Смирнов Дмитрий Юрьевич (RU)

Изобретение относится к области медицины. Дезинфицирующее средство содержит бис-(3-аминопропил)-додециламин, содиум 2-этилгексилсульфат натрия, неионогенное поверхностно-активное вещество, модификатор, отдушку и воду, а также при необходимости лимонную кислоту, при определенном соотношении компонентов. Изобретение обеспечивает эффективную дезинфекцию с широким спектром действия бактерицидной, фунг...

Изобретение относится к области медицины и может быть использовано в различных отраслях хозяйства. Дезинфицирующее средство содержит бис-(3-аминопропил)-додециламин, содиум 2-этилгексилсульфат натрия, неионогенные поверхностно-активные вещества, модификатор, отдушку и воду, а также при необходимости лимонную кислоту и краситель при определенном соотношении упомянутых ингредиентов. Изобретение обес...

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в процессе отбраковки партий интегральных схем. Технический результат - повышение достоверности. Для достижения данного результата измеряют интенсивность шума при двух значениях прямого тока, определяемых на представительной выборке по зависимости интенсивности шума от тока. По относительному изменению значения интенсивности ш...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам определения в партии потенциально ненадежных интегральных схем (ИС). Сущность: измеряют интенсивность шума без подачи питания на частоте 1 кГц при прямом токе при трех температурах: нормальной (25°С), минимальной (0°С) и максимальной (100°С) температуре. По относительному изменению интенсивности шума по выводам "...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам определения потенциально ненадежных интегральных схем (ИС) в процессе производства, а также на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность: на интегральных схемах по выводам "питание - общая точка" измеряют интенсивность шума при критическом напряжении питания и номинальном. По относительному изм...

Изобретение относится к области испытаний и контроля полупроводниковых изделий (диодов, транзисторов, интегральных схем) и может быть использовано для разбраковки по критерию потенциальной надежности как в процессе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Данное изобретение направлено на повышение достоверности и расширение функциональных в...

Использование: обеспечение качества и надежности полупроводниковых изделий как на этапе производства, так и на этапе применения. Сущность: на партии полупроводниковых изделий измеряют интенсивность шума на двух частотах 1000 Гц и 200 Гц при трех разных температурах (0°С, нормальной и 100°С). Вычисляют показатель формы спектра шума γ по формулегде , и - квадрат эффективног...

Изобретение относится к измерению шумов полупроводниковых изделий. Сущность: устройство содержит предварительный усилитель, два независимых канала, работающих в одинаковой полосе частот на разных центральных частотах, дифференциальный усилитель, логарифмическую шкалу и устройство автоматической регулировки усиления, позволяющее автоматически калибровать коэффициент усиления предварительного усилит...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к обеспечению качества и надежности полупроводниковых приборов. Сущность: измеряют интенсивность низкочастотного шума по выводам сток-исток при закороченных выводах исток-подложка в режиме прямого рабочего тока стокового перехода от внешнего маломощного источника при двух значениях тока. Определяют параметр низкочастотного шума α, использ...

Использование: для оценки качества и надежности полупроводниковых изделий на этапе производства и на этапе применения. Сущность: на партии полупроводниковых изделий измеряют интенсивность низкочастотного шума на двух частотах при номинальном значении напряжения питания и одинаковом значении ширины полосы измерения шума. Вычисляют коэффициент , где и - квадрат эффективного значения шума соответс...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам определения потенциально ненадежных аналоговых интегральных схем (ИС) в процессе производства, а также при изготовлении радиоэлектронной аппаратуры. Сущность: на ИС типа операционных усилителей, выполненных по технологии КМОП, включенных по схеме повторителя с заземленным неинвертирующим входом, измеряют среднеквадратичное напряжение шу...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам разделения партии интегральных схем (ИС) на надежные и потенциально ненадежные схемы. Изобретение может быть использовано на выходном контроле у изготовителей, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры. Сущность: у интегральных схем измеряют интенсивность шума по выводам питание-общая точка до и после воздействия элек...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности интегральных схем (ИС), и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий ИС как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность способа заключается в том, что на произвольных выборках интегральных схем из партий пр...

Изобретение относится к контролю качества полупроводниковых приборов. Сущность: полупроводниковые изделия подвергают трехкратному циклу: кипячение в воде и выдержка при комнатной температуре. По результатам изменения интенсивности НЧ шума до и после испытаний проводят отбор потенциально ненадежных изделий. Технический результат: упрощение, сокращение времени разбраковки. 1 табл.

Изобретение относится к микроэлектронике, в частности к обеспечению надежности транзисторов. Сущность способа заключается в том, что на одинаковых выборках из сравниваемых партий транзисторов проводят измерение интенсивности шума разных переходов после четырехкратного воздействия электростатическими разрядами потенциалом, начиная с допустимого, затем увеличивая его не более чем в два раза с число...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности интегральных схем (ИС), и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий ИС как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность способа заключатся в том, что на произвольных одинаковых выборках схем из партий прово...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности полупроводниковых изделий (диодов, транзисторов и интегральных схем), и может быть использовано для разбраковки по критерию потенциальной надежности как в процессе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность способа разбраковки полупроводн...

Изобретение относится к области радиоизмерений, а именно к измерению шумов полупроводниковых изделий, и может быть использовано для лабораторных и цеховых измерений параметра шума γ. Устройство для измерения параметра низкочастотного шума γ содержит два независимых канала усиления, к выходу которых подключен дифференциальный усилитель с подачей сигнала на логарифмическую шкалу, и устройство автом...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения надежности полупроводниковых изделий (ППИ) (транзисторов и интегральных схем), и может быть использовано для обеспечения повышенной надежности партий изделий как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Способ отбраковки полупроводниковых изделий предполага...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности полупроводниковых изделий (ПИИ), и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий НИИ как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях - изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность изобретения заключается в том, что на одинаковых выборках из сравниваемых...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения надежности транзисторов, и может быть использовано для разделения транзисторов по надежности в процессе производства, а также на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность: проводят измерения коэффициента усиления транзисторов в схеме с общим эмиттером при нормальной и повышенной т...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности интегральных схем (ИС), и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий ИС как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Предложен способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем, в соответствии с ко...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к обеспечению качества и надежности полупроводниковых изделий (ПЛИ), в частности транзисторов, и может быть использовано как на этапе производства, так и на этапе применения. Способ разделения транзисторов по надежности включает измерение низкочастотного шума, при этом измерение напряжения низкочастотного шума перехода эмиттер-база проводят до и...

Способ разделения полупроводниковых изделий по надежности заключается в том, что на партии полупроводниковых изделий измеряют интенсивность шума на двух частотах 200 Гц и 1000 Гц. Вычисляют показатель формы спектра шума γ по формуле: , где и - квадрат эффективного значения шума соответственно на частотах f1 и f2, проводят воздействие рентгеновским облучением дозой, допустимой по техническим у...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности полупроводниковых изделий ППИ (транзисторов и интегральных схем), и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий ППИ как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятии - изготовителе радиоаппаратуры. Способ заключается в том, что на произвольных одинаковых выборк...