ЧУГАЙ ОЛЕГ НИКОЛАЕВИЧ

  УЧЕБНЫЙ ПРИБОР ПО ОПТИКЕ, содержащий последовательно размещенные на основании излучатель, поляризатор , оптический элемент для демонстрации действия оптически активного вещества, анализатор и детектор , отличающийс я тем, что, с целью ловышения наглядности демонстрации, излучатель выполнен в виде клистрона, поляризатор и анализатор выполнены в виде прямоугольных волноводов, а опт...

  УЧЕБНЫЙ ПРИБОР ПО ОПТИКЕ, содержащий последовательно раэмещен|Ные на основании излучатель, поляризатор , оптический элемент для демонстрации действия пластинки в полволны и в четверть волны/ анализатор и детектор, отличающийся тем, что, с целью повышения нагляд ности демонстрации, излучатель выполнен в виде клистрона, поляризатор и анализатор выполнены в виде прямоугольных волнов...

  УЧЕБНЫЙ ПРИБОР ПО ОПТИКЕ, .содержащий последовательно размещенные на основании излучатель, поляризатор , помещенный в соленоид оптический элемент для демонстрации яв .Ленин магнитного вращения плоскости поляризации ,отличающийс я тем, что, с целью повышения наглядности демонстрации, излучатель выполнен в виде клистрона, поляризатор и анализатор выполнены в виде прямоугольных волн...

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, содержащее электрически соединенные фотоприемник и регистратор, отличающееся тем, что, с целью расширения спектральной чувствительности, фотоприемник выполнен в виде волокнистого поликристалла с расположенными на нем электродами, перпендикулярными монокристаллическим волокнам . СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИК „„SU,...

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ В ОБЪЕКТЕ, заключающийся в том, что объект освещают монохроматическим пучком света и по изменению характеристик объекта определяют напряжения, отличаю;щ и и с я тем, что, с целью расшире-ния области его применения путем обеспечения возможности определения остаточных напряжений в анизотропных объектах, объект помещают в переменное электриче...

  Изобретение относится к электрическим методам исследования остаточных напряжений в монои поликристаллах и может быть использовано для определения локальных остаточных напряжений в диэлектрических материалах, в том числе материалах с повышенной хрупкостью или непригодных для оптических методов исследования , напряжений . Цель изобретения - измерение распределения напряжений по пов...

  Изобретение относится к области измерительной техники и может использоваться при определении распределенных остаточных напряжений в объекте. Целью изобретения является снижение трудоемкости и расширение функциональных возможностей за счет определения остаточных напряжений в оптически активных областях. Способ заключается в том, что исследуемый объект с компенсатором помещают между...

  Изобретение относится к экспериментальным методам определения механических напряжений в прозрачных кристаллических материалах и может быть использовано в квантовой электронике и оптоэлектронике. Целью изобретения является повышение эффективности путем определения напряжений в областях, имеющих пониженную кристаллографическую симметрию. Для этого на поверхность объекта помещают мат...

  Изобретение относится к экспериментальным методам исследования дефектов структуры в прозрачных кристаллических материалах и может быть использовано в квантовой электронике, оптоэлектронике и лазерной технике. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей путем визуализации различных дефектов структуры и неоднородностей, создающих поле остаточных напряжений в п...

  Использование: технологический контроль в электрооптике. Сущность изобретения: определяют для каждого элемента поверхности кристалла зависимость диэлектрической проницаемости от напряженности поля в диапазоне от Е 0 до Е U пробивное в диапазоне частот от 50 Гц и менее, определяют точки перегиба характеристик , строят зависимость значения напряженности поля точек перегиба от часто...