ХАММАДОВ ИСКАНДЕР ИСМАИЛОВИЧ
Изобретатель ХАММАДОВ ИСКАНДЕР ИСМАИЛОВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для закрепления тонкопленочных образцов Устройство для закрепления тонкопленочных образцов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ca24c726b19e3c585ef1df7956077feb.jpg)
Устройство для закрепления тонкопленочных образцов
СОЮЗ СООЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН (51)4 G 01 В 5/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ASTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТОЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР Il0 ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3665327/25-28 (22) 24.11.83 (46) 15.08.85. Бюл. В 30 (72) P.Ï. Селегин и И.И. Хаммадов (71) Центральное проектно-конструкторское и технологическое бюро научного приборостроения. АН УЗССР (53) 531.717(0...
1173151![Домкрат винтовой Домкрат винтовой](https://img.patentdb.ru/i/200x200/fa862239a5e20d01893f403dc79e37ce.jpg)
Домкрат винтовой
Изобретение может быть использовано в транспортном машинострое- НИИ для подъема груза. Цель изобретения состоит в увеличении хода домкрата с одновременным получением различных поступательных скоростей головки домкрата при неизменной угловой скорости привода, а также в получении точных малых перемещений головки домкрата. Домкрат содержит корпус 1 с квадратной направляющей 2. На на...
1288152![Способ контроля диаметра микропроволоки Способ контроля диаметра микропроволоки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/92ee0285f413761cc142ff9137b8597d.jpg)
Способ контроля диаметра микропроволоки
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для неразрушающего оптического бесконтактного контроля диаметра микропроволоки как в статике, так и в динамике. Цель изобретения - повьшение точности и упрощение процесса контроля. Устанавливают между источником 1 монохроматического параллельного потока света и выпуклой сферической дифракционной решеткой 2 параллельно...
1359667![Способ измерения толщины тонких диэлектрических пленок Способ измерения толщины тонких диэлектрических пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a907288a87a3247eb7c7a622101ce6d9.jpg)
Способ измерения толщины тонких диэлектрических пленок
Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться в электронной промышленности при неразрушающем контроле толщины тонких пленок. Целью изобретения является повышение точности измерения за счет определения толщины пленки по ширине щели в энергетическом спектре поверхностных поляритонов подложки, на которую нанесена пленка. Сущность способа заключается в том, что...
1569530