Устройство для определения степени компенсации примесей в полупроводниках

Устройство для определения степени компенсации примесей в полупроводниках

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

COKH СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РГСПУВЛИК (s»s Н 01 L21/66

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) (21) 3825029/25 (22) 12.12.84 (46) 15.10.93. Бюл. Ьр 37-38 (71) Институт радиотехники и электроники

AH СССР (72) В.И.Бугаев, А,С.Веденеев и А.",.Æäàí (5á) Блад П., Сртон Дж,В, Методы измерения электрических свойств полупроводников. — Зарубежнав Радиоэлектроника, 1981, К . f, с. 3 — 50, Авторское са..датель "тво СССM. 707455 кл. 6 01 «27/00, 1 980, (5Я57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕННАЯ

СТЕПЕНИ КОМПЕНСАЦИИ ПРИМЕСЕЙ 8

PQjgggPQQQP 1 /) Д с, ру аувер рле дуемый и зталонный образцы, к холлам.:ким контактам которых подключены усилители

ЭДС XolM3, а к тОкОВым KQHTBKTBM эталон" ного образца подключен источник тока, о т л ича Го щеесв тем, что, с цельюупроицения и повышений оперативности и точности измерениЙ, в него дополнительно введен ди еренциальный операционный усилитель к инвертирующему и неин!.-ертирую це- у с: од"; кл,.орог", о од .;,с ю з г : г * ° усилителей ЗЛС Холла, а выходдиФа>воен.::,:1— альнаго операционного усилител:4 соединен .. пеодь м TQ;оьы Ф к:."..г актом исса; уердого с :РРЗВЛ }f, тз ОРОСИ;. :" "КОВО :, КО та ктУ КЩ QPQ Q подклгочен измерчтель «ока.

Редактор

Заказ 3383

Техред M.Моргентал Корректор 0. Густ и

Тираж Подписное

НПО "Поиск" Роспатента

113035. Москва, Ж-35. Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент". г. Ужгород. ул.Гагарина. 10i