СМИРНОВ ИГОРЬ КОНСТАНТИНОВИЧ

  Ани ОПИС Е ИЗОБРЕТЕНИЯ (ii) 49I592 Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.08.72 (21) 1818723/29-33 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.11.75. Бюллетень ¹ 42 Дата опубликования описания 04.03.76 (51) М. Кл. С 03b 1/00 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам...

  ОП ИСАНИЕ И ЗОБееЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДИТИЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (и),622ОО8 (61) Дополнительное к авт. свид-ву \ (22) Заявлено 03.12.74 {21} 2080024/08 с присоединением заявки № (23) Приоритет(43) Опубликовано2 д,07.76.Бюллетень №27 (45) Дата опубликования описанияО8.08.76 (о!) М, Кл.е 523G 5/06 Гасударственный ноинтет Соввтв еенннстров СССР а...

  Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04.03.76 (21) 2330367/25-08 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.05.78. Бюллетень № 20 (45) Дата опубликования описания 16.05.78 (51) М. Кл В 23G 1/16 Государственный комитет Совета Министров СССР ло делан изобретений и открытий (53) У...

  ° )г oy37HAyll , . т 1 ..f - l"Д г ш1655661 О П И С А Й- Й Е ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 12.11.7 6 (21 } 2419501/29-33 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет Опубликовано 05.04.79Бюллетеиь № 13 Дата опубликовании описания 05.01,79 Союз Советских Социалистических Республик (51} М. Кл. С 03 В 5/22 Государств...

  О П И C А Н И Е (ii)6763l3 ИЗОБРЕТЕН И Я ьоюз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 18.09.73 (21) 1960143/23-26 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.07.79. Бюллетень № 28 (45) Дата опубликования описания 30.07.79 (51) М. Кл.з В 01J 2/10 Государственный комитет СССР (53) УДК 66...

  УСТРОЙСТВО К МИКРОСКОПУ ДЛЯ ИЗМЕНЕНИЯ УГЛА ЗРЕНИЯ, содержащее неподвижную опору, предметный столик и механизм перемещения микроскопа,. от л и ч ающ е ее я тем, что, с целью повышения производительности путем сохранения постоянства фокусировки микроскопа на выбранную точку объекта 1у в него введено зеркало, установленное с возможностью перемещения по направляющим, соединенным чере...

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОадИНЫ и ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ . ПЖЙКИ, содержащее предметный столик, выполненный с возможностью поворота .вокруг оси вращения, параллельной плоскости этого столика, планку, установленную с возможностью поворота вокруг той же оси вращения, последрватрльно расположенные перед пред метным столиком источник параллельного монохроматического и линейно поляри...

  Изобретение относится к измерительной технике и является дополнительным к авт. св. № 1073568. Целью дополнительного изобретения является повышение точности измерений путем устранения влияния внешних световых помех. Линейно-поляризованный монохроматический световой поток от источника излучения, распространяющийся перпендикулярно к оси вращения предметного столика, проходит через п...

  Изобретение относится к устройствам для гранулирования порошкообразных материалов и может быть использовано в химической промышпенности и промышпенности строительных материалов. Цель изобретения - повышение надежности и производительности устройства. Гранулирование производится в устройстве, содержащем эластичную обечайку в виде плотно уложенных витков гибкого полого профиля , сн...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения шероховатости поверхности изделий. Цель изобретения - повышение точности определения параметров шероховатости полированных поверхностей путем исключения погрешности, связанной с измерением интенсивности света, отраженного контролдироуемой полированной поверхностью в зеркальном направлении. Конт...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, приборостроении и оптической промышленности для бесконтактного контроля качества прецизионной обработки поверхностей изделий. Цель изобретения - повышение производительности контроля путем одновременного измерения интенсивностей зеркально отраженного и рассеянного света. Устройство содержит п...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля чистоты обработки высокоотражающих металлических поверхностей изделий, не имеющих регулярной составляющей шероховатости. Целью изобретения является повышение производительности определения среднеквадратичного отклонения и периода корреляции высот неровностей, являющихся параметрами шероховатости....

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неконтактного и неразрушающего контроля микродефектов на сверхгладких поверхностях изделий. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет непосредственного измерения величины lo и использования циркулярно поляризованного излучения. Последовательно фокусируют на различные участки контролируемой по...