ТАТАРИНОВ ВЕНИАМИН ВАСИЛЬЕВИЧ
Изобретатель ТАТАРИНОВ ВЕНИАМИН ВАСИЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ определения координат центра яркости дефектов детали и устройство для его реализации Способ определения координат центра яркости дефектов детали и устройство для его реализации](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ba585cee8826aa5836225d6c661729f2.jpg)
Способ определения координат центра яркости дефектов детали и устройство для его реализации
1. Способ определения координат центра яркости дефектов детали, включающий освещение детали, диафрагмирование отраженного светового потока , его модуляцию по монотонной зависимости и регистрацию фотоприемниками , формирование фотоэлектрических сигналов по двум координатным каналам и опорного сигнала, пропорционального яркости поля анализа , определение текущих значений координат...
1187028![Устройство для определения координат центра яркости исследуемого объекта Устройство для определения координат центра яркости исследуемого объекта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/541630138f49cebc67577bd658b32934.jpg)
Устройство для определения координат центра яркости исследуемого объекта
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в дефектоскопии при автоматизации визуального метода контроля деталей с целью повышения достоверности определения координат центра яркости исследуемого объекта их измеряют по порядку убывания яркости за счет введения дополнительно в устройство жидкокристаллической матрицы и механизма перемещения объ...
1245961![Способ неразрушающего контроля изделий Способ неразрушающего контроля изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6d78a58ae072078115b95cc87947aa4d.jpg)
Способ неразрушающего контроля изделий
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля поверхности дефектов деталей с помощью акустических сигналов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей за счет обеспечения контроля изделий сложной формы.Согласно предлагаемому способу, контролируемые изделия пропитывают жидкостью , затем пропитанное изделие помещают в...
1265595![Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9b76ca83cd5be90189290d18db50b35e.jpg)
Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей за счет контроля тупиковых состояний расположения дефектов. Иоставленная цель достигается тем, что в устройстве для С3ы)(18 ю 00 ел о 05 СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН (бд 4 С 01 N 21/88 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР fl0 ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И...
1280506![Способ неразрушающего контроля изделий Способ неразрушающего контроля изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f3d3f92e0e6dc7856b658241218232a6.jpg)
Способ неразрушающего контроля изделий
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является расширение объема использования путем контроля деталей сложной формы. В способе контролируемую деталь пропитывают . проникающим веществом. Время пропитки колеблется от единиц до десятков секунд. Подготовленную таким образом деталь подключают к источнику злёктрической энергии и пропускают через де...
1280532![Установка для комплексного автоматизированного контроля качества изделий Установка для комплексного автоматизированного контроля качества изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c0cc14adac1e8cd7e67d146cecccb3d0.jpg)
Установка для комплексного автоматизированного контроля качества изделий
Изобретение относится к нераэрушающему контролю качества поверхности изделия. Цель изобретения - повьппение производительности, контроля за счет организации двухпозиционного контроля. Установка для комплексного автоматизированного контроля качества изделий содержит устройства 1 и 2 контроля фотоэлектрическим и ультразвуковым методами, образующие первую позицию контроля, блок 3 ре...
1322092![Способ определения координат центров яркости дефектов детали Способ определения координат центров яркости дефектов детали](https://img.patentdb.ru/i/200x200/36ffdc35b1ced1fce15a698d2cda792b.jpg)
Способ определения координат центров яркости дефектов детали
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при автоматизации визуального метода дефектоскопии. Цель изобретения - упрощение контроля . Освещают деталь, модулируют отраженный световой поток по монотонной зависимости и регистрируют фотоприемниками , формируют фотоэлектрические сигналы по двум координатным каналам и опорный сигнал, пропорциона...
1379706![Установка для комплексного автоматизированного контроля качества изделий Установка для комплексного автоматизированного контроля качества изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d182be2f8e0109b4335b2dd0d1483723.jpg)
Установка для комплексного автоматизированного контроля качества изделий
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК 159 4 С 01 В 21/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИД=ТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР (21) 4236918/24 — 28 (22) 29.04.87 (46) 23.03.89. Вюл. Р 11 (71) Киевский политехнический институт им.50-летия Великой Октябрьской социалистической революции (72) В.В.Татаринов (53) 531,7.717(088.8...
1467393![Устройство для контроля шариков Устройство для контроля шариков](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f97ca9f3f0a922b96680b201999ce77c.jpg)
Устройство для контроля шариков
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет одновременного контроля ряда шариков и обеспечения возможности автоматической сортировки шариков по габаритноэнергетическим характеристикам дефектов. Устройство контроля шариков содержит транспортер 1, подающий контролируемый ряд 2 шариков в зону контр...
1532811![Сканирующее устройство к дефектоскопу Сканирующее устройство к дефектоскопу](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f2983f7e612a3e4f95d8d8e9d6f8fbc5.jpg)
Сканирующее устройство к дефектоскопу
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано при дефектоскопии изделий. Целью изобретения является повышение качества контроля за счет обеспечения постоянной скорости перемещения дефектоскопа по контролируемому изделию. Сканирование дефектоскопом поверхности контролируемого изделия 1 осуществляется с постоянной скоростью за счет тормо...
1652901![Устройство для сканирования изделия Устройство для сканирования изделия](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d6ee5e5d5ac1b2ba921f70d4ede07155.jpg)
Устройство для сканирования изделия
Изобретение касается акустических методов неразрушающего контроля. Целью изобретения является повышение стабильности траектории сканирования при ручном продольном перемещении каретки как за счет невозможности превышения порогового значения скорости продольного перемещения датчика контроля, так и за счет регулирования частоты поперечных перемещений датчика контроля в зависимости от...
1665296