СЛИЦАН МИХАИЛ СОЛОМОНОВИЧ

  ОЛИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ш1 5235ll Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву 485541 ("2) Заявлено 15.11.72 (21) 1846955/09 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 30.07.76. Бюллетень № 28 Дата оп у бликования описания 12.08.76 (51) M. Кл. Н ОЗН 3/02 Государственный комитет Совета 1Иинистров СССР по де...

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1ц 572897 Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 11.10.74 (21) 2066885/09 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 15,09.77. Бюллетень № 34 Д»т» опубликования описания 28.09.77 (51) М. Кл.з Í 03Н 9/18 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобрет...

  . X

  А.С. Иоиковсккй, Б.Н. Банков, И.С. Слован,, В.l(, Русаков ( и К.К. Казаченко в о (1 1 с > (72) Авторы вэобретемяя (71) Заяввтель. (54) COCTAS ДЛЯ ИЗГОтОВЛКНИЯ ПОЛИРОВДЛЬНИКА Изобретение относится к обработке материалов в технологии приборострое; ния, в частности к обработке опти- ческих и пьезоэлектрических изделий. Известен полировальник для полирования оптических деталей,...

  СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛАСТИН/ включающий воздействие на контролируемую пластину переменным электрическим сигналом с частотой, соответствующей возбуждению нечетной моды колебаний, первое измерение информативного параметра, повторное воздействие на контролируемую пластину переменным электрическим сигналом и второе измерение информативного параметр...

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (19) (П) (511 4 В 24 В 37/04 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ И К А ВТОРСИОМЪГ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3799420/25-08 (22) 05.10.84 (46) 23.06.86. Бюп. 0 . 23 (72) М.С.Слицан, О.А.Мещеряков, С.П.Катков, В.К,Русаков, З.В.Демидова и А.С.Мошковский (53) 621.923.5(088.8) (56) Авторское свидетел...

  . Изобретение относится к области исследования физических свойств материалов , а точнее к методам определения структурного совершенства кристаллов с помощью электронного парамагнитного резонанса, и может быть использовано в производстве кристаллических элементов приборов оптической и радиоэлектронной техники. Цель изобретения - повышение информативности способа путем измерения чи...