МИГАЛЬ ВАЛЕРИЙ ПАВЛОВИЧ
Изобретатель МИГАЛЬ ВАЛЕРИЙ ПАВЛОВИЧ является автором следующих патентов:
![Учебный прибор по оптике Учебный прибор по оптике](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8a02c65bb27bc7545656cd7f69efe980.jpg)
Учебный прибор по оптике
УЧЕБНЫЙ ПРИБОР ПО ОПТИКЕ, содержащий последовательно размещенные на основании излучатель, поляризатор , оптический элемент для демонстрации действия оптически активного вещества, анализатор и детектор , отличающийс я тем, что, с целью ловышения наглядности демонстрации, излучатель выполнен в виде клистрона, поляризатор и анализатор выполнены в виде прямоугольных волноводов, а опт...
1008769![Учебный прибор по оптике Учебный прибор по оптике](https://img.patentdb.ru/i/200x200/471abc94921fda01e4b9cec309a1a840.jpg)
Учебный прибор по оптике
УЧЕБНЫЙ ПРИБОР ПО ОПТИКЕ, содержащий последовательно раэмещен|Ные на основании излучатель, поляризатор , оптический элемент для демонстрации действия пластинки в полволны и в четверть волны/ анализатор и детектор, отличающийся тем, что, с целью повышения нагляд ности демонстрации, излучатель выполнен в виде клистрона, поляризатор и анализатор выполнены в виде прямоугольных волнов...
1008770![Учебный прибор по оптике Учебный прибор по оптике](https://img.patentdb.ru/i/200x200/af280db10cd2e653079a1c5f2a8c918a.jpg)
Учебный прибор по оптике
УЧЕБНЫЙ ПРИБОР ПО ОПТИКЕ, .содержащий последовательно размещенные на основании излучатель, поляризатор , помещенный в соленоид оптический элемент для демонстрации яв .Ленин магнитного вращения плоскости поляризации ,отличающийс я тем, что, с целью повышения наглядности демонстрации, излучатель выполнен в виде клистрона, поляризатор и анализатор выполнены в виде прямоугольных волн...
1008771![Демонстрационный прибор по физике Демонстрационный прибор по физике](https://img.patentdb.ru/i/200x200/47e69f8670165c8ef3afe9469624290e.jpg)
Демонстрационный прибор по физике
ДЕМОНСТРАЦИОННЫЙ ПРИБОР ПО ФИЗИКЕ, содержащий поспедоваТепьно установленные на оптической скамье источник света, конденсатор, опти-ческий элемент, смонтированный на пово-. ротномосновании,,-фотоэлемент и вольтметр , отличающийся тем, что, с целью расщирения демонстрационных возможностей и повышения наглядности , он имеет расположенную между фотоэлементом и оптическим элементом по...
1040509![Устройство для регистрации оптического излучения Устройство для регистрации оптического излучения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e60d6e4db8ed9c78fc248e74dd6bf66d.jpg)
Устройство для регистрации оптического излучения
УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, содержащее электрически соединенные фотоприемник и регистратор, отличающееся тем, что, с целью расширения спектральной чувствительности, фотоприемник выполнен в виде волокнистого поликристалла с расположенными на нем электродами, перпендикулярными монокристаллическим волокнам . СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИК „„SU,...
1105762![Способ определения остаточных напряжений в объекте Способ определения остаточных напряжений в объекте](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9ec087170687d4a9978e01f5f2f5d093.jpg)
Способ определения остаточных напряжений в объекте
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ В ОБЪЕКТЕ, заключающийся в том, что объект освещают монохроматическим пучком света и по изменению характеристик объекта определяют напряжения, отличаю;щ и и с я тем, что, с целью расшире-ния области его применения путем обеспечения возможности определения остаточных напряжений в анизотропных объектах, объект помещают в переменное электриче...
1137294![Способ определения остаточных напряжений в объекте из диэлектрического материала Способ определения остаточных напряжений в объекте из диэлектрического материала](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0218c959a1b4676b18449d27c5607986.jpg)
Способ определения остаточных напряжений в объекте из диэлектрического материала
Изобретение относится к электрическим методам исследования остаточных напряжений в монои поликристаллах и может быть использовано для определения локальных остаточных напряжений в диэлектрических материалах, в том числе материалах с повышенной хрупкостью или непригодных для оптических методов исследования , напряжений . Цель изобретения - измерение распределения напряжений по пов...
1404799![Способ определения остаточных напряжений в объектах Способ определения остаточных напряжений в объектах](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d7450da34e1fd2838e9282b407f8354f.jpg)
Способ определения остаточных напряжений в объектах
Изобретение относится к области измерительной техники и может использоваться при определении распределенных остаточных напряжений в объекте. Целью изобретения является снижение трудоемкости и расширение функциональных возможностей за счет определения остаточных напряжений в оптически активных областях. Способ заключается в том, что исследуемый объект с компенсатором помещают между...
1534341![Способ определения остаточных напряжений в объектах из поликристаллических материалов Способ определения остаточных напряжений в объектах из поликристаллических материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b7e73e1af0ac7f98a3b1d3ce6c86b590.jpg)
Способ определения остаточных напряжений в объектах из поликристаллических материалов
Изобретение относится к экспериментальным методам определения механических напряжений в прозрачных кристаллических материалах и может быть использовано в квантовой электронике и оптоэлектронике. Целью изобретения является повышение эффективности путем определения напряжений в областях, имеющих пониженную кристаллографическую симметрию. Для этого на поверхность объекта помещают мат...
1543258![Демонстрационный прибор по физике Демонстрационный прибор по физике](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2c0175684b6285e628cba568632afdf4.jpg)
Демонстрационный прибор по физике
Изобретение относится к учебным демонстрационным приборам по физике. Целью изобретения является расширение демонстрационных возможностей и повышение наглядности прибора. Для достижения поставленной цели демонстрационный прибор по физике, содержащий последовательно установленные на оптической скамье источник света, конденсатор, светофильтр, поляризатор, оптический объект, анализато...
1576902![Способ визуализации дефектов структуры в кристаллических объектах Способ визуализации дефектов структуры в кристаллических объектах](https://img.patentdb.ru/i/200x200/af8e647900bd2f5502d87805652321df.jpg)
Способ визуализации дефектов структуры в кристаллических объектах
Изобретение относится к экспериментальным методам исследования дефектов структуры в прозрачных кристаллических материалах и может быть использовано в квантовой электронике, оптоэлектронике и лазерной технике. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей путем визуализации различных дефектов структуры и неоднородностей, создающих поле остаточных напряжений в п...
1721475![Способ визуализации микронеоднородностей в кристаллах Способ визуализации микронеоднородностей в кристаллах](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c9db945e425d336d0cb902ef56537f5e.jpg)
Способ визуализации микронеоднородностей в кристаллах
Использование: экспериментальные методы исследования микронеоднородностей и дефектов структуры в прозрачных кристаллах в электрооптике и силовой оптике . Сущность: прилагают к кристаллу изгибающий момент силы, который ко/шнеарен направлению распространения света, и наблюдением кристалла в поляризованном свете регистрируют области локального смещения нейтральной полосы и области л...
1770843![Способ определения распределения неоднородностей структуры кристалла Способ определения распределения неоднородностей структуры кристалла](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ce06328828ef49fe4da8cf23474ac85d.jpg)
Способ определения распределения неоднородностей структуры кристалла
Использование: технологический контроль в электрооптике. Сущность изобретения: определяют для каждого элемента поверхности кристалла зависимость диэлектрической проницаемости от напряженности поля в диапазоне от Е 0 до Е U пробивное в диапазоне частот от 50 Гц и менее, определяют точки перегиба характеристик , строят зависимость значения напряженности поля точек перегиба от часто...
1772711