PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КОМАРЬ ВИТАЛИЙ КОРНЕЕВИЧ

Изобретатель КОМАРЬ ВИТАЛИЙ КОРНЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения остаточных напряжений в объектах

Способ определения остаточных напряжений в объектах

  Изобретение относится к области измерительной техники и может использоваться при определении распределенных остаточных напряжений в объекте. Целью изобретения является снижение трудоемкости и расширение функциональных возможностей за счет определения остаточных напряжений в оптически активных областях. Способ заключается в том, что исследуемый объект с компенсатором помещают между...

1534341

Способ определения остаточных напряжений в объектах из поликристаллических материалов

Способ определения остаточных напряжений в объектах из поликристаллических материалов

  Изобретение относится к экспериментальным методам определения механических напряжений в прозрачных кристаллических материалах и может быть использовано в квантовой электронике и оптоэлектронике. Целью изобретения является повышение эффективности путем определения напряжений в областях, имеющих пониженную кристаллографическую симметрию. Для этого на поверхность объекта помещают мат...

1543258

Способ контроля качества кристаллов

Способ контроля качества кристаллов

  Изобретение относится к области люминесцентных способов исследования материалов и может быть использовано для контроля качества кристаллов селенида цинка, предназначенных для ИК=оптики. Целью изобретения является обеспечение возможности отбраковки заготовок селенида цинка с коэффициентом поглощения на длине волны 10,6 мкм, превышающим К=5<SP POS="POST">.</SP>10<SP P...

1603256

Способ визуализации дефектов структуры в кристаллических объектах

Способ визуализации дефектов структуры в кристаллических объектах

  Изобретение относится к экспериментальным методам исследования дефектов структуры в прозрачных кристаллических материалах и может быть использовано в квантовой электронике, оптоэлектронике и лазерной технике. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей путем визуализации различных дефектов структуры и неоднородностей, создающих поле остаточных напряжений в п...

1721475

Способ визуализации микронеоднородностей в кристаллах

Способ визуализации микронеоднородностей в кристаллах

  Использование: экспериментальные методы исследования микронеоднородностей и дефектов структуры в прозрачных кристаллах в электрооптике и силовой оптике . Сущность: прилагают к кристаллу изгибающий момент силы, который ко/шнеарен направлению распространения света, и наблюдением кристалла в поляризованном свете регистрируют области локального смещения нейтральной полосы и области л...

1770843