PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2657327

Способ оценки стойкости элементов цифровой электроники к эффектам сбоев от воздействия единичных частиц

Способ оценки стойкости элементов цифровой электроники к эффектам сбоев от воздействия единичных частиц (патент 2657327)