PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2667006

Способ определения посттрансплантационного химеризма при анализе точечных мутаций замены оснований в генах f2, f5, f7, f13, fgb, itga2, itgb3, pai-1

Способ определения посттрансплантационного химеризма при анализе точечных мутаций замены оснований в генах f2, f5, f7, f13, fgb, itga2, itgb3, pai-1 (патент 2667006)