PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Спектор С.А.

Изобретатель Спектор С.А. является автором следующих патентов:

Экзофтальмометр

Экзофтальмометр

  . ИЫ1МЙ ВЯП. ЪИК 3h 1ЩЮЮц лгнт=ы=н вн"-хыннт.тн нничнгчиыычгныы@Вйнннннычннтчынн чнвнииыынюченгнгчююн ОПИСАНИЕ зкзофтальмометра. К авторскому свидетельству С. A. Спектор, заявленному 15 сентября 1934 года (спр. о перв, .:"й 153997). О гы: аче авторского свидегедьства о:губ:вковано 31 мак 1935 года. Зкзофтальмометр предназначен для глаз прибором Гертеля у животных, ныивлеиин ст...

43126

Прибор для измерения больших постоянных токов

Прибор для измерения больших постоянных токов

  ,.% 110291 Класс 2le, ЗО! СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ С. А, Спектор ИРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ БОЛЬШИХ ПОСТОЯННЫХ ТОКОВ Заяяле((О 3! декабря (955 г, за Хо 7003/45ат54 я М((ш(етер!етяi! электро!(1)о(!(ышг(е(шостя (:(.(:Р Для измерения постояннык токов большой величины применяют npuO0Pb(, СОСТОЯЩИЕ ИЗ !!ЪВС ГВ(! ГСГ(ЬНО(0 элемента, преобразуюш(го величину напря...

110291

Устройство для измерения постоянных токов большой величины

Устройство для измерения постоянных токов большой величины

  Гласе "!е,,3vc1 С. А. Спектор УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОСТОЯННЫХ ТОКОВ БОЛЬШОЙ ВЕЛИЧИНЫ Заявлено 19 декабря 1957 г. за № 588207 в Комитет по дочам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Для измерения постоянных токов большой величины известно примепение датчиков Холла, помещаемых в магнитном поле, создаваемом измеряемым током. Особенность предлагаемого устройс...

116053

Устройство для измерения магнитных полей по методу ядерного магнитного резонанса

Устройство для измерения магнитных полей по методу ядерного магнитного резонанса

  ¹ 319250 Класс 21е, 12 СССР Г ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ С. A. Спектор УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ ПО МЕТОДУ ЯДЕРНОГО МАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА Заявлено 24 сентября,!958 г. за № 608317/24 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 8 за 1959 г. Предметом изобретения являетс...

119250

Способ контроля электролюминесцентных p-n-структур

Способ контроля электролюминесцентных p-n-структур

 Способ контроля электролюминесцентных p-n-структур, включающий измерение интенсивности электролюминесцентного излучения со стороны эпитаксиального слоя, отличающийся тем, что, с целью неразрушающего контроля толщины p-n-областей электролюминесцентной структуры, дополнительно измеряют интенсивность электролюминесцентного излучения со стороны подложки и по отношению определяют толщину p-n-о...

971041


Устройство для измерения магнитной индукции

Устройство для измерения магнитной индукции

 Изобретение относится к области магнитных измерений и может быть использовано для автоматического измерения магнитной индукции однородных и неоднородных магнитных полей. Цель изобретения - повышение точности. Устройство содержит блок управления, устройство перемещения преобразователя Холла, блок установки исследуемых магнитов, электромагнит, регистрирующее устройство, аналого-цифровые пре...

2117310