МАКЕЕВ ВИКТОР ВЛАДИМИРОВИЧ

  СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТТЛ ИНТЕГР7и1ЬШХ ХЕМ, включающий измерение их статических параметров при номинальном напряжении питания, отличающийся тем, что, с целью упрощения контроля, производят измерение статических параилетров интегральных схем при напряжении питания в диапазоне 3,1 - 3,2 В, определяют разность значений статических параметров, измеренных при номи;нальном и пониженном напря...

  Изобретение относится к контролю интегральных схем и может быть использовано для отбраковки дефектных ТТЛ интегральных схем. Цель изобретения - повышение достоверности контроля за счет выявления утечек и объемных дефектов в области эмиттерного перехода транзисторов ТТЛ интегральной схемы. Способ состоит в следующем. На вход контролируемой ТТЛ интегральной схемы задают номинальное...