. Известен способ изготовления образ— цов для калибровки дефектоскопрв, заклк - 5 чающийся в том, что на...
968725![Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5c50dfff60a1baf10d7418166077b66f.jpg)
Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов
Н. Н. Качанов, Ф. И. Конжуков, Д. И. Денисфйг;" " = E. С. Скоробогатько и В. Л. Анохов (72) Авторы изобретения {71) Заявитель Научно-исследовательский институт Интроско ии (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ КАЛИБРОВКИ ДЕФЕКТОСКОПОВ Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использо вано для калибровки дефектоскопов, а также для оценки качества магнитного...
968726![Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/08b067e804e0cb23d5f1a5468dfe0a07.jpg)
Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов
Изобретение относится к нераз- , рушающе му контролю и может быть использовано для калибровки дефектоскопов . Цель способа - получение образцов с дефектами типа газовая пора и типа включения иноро;: ного вещества на одной и на различных глубинах залегания. Для этого в цилиндрической заготовке параллельно ее оси или под углом к последней выполняют отверстие, вставляют в от-, верст...
1288577