Способ контроля качества магнитных головок

Способ контроля качества магнитных головок

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАН И

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик (1>) 555128

К АВТОРСКОМУ СВИДИТВДЬСТЬУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 15.01.76 (21) 2313089/10 с присоединением заявки № (23) Приоритет(51) М. Кл.

011 Q 5/46

Государственный комитет

Совета Министров СССР ие делам изобретений и открмтий (43) Опублнковано25,04.77,Бюллетень №16 (53) УДК 534.852.2 (088.8 ) (45) Дата опубликования опнсаннт 02.06.77 (72) Авторы изобретения

М, Б. Халецкий, А. Е. Лукьянов и Э, И. Рау (71) Заявитель (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАГНИТНЫХ ГОЛОВОК

Изобретение относится к приборостроению, в частности, к способу контроля ка чества магнитных головок, преимуществен но головок записи.

Ь

Известен способ контроля качества маИнитных головок, основанный на использова нии микроскопа с мерной шкалой в окуляре и набора ряда зеркал. Этот способ трудоемок и ие позволяет иметь достаточно до Ip стовернов представление о распределении: цоля и о его качестве, а, следвватеттьнв, Й о качестве испытуемей головки.

Прототипом изобретения принято теЫй l5 ческое решение, представляюшее себбй спслсоб контроля качества магнитных головок, основанный на анализе картин распределения полей рассеяния. Но при использовании. этого способа на определение причин ано- 20 мального распределения полей рассеяния кон гролируемых головок уходит достаточно много времени, чтб не всегда, особенно в условиях массового производства, приемлв мо. 25

Целью изобретения является сокращение времени определения причин аномального распределения полей рассеяния.

Это достигается тем, что картину поля рассеяния реальной магнитной головки сравнивают с набором трафаретов, полученных в результате интерференции от наложения упорядоченной(струк.гуры линий на построен» ные эквипотенцкали головок с учетом анри орно йреднолагаемык искажений формы их рабочей побертиеости; яозникаюших, например, вследствие замагннченности носика, наклепа, закругления кромок зазора и дру» гих причин.

На фиг. 1 изображена искуственно выяв . ленная картина поля рассеяния с эквипотен : пиалами, построенными с помощью интегра тора, а на фиг. 2 — картина реальнот о по» лч интегральной магнитной головки, получеьного с помощью электронного микроскопа, Для получения трафаретов найденный ход эквипотенциалей от поверхностей моделей магнитных головок с априорно предполагае лыми искажениями наносят на лист или кап ки, на которые накладывают любым образоф

555128

Выполненную (например, вырезанием) подоб ранную упорядоченную структуру линий или клеток. В результате интерференции от упорядоченной системы параллельных линий и расходящихся эквипотенциалей возникает му- d аровый узор. Эта картина аналогична карти не, возникающей в электронном микроскопе, т.к. обе они получены в результате интерференции от параллельных и радиально расходящихся линий, 10

На фиг. 1 и 2:приведены конкретные ре- альные картины, первая иэ которых была получена при использовании заведомо бездефектной магнитной головки и с использо- ld ванием трафаретов, а вторая — при использовании электронного микроскопа. Изготов,ленная головка близка к идеальной.

Преимущество предлагаемого способа 20 также и в том, что его можно использовать

4 для контроля полюсных наконечников головок, где оперативность контроля также необходима.

Формула изобретения

Способ контроля качества магнитных головок, основанный на анализе картин распределения полей рассеяния, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью сокращения времени определения причин аномального распределения полей рассеяния, картину поля рассеяния реальной магнитной головки сравнивают с набором трафаретов, полученных в результате интерференции от наложе ния упорядоченной структуры линий на построенные эквипотенциали головок а учетоц априорно предполагаемых искажений формы их рабочей поверхности, возникающих, например, вследствие замагниченности носика, наклепа, закругления кромок зазора и дру гих причин.

555128

- ept×Þ ×ÔÆÎÔÓÞÞÔÔÂ×Ìè астсмра т1Л ГЗЪ?%9631

Ю е ° ° ° ч ° в Ф ° °

1 ,llr

° 1, г

%: ъ

Ъ

° .,.... . Ф.

6.

6, °

4 е ° Ь, ° с

% °

° ° ° ° ° °

° \

Ъ

I pt ;ë ß Я М ЯЯ.

° .:...,, „г °

° ° .1 ° ° °

° g °

° ° Э, °

Я у у ц ю,-Q » Щщ ф дщЯфЯффЯ

Фиа. Я

Составитель В Бровкии

Техреду А. Богдан КорректорIН. Бугакова

Редактор t j, Нурнал|

Заказ 4 I F>/12 Тираж 76 о Подписное

ПВИ1П11 Государственного комитета Совета Министров О СР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раущская неб., л. 4/5

Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул, Пр ектнля, 4