PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1150525

Устройство для регистрации зависимости интенсивности отраженного излучения от угла падения на исследуемый объект

Устройство для регистрации зависимости интенсивности отраженного излучения от угла падения на исследуемый объект (патент 1150525)