ЛУКЬЯНОВ АЛЬБЕРТ ЕВДОКИМОВИЧ
Изобретатель ЛУКЬЯНОВ АЛЬБЕРТ ЕВДОКИМОВИЧ является автором следующих патентов:
![Коллекторная система растрового электронного микроскопа Коллекторная система растрового электронного микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f5fcda15963fc3a5714911c8c82c1572.jpg)
Коллекторная система растрового электронного микроскопа
ЛЯ блнотека i< А ОПИ АНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ (iir 503316 Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.04.74 (21) 2015923/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.02.76, Бюллетень № 6 Дата опубликования описания 12.04.76 (51) М Кч Н 01J 37/26 Государственный комитет Совета Министров...
503316![Электронномикроскопический способ измерения полей рассеяния Электронномикроскопический способ измерения полей рассеяния](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d9afdbe6e17601f859ae237d5fa1c694.jpg)
Электронномикроскопический способ измерения полей рассеяния
ОПИСАНИЕ (ц 503317 Союз Советских Социалистических Ресвублик ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 21.06.74 (21) 2035908/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.02.76. Бюллетень № 6 Дата опубликования описания 19.04.76 (51) М. Кл. .Н 01J 37/26 G 0IN 33/00 Государственный комитет Совета Министров СССР a...
503317![Растровый зеркальный электронный микроскоп Растровый зеркальный электронный микроскоп](https://img.patentdb.ru/i/200x200/31ef280288a122b74e883412ef74492d.jpg)
Растровый зеркальный электронный микроскоп
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ki i) 506084 Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) 3 аявлено 14.05.74 (21) 2024447/26-25 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 05.03.76. Бюллетень № 9 Дата опубликования описания 04.04.76 (51) М. Кл. Н 01J 37, 26 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам и...
506084![Электронномикроскопическое устройство для измерения полей рассеяния Электронномикроскопическое устройство для измерения полей рассеяния](https://img.patentdb.ru/i/200x200/db2bb32946277bd30f7bc31e0e30773e.jpg)
Электронномикроскопическое устройство для измерения полей рассеяния
Ä„) soveos ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (6I) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 21.06.74(21)2036417/26-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет (43) Опубликовано 25.03.76.Бюллетень № 11 (45) Дата опубликования описания 29.04.76 (51) М. Кл. Н 01ЗЗПаВ Гасударственный кемнтет Савата Мнннетрев СССР аа...
507905![Способ контроля качества магнитных головок Способ контроля качества магнитных головок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/865d5fbf77230a381e39a04e732ac1e4.jpg)
Способ контроля качества магнитных головок
ОП ИСАН И ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Республик (1>) 555128 К АВТОРСКОМУ СВИДИТВДЬСТЬУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 15.01.76 (21) 2313089/10 с присоединением заявки № (23) Приоритет(51) М. Кл. 011 Q 5/46 Государственный комитет Совета Министров СССР ие делам изобретений и открмтий (43) Опублнковано25,04.77,Бюллетень №16 (53) УДК 534.852.2...
555128![Электронно-микроскопический способ измерения двухмерных полей рассеяния Электронно-микроскопический способ измерения двухмерных полей рассеяния](https://img.patentdb.ru/i/200x200/72c196ded8dbb6e2fc24bef589fabc82.jpg)
Электронно-микроскопический способ измерения двухмерных полей рассеяния
н11682968 ОП ИСАН И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик 11 Д Т (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.06.77 (21) 2496852/18-25 с присоединением заявки Ке (23) Приоритет Опубликовано 30.08.79. Бюллетень М 32 Дата опубликования описания 30.08.79 (51) М. Кл."Н 01J 37, 26 Государственный комитет (53) УДК 621.385.833 (08...
682968![Способ детектирования сигналав pactpobom электронном микроскопе Способ детектирования сигналав pactpobom электронном микроскопе](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ae7e0de363c7a294d358412ea3c7f0b3.jpg)
Способ детектирования сигналав pactpobom электронном микроскопе
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз . Советскмк Соцналистмческих Реслублмк ()830597 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 25.07.79 (21) 2801360/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл з H01 J 37/26 Гееудерстееекмй кеметет СССР (53) УДК 621.385. 833 (088.8) Опубликовано 15.05.81. Бюллетень № 18 Дата опубликования оп...
830597![Растровый электронный микроскоп Растровый электронный микроскоп](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e828af0104f47290f89861c12de4fc99.jpg)
Растровый электронный микроскоп
Изобретение относится к растровой электронной микроскопии полупроводниковых объектов и может быть использовано для визуализации и измерения распределения времени жизни неравновесных носителей заряда по поверхности этих объектов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей растрового электронного микроскопа при обеспечении неразрушающего характера измерений....
1638745![Токопроводящая клеевая композиция Токопроводящая клеевая композиция](https://img.patentdb.ru/i/200x200/38b24d703666c5baa33b45424c73e974.jpg)
Токопроводящая клеевая композиция
СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ Н АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ AO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ ПРИ fHHT СССР 1 (21) 4367386/05 (22) ?6.11.87 (46) 23 ° 04.91. Бвл. Р 15. (72). А.F..Ëóêüÿíîâ, A A.Патрии и В.Ф.Трегубов (53) 668.395.7(088.8) (56) Базарова Ф.Ф. и др, Клеи в производстве радиоэлектронной àïïàратуры. — М.: Энергия...
1643584