PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КРЯЧКО ВИКТОР ВАСИЛЬЕВИЧ

Изобретатель КРЯЧКО ВИКТОР ВАСИЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ плазменного нанесения пленок

Способ плазменного нанесения пленок

  О П И С А- - Н И Е (и) 217552 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Сооетскик Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ. (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 12.11.66 (21) 1112179/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 15.05.75. Бюллетень № 18 Дата опубликования описания 28.07.75 (51) М. Кл. Н 011 41/14 Н 0511 1/22 Н Olj 37/34 С 23с 15/00 Государст...

217552


Устройство для измерения поверхностного потенциала

Устройство для измерения поверхностного потенциала

  Изобретение относится к техник-е электроизмерений. Цель изобретения - повышение точности и надежности. Устр-во содержит эоид в виде световода 1 со слоем металлизации 2, на рабочий торец которого нанесен слой фотополупрОБОдника 3, а к другому его торцу подстыкован источник 4 света , модулированный по яркости, а также усилитель 5 электрического сигнала и регистратор 6. Устр-во уста...

1427310

Способ создания электрического контакта к полупроводнику или диэлектрику

Способ создания электрического контакта к полупроводнику или диэлектрику

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при - контроле технологических процессов в полупроводниковом приборостроении. Целью изобретения является повышение воспроизводимости площади контакта. Сущность изобретения заключается в том, что к слою диоксида кремния толщиной 2 мкм прижимают зонд из плавленого индия, выполненный в виде конуса высотой 2,5 мм...

1711271

Способ бесконтактного контроля чистоты поверхности полупроводниковых пластин

Способ бесконтактного контроля чистоты поверхности полупроводниковых пластин

  Назначение: изобретение относится к электроизмерительной технике, может быть использовано в промышленных условиях в качестве экспресс-контроля и позволяет повысить качество контроля поверхности полупроводниковых пластин. Сущность изобретения: измеряют в темноте зондом Кельвина потенциал поверхности контролируемой пластины и образца сравнения . Повторяют измерения при освещении по...

1796079