PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ШУМИЛИН АНАТОЛИЙ СЕМЕНОВИЧ

Изобретатель ШУМИЛИН АНАТОЛИЙ СЕМЕНОВИЧ является автором следующих патентов:

Оптико-телевизионное устройство для контроля периодической планарной структуры

Оптико-телевизионное устройство для контроля периодической планарной структуры

  ОО ИСАНИЕ ИЗЬБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик тывается управляющий сигнал с шестого rg плексора 16 подается на первый вход выхода через первый вход третьего мупь- первого блока 17 выявления максимума, типлексора 16 на первый вход первого по которому значение максимума (числа) блока 17 выявления максимума, по ко- второго распред...

985974

Устройство для контроля дефектов структуры

Устройство для контроля дефектов структуры

  О П И С А Н И Е,0„ 8 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное K авт. саид-ву (22) Заявлено 13.06. 80 (2>) 2944198/18-25 {51) М. КЛ.З с присоединением заявки № G 01 N 21/88 (23) Приоритет Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий ($3) УДК 535.242 (088. 8) Опубликовано 15. 03.83.Бюллетень ¹ 10 Дата...

1004829

Устройство для контроля подложки больших интегральных схем

Устройство для контроля подложки больших интегральных схем

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОДЛОЖКИ БОЛЬШИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ, содержащее первый блок управления , блок представления первичной информации, вход которого подключен к первому выходу первого блока управления , анализатор годности, первый вход которого подключен к второму выходу первого блока управления, блок уставок вход которого подключен к третьему иыходу первого блока управления, б...

1027654

Устройство для контроля периодической структуры большой интегральной схемы

Устройство для контроля периодической структуры большой интегральной схемы

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЕРИОДИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ БОЛЬШОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ СХЕМЫ, содержащее блок управления, синхронизирующий генератор, первый вход и первый выход которого подключены соответственно к первому выходу и первому входу блока управления , блок перемещения периодической структуры большой интегральной схемы, первый вход и первый выход которого подключены соответственно к вто...

1037194

Устройство для контроля планарных структур

Устройство для контроля планарных структур

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЛАНАРНЫХ СТРУКТУР, содержащее два оптических дефектоскопа, соединенные выходами с входами соответственно первого, и второго блоков преобразования оптических сигналов в электрические дискретные сигналы, к входам строчной и кадровой синхронизации которых подключены соответственно первый и второй выходы синхронизатора, блок сравнения,- выход которого соед...

1167620


Устройство для контроля дефектов фотошаблона

Устройство для контроля дефектов фотошаблона

  Изобретение относится к исследованиям и анализу физических свойств материалов с помощью оптических методов , а именно путем исследования цвета или поглощения световых лучей при помощи электрических средств обнар океиия локальных дефектов, Цель изобретения - новышение достоверности контроля дефектов фотошаблона, которая достигается введением новых блоков и функциональных связей, п...

1233107

Устройство для выделения информативных элементов контура изображения

Устройство для выделения информативных элементов контура изображения

  Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для выделения информативных участков в контурах изображений. Повьшение точности устройства обеспечивается введением четырех элементов ИСКПЮЧАЩЕЕ ИЛИ 8-1 1, четырех элементов И 12-15, двух регистров сдвига 6 и 7, видеоконтрольного устройства 17, коммутатора 16 и генератора тактовых импульсов 5, П...

1297086

Устройство для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура изображения объекта

Устройство для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура изображения объекта

  Изобретение относится к автоматике , в частности к устройству для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура изображения объекта , и может быть использовано для измерения характеристик объекта путем анализа его изображения. Цель изобретения состоит в повьшении точности и быстродействия системы. Поставленная цель достигается путем выделения прямолинейного отрезка конт...

1302305

Устройство для моделирования резистивной тестовой структуры

Устройство для моделирования резистивной тестовой структуры

  Изобретение относится к аналоговой вычислительной технике. Целью устройства является повьшение быстродействия и точности моделирования. Устройство для моделирования резистивной тестовой структуры содержит диэлектрическую подложку 1, фотопроводяпщй слой 2, телевизионный проектор 3, суммирующий усилитель 4, синхронизатор 5, источник 6 питания, блок 7 задания граничных условий. § (Л...

1339593

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур

  Изобретение относится к технике ТВ и повышает точность путем обеспечения инвариантности к смещению планарной структуры в поле зрения ТВ- датчика (ТВД). Устр-во содержит координатный стол 1, оптич. блок 2, ТВД 3, синхрогенератор 4, квантователь 5, видеоконтрольный блок 6, блок-7 формирования фрагмента изображения , г-р 8 тактовых импульсов, блок 9 задержки, анализатор дефектов (АД...

1381731


Устройство для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура изображения объекта

Устройство для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура изображения объекта

  Изобретение относится к автоматике , в частности к устройствам для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура.изображений объекта, и может быть использовано для измерения характеристик I объекта путем анализа его изображения . Цель изобретения состоит в повьшении точности устройства при определении малых углов наклона прямолинейного отрезка контура изображения объект...

1410074