ГЕРЛОВИН БОРИС ЯКОВЛЕВИЧ
Изобретатель ГЕРЛОВИН БОРИС ЯКОВЛЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для обработки сферических поверхностей Устройство для обработки сферических поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/11cbdf85ec983efffa338bf624866703.jpg)
Устройство для обработки сферических поверхностей
САН ОПИ ИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ рц 4752l8 боюе боветских Вониодиатических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 17.07.72 (21) 1810237/25-8 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 30.06.75. Бюллетень № 24 Дата опубликования описания 14.10.75 (51) М. Кл. В 23Ь 5/40 В 23q 27/00 Государственный комитет Совета Министров СС...
475218![Устройство для шлифования криволинейных поверхностей Устройство для шлифования криволинейных поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c55893d978279b7d305a8236520242cc.jpg)
Устройство для шлифования криволинейных поверхностей
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союэ Советских Социалистических Республик (и) 50О037 (61) Дополнительное к авт. свид-sy (22) Заявлено29,10.71 (21) 1709730/25-8 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 25.01,76 Бюллетень №3 (45) Дата опубликования описания 17 05.76 (51) М. Кл. В 24В 19/14 Гпсударстаенный нпмитет Саввта Миннстроа СССР па дел...
500037![Способ шлифования криволинейных поверхностей Способ шлифования криволинейных поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d8bda14aa3016b703d75bd5c5ce0dd3c.jpg)
Способ шлифования криволинейных поверхностей
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ с,,) 5l2035 Сова Советских Социалистических РеСнублик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 29.10.71 (21) 1709734 25-8 с присоединением заявки . А (23) Приоритет Опубликовано 30.04.76. Бюллетень ЛЬ 16 Дата опубликования описания 18.06.76 (51) М. K;I 2 В 24В 19/14 Государственный комитет Совета Министров СССР по дела...
512035![Способ контроля формы полированой сферической поверхности детали Способ контроля формы полированой сферической поверхности детали](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f0aefd805ae83053c1e7e0594235a85e.jpg)
Способ контроля формы полированой сферической поверхности детали
О П И С А Н И Е п1, 574604 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свпд-ву (22) Заявлено 24.05,76 (21) 2365443/28 (51) N. Кл г G 01В 11/24 G 01B 9/02 с присоединением заявки № ЬсУдаРствеиный комитет (23) Приоритет Совета Министров СССР оо де„нзобретений Опуолпковано 30.09.77. Бюл lcl cHI. № 36 (53) УДК 531...
574604![Устройство для измерения оптической передаточной функции Устройство для измерения оптической передаточной функции](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ae5c98d5c820591b62f38fe7579fde99.jpg)
Устройство для измерения оптической передаточной функции
Сотоа Советскик Сещиэлистич еских т ЕСВубЛИК «ii 684367 * @,/ (61) Дополнительное к авт. свмд-ву (22) заявлено 251078 (2() ) 4747/27-10 (5()М. Кл. G 01 И 11/00 с присоедмнением заявки М 2414748/10 и 2414749/10 (23) Приоритет Государственный комнтет СССР по делам нзобретеннй н открытнй (53) УДК 535. 317..7 (088,8) Опублнковаио 050979. Бюллетень М 33 Дата опубликования опмсан...
684367![Способ контроля формы поверхностишариковых линз Способ контроля формы поверхностишариковых линз](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d13baba0ca31a18610e1339a534e6c89.jpg)
Способ контроля формы поверхностишариковых линз
Союз Соаетскмд Соцмапмстмческмк Рес убпмк ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ 1 ) 800627 (61) Дополнительное к авт. сеид-ву (22} Заявлено 100479 (21) 2749585/25-28 с присоединением заявки Но (23) Приоритет Опубликовано 300181. Бюллетень г 9 4 Дата опубликования описания 3003 81 р )м. кл.з G 01 В 11/24 G 01 В 9/02 (53) УДК 531 ° 715 ° 1 (088.8) Государственный...
800627![Устройство для контроля качества изображения оптических систем Устройство для контроля качества изображения оптических систем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7b8f6eb12c858632b74b224340cbd665.jpg)
Устройство для контроля качества изображения оптических систем
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано как для контроля крупногабаритных систем с диаметром входного зрачка до 2-3 м, так и микрооптики. Цель изобретения - расширение спектрального диапазона контроля качества изображения оптических систем путем определения полихроматических волновых .аберраций. Цель достигается тем, что в устройстве для конт...
1420428![Интерферометрическое устройство для контроля фазовых колец Интерферометрическое устройство для контроля фазовых колец](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ec44a6d68f3520e883f5bb0cbea0589e.jpg)
Интерферометрическое устройство для контроля фазовых колец
Изобретение относится к оптической измерительной технике, более конкретно - к устройствам дпя контроля фазовых колец микрообъективов фазового контраста, и позволяет повысить достоверность контроля. Деталь 5 с контролируемым фазовым кольцом 6 помещают в микрообъектив 4. . Благодаря введению цилиндрической линзы 13 можно наблюдать интерференционную картину в виде полос, расположенн...
1465857![Способ контроля вогнутой сферической линзовой поверхности и устройство для его осуществления Способ контроля вогнутой сферической линзовой поверхности и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ba02e0d3129b9335e530e7445e693d95.jpg)
Способ контроля вогнутой сферической линзовой поверхности и устройство для его осуществления
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля образцовых сферических линзовых поверхностей в интерферометре Физо. Целью изобретения является повышение точности контроля за счет увеличения набега фазы в интерферирующих пучках и упрощение конструкции. Пучок излучения фокусируют в плоскости наклонного зеркала. Пучок проходит через отв...
1534299![Способ контроля сферических поверхностей объективов Способ контроля сферических поверхностей объективов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/20a624af48f233ec1b1bbc349209b82b.jpg)
Способ контроля сферических поверхностей объективов
Изобретение относится к приборостроению, а именно к способам контроля сферических поверхностей объективов, и может быть использовано в производстве прецизионных объективов и в других областях оптического приборостроения, требующих контроля формы сферических поверхностей. Цель изобретения - повышение надежности контроля путем увеличения числа контролируемых точек и упрощение процед...
1578551![Способ изготовления образца для контроля микроскопов Способ изготовления образца для контроля микроскопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8649cdf4c4adb36531095b2b9aa87e6f.jpg)
Способ изготовления образца для контроля микроскопов
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для контроля микроскопов и микрообъективов по качеству изображения . Цель изобретения - улучшение качества образца путем повышения однородности распределения частиц латекса по поверхности образца. Цель достигается тем, что в способе изготовления образца для контроля микроскопов , включающем нанесение на...
1631341