Иллюстрации к патенту 147000

Устройство для автоматической наводки и фокусировки микроскопа при наблюдениях микроструктуры металлов и сплавов в процессе деформации с различными скоростями и нагревом в широком диапазоне температур в вакууме и защитных средах