PatentDB.ru — поиск по патентным документам

РАУ ЭДУАРД ИВАНОВИЧ

Изобретатель РАУ ЭДУАРД ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Электронномикроскопический способ измерения полей рассеяния

Электронномикроскопический способ измерения полей рассеяния

  ОПИСАНИЕ (ц 503317 Союз Советских Социалистических Ресвублик ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 21.06.74 (21) 2035908/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.02.76. Бюллетень № 6 Дата опубликования описания 19.04.76 (51) М. Кл. .Н 01J 37/26 G 0IN 33/00 Государственный комитет Совета Министров СССР a...

503317

Растровый зеркальный электронный микроскоп

Растровый зеркальный электронный микроскоп

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ki i) 506084 Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) 3 аявлено 14.05.74 (21) 2024447/26-25 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 05.03.76. Бюллетень № 9 Дата опубликования описания 04.04.76 (51) М. Кл. Н 01J 37, 26 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам и...

506084

Электронномикроскопическое устройство для измерения полей рассеяния

Электронномикроскопическое устройство для измерения полей рассеяния

  Ä„) soveos ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (6I) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 21.06.74(21)2036417/26-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет (43) Опубликовано 25.03.76.Бюллетень № 11 (45) Дата опубликования описания 29.04.76 (51) М. Кл. Н 01ЗЗПаВ Гасударственный кемнтет Савата Мнннетрев СССР аа...

507905

Способ контроля качества магнитных головок

Способ контроля качества магнитных головок

  ОП ИСАН И ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Республик (1>) 555128 К АВТОРСКОМУ СВИДИТВДЬСТЬУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 15.01.76 (21) 2313089/10 с присоединением заявки № (23) Приоритет(51) М. Кл. 011 Q 5/46 Государственный комитет Совета Министров СССР ие делам изобретений и открмтий (43) Опублнковано25,04.77,Бюллетень №16 (53) УДК 534.852.2...

555128

Устройство для наблюдения влажных образцов при помощи растрового электронного микроскопа

Устройство для наблюдения влажных образцов при помощи растрового электронного микроскопа

  (J (11) 5757 3. 7 Союз Советских Социалистических Республик (51} M. Кл. Н 01 Х, 37/26 Государственный намнтвт Саввтв Министров СССР вв делам изобретеннй и открытий Д) УДК537, 533.7 (088,8) (72) Авторы изобретения Э. И. Рау, Г. В. Спивак, Н, М. Карелин и С, В. Лаврищев (71) Заявитель Московский ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени.государственный университет им. М...

575717


Устройство для исследования влажных образцов в растровом электронном микроскопе

Устройство для исследования влажных образцов в растровом электронном микроскопе

  Союз Советских С оцмвлмстмческмх Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (бi) Лополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 20.12.77 (21) 2556636/18-25 (5!) М. Кл. Н 01 Т 37/26 с присоединением заявки № Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 250279.Бюллетень № 7 (оЗ) УЛК621, 385. .833 (088.8) Лата опубликования описания 2802.79 (...

649062

Электронно-микроскопический способ измерения и регистрации изолиний исследуемого параметра объекта

Электронно-микроскопический способ измерения и регистрации изолиний исследуемого параметра объекта

  б,,олиоте:а (» : r" .д Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВМДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 140377 (21) 2461940/18-25 (51)PA. Кл г H 01 J 37/26 с присоединением заявки ¹ Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 050529.Бюллетень № 17 (S3) УДК621.385..833(088.8) Дата опубликования о...

661647

Коллектор-анализатор для растрового электроннного микроскопа

Коллектор-анализатор для растрового электроннного микроскопа

  О П И С А Н И Е ЕтввтО ЙЗОВРЕТЕН ИЯ Сееа Севатеима Сюцнаиметичасии» Мслублми и ) . ".:, 1:.":.:.";(,1 Ц3 (5l} М. Кл. Н 01 3 37/26 И АВТОРСКОМУ СВИДЖТВЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22} Заявлено 20. 12 77 (Я} 2556583/18 — 25 е присоединением заявки ¹â€” Геа1/даратеаааий виапат СССР аа даааи азйратаща в аткр»вй (23) Приоритет— Опубликовано 05. 07. 79. Бюллет...

672670

Способ исследования распределений магнитных микрополей

Способ исследования распределений магнитных микрополей

  ОП ИСАНИЕ()674!21 Союз Советских Социалистических Республик УЖр (б!) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 06.02.78 (2!) 2577819/18-25 с присоединением заявки Хе (23) Приоритет Н 01 Х 37/06 Государственный квинтет СССР но делам изобретений и открытий (53) УДК 621.383. . 811 (088. 8) Опубликовано 15. 07.79.Бюллетень № 26 Дата опубликования описания 20.07.79 (72) Авторы из...

674121

Электроннозондовое устройство для контроля полей рассеяния магнитных головок

Электроннозондовое устройство для контроля полей рассеяния магнитных головок

  О П И С А Н И Е !ii!7696II ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 28.12.78 (21) 2703497/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет (51) М. Кл. G 11В 5/46 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (43) Опубликовано 07.10.80. Бюллетень ¹ 37 (53) УДК 621.317:534. ....

769611


Устройство для стробирования электронного зонда

Устройство для стробирования электронного зонда

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

911650

Способ получения изображений в растровом электронном микроскопе

Способ получения изображений в растровом электронном микроскопе

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистмческнк Республик

911651

Способ формирования изображения в сканирующих электронно- зондовых системах

Способ формирования изображения в сканирующих электронно- зондовых системах

  Изобретение относится к растровой электронной микроскопии. Цель изобретения - повышение точности воспроизведения отдельных фрагментов изображения, устранение избыточной периферийной информации и сокращение времени обработки видеосигнала . Способ основан на облучении образца электронным зондом 2. Синхронные развертки электронного зонда 2 и луча по экрану монитора 3 осуществляют по...

1231547

Устройство для термоакустической дефектоскопии приповерхностных слоев твердых тел

Устройство для термоакустической дефектоскопии приповерхностных слоев твердых тел

  Изобретение относится к электронно-зондовым приборам для исследования микроструктур, в частности к электронно-зондовой технике неразрушающего контроля приповерхностных слоев полупроводников микроструктур, и предназначено для визуализации термоупругих неоднородностей в образце . Цель - повышение точности контроля при термоакустической дефектоскопии . Устройство содержит электронно...

1402922