САВИН ОЛЕГ РОСТИСЛАВОВИЧ

  Оп ИСАН ИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ Я",Ч Союз Советских Социалистймвских Республик М. Кл 9 06 F 7/38 ГааудаРатв8миьй хамщт СССР в,ааим язебрвтенхй II DTKPMTIIN (53) УДК 681.325 (088. 8) О, Р. Савин, A. А. Сорокин, М. П. Лунейко, В. H. Доля и А. М. Жила (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) КВАДРАТОР Устройство относится к области вычислительной техники и может быть использо вано...

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено .11. 07. 80 (21) 2 62808/18-24 (51) М. Кп. с присоединением заявки ¹ (23) ПриоритетG 06 F 7/552 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий t$3) УДК 681. 325 (088.8) Опубликовано 070 82. Бюллетень № 17 Дата опубликования...

  Э. П, Шеретов, М. П. Сафонов, Б. И.-Кеаощ лин, Б. И. Бехарский, О. Р. Савин, В. В. Захарченко и,Э. Й, Ваисберг / г (72) Авторы изобретения (71) Заявитель Рязанский радиотехнический: кистина ут . 1 (54) ДАТЧИК КВАДРУПОЛЬНОГО МАСС-СПЕКТРОМЕТРА Изобретение относится к масс-спект рометрии и может быть иепользовано при создании квадрупольных маях -спектромет ров с высокими разреша...

  Шеретов, Н. В. Веселкин, B. А. Зенкин О. Р. вин, В. В. Захарченко и Э. И.. Ввйсберг, . / -чъ„Рязанский радиотехнический институт. ъъ а ) Авторы изобретения (7l) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ПИТАНИЯ АНАЛИЗАТОРА ГИПЕРБОЛОИДНОГО NACC-СПЕКТРОМЕТРА Изобретение относится к квадрупольной масс-спектрометрии, а более конкретно к устройству источников высокочастотного напряжвния для гипер...

  МАСС-СПЕКТРОМЕТР по авт.св. 270330, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения его разрешающей способности и чувствительности без увеличения габаритов .анализирующей системы, в него введена дополнительная аксиально-симметричная магнитная призна с коэффициентом неоднородности магнитного поля {| 1, которая расположена между источником ионов и электростатической линзой, а п...

  Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к ионно-оптическим приборам для локального микроанализа методом масс-спектрометрии вторичных ионов, и может быть использовано для химического или изотопного анализа состава вещества, получения увеличенных изображений поверхности твердых тел в ионах выбранного типа, а также в технологии производства полупроводниковых мат...