Добровольский П.П.
Изобретатель Добровольский П.П. является автором следующих патентов:
Способ и приспособление для вальцевания резиновых смесей, устраняющие их перегрев
Класс 89ц --9 Pfo Д®7 ОПИСАНИЕ способа и приспособления для вальцевания резиновых смесей, устраняющего их перегрев. К авторскому свидетельству В. П. Андреева, С. В. Качалова и П. П. Дебровольского, заявленному 17 апреля 1933 года (спр. о перв. № ?27360). О выдаче авторского свидетельства опубликовано 31 декабря 1933 года. В настоящее время вальцевание каучука и примешиваемых...
33675Питатель кудельного агрегата
ЛЪ 68175 Класс 29а, 2 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 5 АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ Зарегистрировано в Бюро изобретений Госплана СССР П. П. Дабревольский и С. А. Дербенев < юn *« I 3аявлепо 2 августа 1945 года в Наркомтекстилв за ЛЪ 2411 (339903) Опубликовано 31 марта 1947 года Йитатель r> дельного агрегата предназначается для лараллелизации волокон турбинных отходов перед огеаботяой...
68175Трепальная камера швинг-турбины
Класс 29а, 2„ СССР № 70606 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ С. И. Дербенев и П. П. Добровольск Трепальная камера швинг-турби Заявлено 16 декабря 1946 года в Министерство текстильной промышленности СССР за № 2690 (350285) Опубликовано 31 марта 1948 года Предмет изобретения 1. Трепальная камера швинг-турбины с барабаном, снабженным подбильной решеткой, ножи кот...
70606Устройство для механической посадки кусков теста в формы печного конвейера
. Й Ю()О К. (яс Изобретение направлено Ii t j) ««:С(МС У«тРОйетВа: I!el фп!. «I ." ..I ВОМ, ЧТО I ij) II КЛ)К 1()М (1>ll i(< li i!;: < t TAOTj) «ОЯIОIЦ(I О Иliîi i )! rl -))< 1()(1(П 1(OЫ ПОП Т«(ТО (О. JiT(-.". ПОЙ. Ilr ;(( ;г- 1: ! 1",! ! / g (С 1 . 117 1! ! 1!! ) !
89008Машина для завертывания в этикетку и заклеивания штучного хлеба
Класс 81а, 7«т СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ П. П. Добровольский МАШИНА ДЛЯ ЗАВЕРТКИ В ЭТИКЕТ И ЗАКЛЕИВАНИЯ ШТУЧНОГО ХЛЕБА Заявлено 23 февраля 195l r. за _#_o 2039/4-т3564 в Гостехнику CCCP Оиубликонано в «Бтоллетене изобретений» Я ) за 1954 г, Известны машины для завертки в этикет и заклеивания штучного хлеба, действующие путем образования петли из руло...
96884Устройство для измерения концентрации легирующих примесей в полупроводниках
Устройство для измерения концентрации легирующих примесей в полупроводниках, содержащее смеситель, входы которого соединены соответственно с выходами первого и второго высокочастотных генераторов и входами сумматора, выход которого подключен к входу регулируемого усилителя, первый и второй синхронные детекторы, первые входы которых подключены к выходу первого высокочастотного генератора,...
1353124Способ определения профиля концентрации примеси в полупроводниках и устройство для его осуществления
1. Способ определения профиля концентрации примеси в полупроводниках по авт.св.N 689423, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, освещают полупроводниковый образец со стороны прозрачного электрода немодулированным световым потоком с интенсивностью, равной сумме средних интенсивностей обоих модулированных световых потоков, и измеряют переменное напряжение фотоЭДС на тех же часто...
1426252Устройство для измерения концентрации легирующих примесей в полупроводниках
Устройство для измерения концентрации легирующих примесей в полупроводниках, включающее высокочастотный генератор, выход которого подключен к первым входам первого и второго синхронных детекторов и к первому входу первого сумматора, выход которого через первый регулируемый усилитель и второй фильтр соединен с первым входом второго сумматора, второй вход которого соединен с блоком смещения...
1570561Способ определения профиля концентрации примесей в полупроводниках и устройство для его осуществления
1. Способ определения профиля концентрации примесей в полупроводниках, заключающийся в подаче на полупроводниковый образец напряжения смещения, одновременном освещении полупроводникового образца двумя световыми потоками с частотами f1 и f2 и регистрации возникающих в полупроводниковом образце переменных напряжений с комбинационными частотами f1 + f2 и f1 - f2, отличающийся тем, что, с цел...
1646390Устройство для измерения характеристик полупроводников
Устройство для измерения характеристик полупроводников, содержащее первый и второй источники света, оптически связанные с первым и вторым входами световода с полупрозрачным металлическим электродом, установленным на выходе световода, направленного на полупроводниковый образец, изолированный от полупрозрачного металлического электрода и подключенный к первому выходу источника смещения, пер...
1816116