Решетов Владимир Николаевич (RU)

Изобретение относится к технике контроля материалов и изделий и может быть использовано при наноиндентировании, или в сканирующем зондовом микроскопе, для измерения электрических свойств поверхности материала с нанометровым разрешением. Зондовое устройство для измерения электрических параметров материалов содержит основание и электропроводящий зонд с заостренной контактирующей зоной, выполненный и...

Изобретение относится к технике контроля материалов и изделий и может быть использовано для измерения параметров рельефа поверхности и механических характеристик материалов с субмикронным и нанометровым пространственным разрешением. Техническим результатом является повышение быстродействия и чувствительности устройства и расширение его функциональных возможностей. Устройство для измерения физико-...

Изобретение относится к технике контроля и исследования материалов и изделий и может быть использовано для определения параметров рельефа поверхности и механических характеристик материалов с субмикронным и нанометровым пространственным разрешением. Устройство содержит пьезоэлектрический стержень с двумя внешними и одним разделительным электродом, индентор, размещенный на одном из концов стержня,...

Изобретение относится к контактным системам низковольтного аппаратостроения и может быть использовано в разъемных контактах коммутационных устройств и предохранителей. Врубной контакт содержит подвижный ножевой контакт, неподвижный контакт и планку, подвижно прикрепленную к неподвижному контакту и прижатую к нему посредством пружины с возможностью размещения подвижного ножевого контакта между неп...

Изобретение относится к электрическим выключателям, а именно к устройствам мгновенного действия, в которых энергия накапливается при сжатии спиральной пружины, один конец которой жестко прикреплен к неподвижной части выключателя, а другой взаимодействует с подвижным жестким элементом при помощи цевочного механизма, и может быть использовано в независимых приводах выключателей с поступательным пе...

Изобретение относится к технике контроля и исследования материалов и изделий и может быть использовано для определения параметров рельефа поверхности (линейные размеры, шероховатость), механических (твердость, модуль упругости) и трибологических (коэффициент трения, износостойкость, время жизни покрытий) характеристик материалов с субмикронным и нанометровым пространственным разрешением. Устройс...