ЛИДЕР ВАЛЕНТИН ВИКТОРОВИЧ

  ВСаСОЮЗР1АЯ ВАЯ1т1 ; (ь и.;pgpg. фебиййаещ ффр„ф! Соооэ Советских Социалистимеских Республик ОП ИСАНИ Е (1 1) 442399 ИЗОБРЕТЕНИЯ Н АВТОРСНШтоУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено Ю.05.72 F21)I782328Щ. (б1) щ. кл. 9 (Иф23/2О Н K ЗУ/26 (я) Удк 627.386 (088.8) с присоединением заявки Гооудеротоонньй нометет Совета тенннстроа СССР по деяам нзооретенн...

  Союз Советских Социалистичвских Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 842519 (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 17.08.79 (21) 2810247/18-25.(51)М. Кл. с присоединением заявки йо G 01 N 23/20 Государственный комитет. СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет 13.07. 79 Опубликовано 300681 Бюллетень N9 24 (53) УДК 621. 386 (088.8) Дат...

  Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу. Целью изобретения является увеличение чувствительности, точности и экспрессности. Способ основан на том, что при использовании асимметричного отражения из-за разницы в рефракции рентгеновских лучей дифракционный максимум на образце смещен относительно максимума, полученного от края образца. При этом кривая качания образца, «ку...

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИК А1 ИЮ (И) G 01 N 23/20 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬС ГВУ Величина разрешения пропорциональна расстоянию образец — фотопластинка, а нри K = 1 мм (такое расстояние не следует считать минимально достижимым) оно может быть доведено до 1 мкм, что сравнимо с величиной эер- й. на мелкозернистых фотоэмульсий. В случае, когд...

  Изобретение относится к рентгенодифракционным исследованиям структуры кристаллов, а более конкретно к установкам для рентгеновской топографии с использованием синхротронного излучения. Цель изобретения - расширение круга решаемых задач и повышение точности. Для этого первый кристаллодержатель 2 с кристаллом-монохроматором 11 установлен с возможностью перемещения вдоль пучка по нап...

  Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу и может быть использовано для неразрушающего контроля качества полупроводниковых кристаллов. Цель изобретения - повышение чувствительности и экспрессоности. Сущность способа состоит в том, что при его реализации, в отличие от известной трехкристалльной схемы дифракции, используемый в ней второй монохроматор изготовляют таким обр...

  Изобретение относится к области исследований поверхности твердого тела посредством дифракции рентгеновских лучей и может быть использовано при создании и контроле акустоэлектронных приборов, использующих поверхностные акустические волны. Целью изобретения является упрощение способа исследования и расширение области его применения для устройств с любыми частотами ультразвуковых во...