PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЛУКЬЯНОВ АЛЬБЕРТ ЕВДОКИМОВИЧ

Изобретатель ЛУКЬЯНОВ АЛЬБЕРТ ЕВДОКИМОВИЧ является автором следующих патентов:

Коллекторная система растрового электронного микроскопа

Коллекторная система растрового электронного микроскопа

  ЛЯ блнотека i< А ОПИ АНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ (iir 503316 Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.04.74 (21) 2015923/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.02.76, Бюллетень № 6 Дата опубликования описания 12.04.76 (51) М Кч Н 01J 37/26 Государственный комитет Совета Министров...

503316

Электронномикроскопический способ измерения полей рассеяния

Электронномикроскопический способ измерения полей рассеяния

  ОПИСАНИЕ (ц 503317 Союз Советских Социалистических Ресвублик ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 21.06.74 (21) 2035908/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.02.76. Бюллетень № 6 Дата опубликования описания 19.04.76 (51) М. Кл. .Н 01J 37/26 G 0IN 33/00 Государственный комитет Совета Министров СССР a...

503317

Растровый зеркальный электронный микроскоп

Растровый зеркальный электронный микроскоп

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ki i) 506084 Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) 3 аявлено 14.05.74 (21) 2024447/26-25 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 05.03.76. Бюллетень № 9 Дата опубликования описания 04.04.76 (51) М. Кл. Н 01J 37, 26 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам и...

506084

Электронномикроскопическое устройство для измерения полей рассеяния

Электронномикроскопическое устройство для измерения полей рассеяния

  Ä„) soveos ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (6I) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 21.06.74(21)2036417/26-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет (43) Опубликовано 25.03.76.Бюллетень № 11 (45) Дата опубликования описания 29.04.76 (51) М. Кл. Н 01ЗЗПаВ Гасударственный кемнтет Савата Мнннетрев СССР аа...

507905

Способ контроля качества магнитных головок

Способ контроля качества магнитных головок

  ОП ИСАН И ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Республик (1>) 555128 К АВТОРСКОМУ СВИДИТВДЬСТЬУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 15.01.76 (21) 2313089/10 с присоединением заявки № (23) Приоритет(51) М. Кл. 011 Q 5/46 Государственный комитет Совета Министров СССР ие делам изобретений и открмтий (43) Опублнковано25,04.77,Бюллетень №16 (53) УДК 534.852.2...

555128


Электронно-микроскопический способ измерения двухмерных полей рассеяния

Электронно-микроскопический способ измерения двухмерных полей рассеяния

  н11682968 ОП ИСАН И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик 11 Д Т (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.06.77 (21) 2496852/18-25 с присоединением заявки Ке (23) Приоритет Опубликовано 30.08.79. Бюллетень М 32 Дата опубликования описания 30.08.79 (51) М. Кл."Н 01J 37, 26 Государственный комитет (53) УДК 621.385.833 (08...

682968


Способ детектирования сигналав pactpobom электронном микроскопе

Способ детектирования сигналав pactpobom электронном микроскопе

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз . Советскмк Соцналистмческих Реслублмк ()830597 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 25.07.79 (21) 2801360/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл з H01 J 37/26 Гееудерстееекмй кеметет СССР (53) УДК 621.385. 833 (088.8) Опубликовано 15.05.81. Бюллетень № 18 Дата опубликования оп...

830597

Растровый электронный микроскоп

Растровый электронный микроскоп

  Изобретение относится к растровой электронной микроскопии полупроводниковых объектов и может быть использовано для визуализации и измерения распределения времени жизни неравновесных носителей заряда по поверхности этих объектов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей растрового электронного микроскопа при обеспечении неразрушающего характера измерений....

1638745

Токопроводящая клеевая композиция

Токопроводящая клеевая композиция

  СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ Н АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ AO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ ПРИ fHHT СССР 1 (21) 4367386/05 (22) ?6.11.87 (46) 23 ° 04.91. Бвл. Р 15. (72). А.F..Ëóêüÿíîâ, A A.Патрии и В.Ф.Трегубов (53) 668.395.7(088.8) (56) Базарова Ф.Ф. и др, Клеи в производстве радиоэлектронной àïïàратуры. — М.: Энергия...

1643584