Способ определения остаточных напряжений в объектах
Иллюстрации
Показать всеРеферат
Изобретение относится к области измерительной техники и может использоваться при определении распределенных остаточных напряжений в объекте. Целью изобретения является снижение трудоемкости и расширение функциональных возможностей за счет определения остаточных напряжений в оптически активных областях. Способ заключается в том, что исследуемый объект с компенсатором помещают между поляризатором и анализатором и направляют параллельный пучок света на поляризатор. Компенсатор выполняют в виде пакета плоских прозрачных пластин из фотоупругого материала и создают в нем предварительные напряжения путем чистого изгиба. Затем фотографируют объект не менее 4 раз при поворотах 45° и измеряют смещения нейтральной интерференционной полосы в каждой пластине компенсатора, по которым определяют распределение остаточных напряжений в объекте. Затем компенсатор разгружают и создают вторично напряжения кручения путем приложения крутящего момента, фотографируют в четырех положениях при поворотах на 45° и вновь измеряют смещения нейтральной интерференционной полосы, по которым определяют распределение остаточных напряжений в оптически активных областях. 1 з.п.ф-лы, 2 ил.
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК (19) 0!) (51) 5 С 01 Ь 3/24
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
Н А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕРЬСТВУ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫГИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР (21) 4306095/24-10 (22) 14.09. 87 (46) 07.01.90. Бюл. Р 1 (71) Харьковский авиационный институт им. Н.Е. Жуковского, Харьковское научно-производственное объединение
Ъонокристаллреактив" и Научно-исследовательский центр по технологическим лазерам (72) В.К. Комарь, В.П. Мигаль, В.А. Ульянов и О.Н. Чугай (53) 535.242(088.8) (56) Меланхохин Н .М . Методы исследования оптических свойств кристаллов.—
М.: Наука, 1970. с. 138-141.
Основы элипсометрии./Под ред.
A.Â. Ржанова. — Новосибирск: Наука, 19 78, с. 24 5. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ
НАПРЯЖЕНИЙ В ОБЪЕКТАХ (57) Изобретение относится к области измерительной техники и может использоваться при определении распределенных остаточных напряжений в объекте. Целью изобретения является снижение трудоемкости и |расширение функциональных возможностей эа счет
Изобретение относится к области измерительной техники н может использоваться при определении распределенньи остаточных напряжений в нроэрачньи кристаллических объектах.
Цель изобретения - снижение трудоемкости и раснирение функциональных .воэможностей за счет определения остаточных напряжений в оптически ак-. тивных областях.
2 определения остаточных напряжений в оптически активных областях. Способ заключается в том, что исследуемый объект с компенсатором помещают между поляризатором и анализатором и направляют параллельный пучок света на поляризатор . Компенсатор выполняют в виде пакета плоских прозрачных пластин нэ фотоупругого материала и создают в нем предварительные напряжения путем чистого изгиба. Затем фотографируют объект не менее 4 раэ при поворотах на 45 и измеряют смещения нейтральной интерференционной полосы в каждой пластине компенсатора, по которым определяют распределение остаточных напряжений в объекте. Затем компепсатор разгружают и создают вторично напряжения кручения путем приложения крутящего момента, фотографируют в четырех положениях при о поворотах на 45 и вновь измеряют смещения нейтральной интерференционной полосы, по которым определяют распределение остаточных напряжений в оптически активных областях. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.
На фиг. 1 представлена схема устройства, релизующего способ; на фиг. 2 — одна иэ пластин компенсатора при создании в ней напряжения чистого изгиба.
Устройство для определения остаточных напряжений (фиг. 1) содержит расположенные rro ходу светового луча источник 1 монохроматического излуче- . ния, конденсор 2, поляризатор 3, ис1. 3.3 -I 3 4 1 следуеиый объект (1, компецсагор 5, состоя(((ий цз пакета ((лосьих рс(зрачных пластин, ацяпизятпр 6 объектив
7 и фотоппастицу 8.
При р еалцзации цр еплягаемогс способа свет от источника I ч врез кон— децсор 2 падает пярялпеп(цьм (l,÷êoì ца поляризатор 3, после которого поля ризованцьш пучок проходит исследу =.-. иый объект (1, Каждая из обла(тей объекта, содержа(((ая остаточat»(e пацря>кения, вносит изменения в поляризацию
ItpovIetit!tего света, Пргл прохож..te(IHH поляризованногоо света чере.(кристаллические объекты возникaeT це только двупучецрелоиление, цо H проявляется оптическая активность. Кс(п(е tcaTîð >» состоящий из пакета 1>лоских пластин„ изготовленных из материала с извес.; — 2П цыии фотоупругиии постоя цць ;H, дает воз можно сть пр свести оце р ку остаточных напряжений путем визуалl цых измерений, Ког Ia в компецсаторе > созда— цы напряжения путем чистого изгиба (фиг. 2); то часть пластинки IJ»!tie .г,.(лI нии NN испытывает напряжение ряс— ! тяжеция, я часть ц(л>ке линии Й14 — на цpRBeIIHe сжЯтия . При э I ом В!»рх(1яя -"=(с (ь пластицы ведет себя как ((сложитcJI >Ht»I1 (Односс нь((1 кристалл» а (1(1жы(я как отрицательць;й or Hîîcный кр((стяпп,, Если такую пластину рассматривать параллельном свете l!pH oKpeöeí(1bt>t I o" ляроидях, то при наличии объекта м=.ж-ду поляризатором и пакетом пластин
:5 нейтральная интерференвис (-.. яя (копов .:-, в отдепьнь(х областях будет .--,зн(-ат(»с! вверх нли вниз в зав(лс(л((ост((от знак»
H B6»JIH tHHt»(ДВУ JI»Jil Е(1P eJIC(. I el ». Я В Ol или иной области.
Измерял сдвиг ней гра !(1»I. ой поп осы с помощью отсчетнсго м(л(;роскоця !лпп любого другого этсчетно го устройства» можно определить ветичп((у ця((ряжев>1Р в различных областях об>(-.! к. а., Ис: tct(ь-зовяние пакета прозрачных цпястH( позволяет в(лзуялиз(лров(1 гь (>я(1(:1>еде((ение напря>кец(1Й по Ec(ltt", Гбле(кт > .
Если к компенсят(>1>у ((р(!»(ожеlt кру--! тящий моиецт, cсз(1Я(зиг(("! в аидой tlпастине напряжение кру»!ец(1;,:;o !III 1(ts:
lIo центру кяжцсй ((пястицы ос ".. ".ется н(-.tie(I>op>
:(о.(оса .лещ=;е-,. Ся вверх H .. :. ; вниз, в зависимо(". и от вел(-:.- Нны;.:" знака враЩЕ-:.((Я ПЛОС КОС ГИ ПОЛЯРИЗаЦИИ.
Для оценки всего золя остаточных няпряжен(ий B кристаллах H измеряют четыре величины смещения нейтральной линии, оответствующие последсвательо ным повор зтаи объекта на угол 45
Формула изобретения
1. С((особ определения остаточных цапряжений в объектах, основанный на измерении величины двойного лучепрепоилени>! с помощью компенсатора, о тл и I a to I(tie и с я, тем, что, с це1>ью сн>1>кения трудоемкости, в качествв компенсатора испсль-:=-:-;; -.. пакет плос"ких прозра tttьп. Н-..a! Нз ф. ;-о;.(1((руг-..—
ГО» Иа »з :Нада!. C ° »ЭДЯЮт В НЕЕY П(>ЕДВЯ
» ритепьные ltal(ряж-.ьия п тем чистого изгиба, фс(тогр: фин у(пт объект не менее четырех itaз после каждого поворота
r g.CI его на ч > относительно плоскости поляризации и Hà полученных фстосиимKatt из;:(е1>яют сдвиг нейтральной интер" ферецционнай полосы, по кс>тороиу ог,— редепяют распределение сс аточных напряжений з объекте., 2. Способ по п» i, о т Jt и ч а юшийся тем, (то, = целью расширения функциональных возможностей за счет опр одел ения зстаточных напряже», Н1 и в оц(.ически активных областях (Iepåä фотографированием объекта, в (1лястинах ксьпенсатора создают напря;кения кр; ения путем приложения крутящего >:.с:(ента к торцам компенсатора, я по (з1в(лгу нейтральной интер((>еренц(л:> H>I GA lсло сы с(гр едел яют р пр ед! ление
icTa! синью напряжений в оптически активных областях.
1534341
Составитель В. Иаслов
Техр ед Л. Сердюкова Корр ект ор С . Чер ни
Редактор Е, Пагп
Подписное
Заказ 36 Тираж 462
ЗНИ1П11 Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
i 13035, Иосква Ж 35 Раушская наб.. д. 4/5
Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101