Электронномикроскопический способ измерения полей рассеяния

Электронномикроскопический способ измерения полей рассеяния

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ (ц 503317

Союз Советских

Социалистических

Ресвублик

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 21.06.74 (21) 2035908/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.02.76. Бюллетень № 6

Дата опубликования описания 19.04.76 (51) М. Кл. .Н 01J 37/26

G 0IN 33/00

Государственный комитет

Совета Министров СССР

an делам изобретений и открытий (53) УДК 621.385.833 (088.8) (72) Лвторы изобретения

А. Е. Лукьянов, Э. И. Рау, В. П. Иванников и В. Н. Гусев

Московский ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени государственный университет им. М, В. Ломоносова (71) Заявитель (54) ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЙ СПОСОБ

ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЕЙ РАССЕЯНИЯ

Изобретение относится к области электронной микроскопии и может быть использовано для исследования и измерения магнитных и электрических полей.

Известен электронно-микроскопический способ измерения полей рассеяния путем воздейтвия исследуемым полем на электронный пучок, пропускаемый мимо образца, с последующей регистрацией информации об измеряемых полях.

Недостатками способа являются большая трудоемкость и невозможность автоматизировать процесс измерения, что весьма ограничивает точность измерений.

Целью изобретения является повышение точности измерений и автоматизации получения распределений различных компонентов измеряемых полей непосредственно на экране регистрирующего устройства.

Для достижения поставленной цели по предлагаемому способу осуществляют выделение информации о локальной величине измеряемого поля из величины отклонения в этом поле электронного пучка, развертываемого в линию по одной из координат, путем преобразования в любой фиксированный момент времени электрического сигнала, адекватного току пучка, в оптический сигнал, последующего ослабления оптического сигнала пропорционально величине отклонения электронного пучка по другой координате и обратного преобразования выходного оптического сигнала в электрический.

Измерение полей рассеяния по данному

5 способу производят следующим образом.

Электронный пучок, сформированный электронной пушкой и сфокусированный в зонд малого (менее 1 мкм) диаметра, развертывают в линию по одной из координат (напри1о мер, параллельно рабочей поверхности магнитной головки и перпендикулярно плоскости рабочего зазора — при измерении тангенциальной компоненты поля рассеяния над рабочим зазором) и направляют параллельно осе15 вой линии рабочего зазора, так что на пучок действует магнитное поле рассеяния и отклоняет его. Далее отклоненный пучок в любой фиксированный момент времени преобразуют в оптический пучок таким образом, чтобы све2О товой поток был пропорционален току электронного пучка. Полученный оптический сигнал ослабляют пропорционально величине отклонения электронного зонда по координате, перпендикулярной линии развертки, но не

25 меняют его интенсивности при отклонении электронного пучка вдоль линии развертки.

Затем оптический сигнал вновь преобразуют в электрический и фиксируют значение полученного в данный момент времени электри30 ческого сигнала. Полученный таким образом

503317

Составитель Б. Калин

Корректор Т, Гревцова

Техред Т. Курилко

Редактор И. Шубина

Заказ 759/11 Изд. № 1127 Тираж 963 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

1!3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 сигнал будет пропорционален величине отклонения электронного пучка только под воздействием одной из компонент поля рассеяния (в данном случае — тангенциальной компоненты), т. е. при соблюдении известных требований к скорости электронов, максимальной протяженности и максимальному значению индукции поля рассеяния сигнал будет пропорционален локальному значению компоненты поля рассеяния в месте прохождения электронного зонда через это поле.

При реализации способа обеспечивается автоматическая регистрация информации о распределении полей рассеяния, устраняется возможность получения дополнительных ошибок при измерениях из-за использования какихлибо структурных элементов — датчиков информации о величине отклонения электронов в измеряемом поле, обеспечивается раздельная регистрация каждой из компонент исследуемого поля рассеяния. Последовательное преобразование электрического сигнала в оптический, обработка оптического сигнала и преобразование его вновь в электрический сигнал дает существенные преимущества при обработке и регистрации информации о полях рассеяния.

Формула изобретения

5 Электронно-микроскопический способ измерения полей рассеяния путем воздействия исследуемым полем на электронный пучок, пропускаемый мимо образца, с последующей регистрацией информации об измеренных по10 лях, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и автоматизации получения распределений различных компонент измеряемых полей непосредственно на экр ане регистрирующего устройства, осу15 ществляют выделение информации о локальной величине измеряемого поля из величины отклонения в этом поле электронного пучка, развертываемого в линию по одной из координат, путем преобразования в любой фиксиро20 ванный момент времени электрического сигнала, адекватного току пучка, в оптический сигнал, последующего ослабления оптического сигнала пропорционально величине отклонения электронного пучка по другой коорди25 нате и обратного преобразования выходного оптического сигнала в электрический.