ПРАНЯВИЧЮС ЛЮДВИКАС ИОНОВИЧ

  О П И С А Н И Е (11)752464 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Сопиалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 07.03.78 (21) 2589111/18-21 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.07.80. Бюллетень № 28 (45) Дата опубликования описания 30.07.80 (51) М. Кл. G 11В 5/12 С 23С 13!00 Государственный комитет (53)...

  Союз Соввтскик социалистических Республик (и 858О86 (61) Дополнительное к BBT. саид-ву (22)Заявлено 26.09.79 (21) 2820133/18-10 с присоединением заявки,% (23 } П рноритет (51) IN. Кл. G 11 В 5/42 3ЪаудвратвеньЖ квинтет СССР 60 Йвлаи «966РетениН н вткрктнй (53) УДК 534.852., 2 (088. 8 ) Опубликовано 23,08,81. Бюллетень 1й 31 Дата опубликования описания 25,08,81 (72 } Авторы...

  0 Il H t A H N 6 «886044 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социвпистичесиих Рес ублии (61) Дополнительное к авт. свид-sy (22) Заявлено:11.03.80 (21) 2893480/18 10 (51) М. Кл. 3 с присоединением заявки J4 (23) Приоритет11 В 5/42 9вударежнньй кеаетат CCCP an делам наабретеннй < .и втнрмтнй Опубликовано 30.1l.8l. Бюллетень Р

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения поля отклонений от плоскостности поверхности твердого тела и микрогеометрии поверхности. Целью изобретения является возможность измерения поля отклонения от плоскостности в процессе ионно-лучевой обработки за счет совместного использования призменного интерферометра и вакуумной камеры. Луч лазер...

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения расширение функциональных возможностей путем обеспечения измерения скорости эрозии поверхности твердого тела. Инфракрасный поток излучения падает на переднюю и заднюю поверхности образца 6. Отрагкенные от поверхностей лучи дают интерференционную картину, которая с помощью фотоэлектрического преобразователя 8 преобраз...

  Изобретение относится к измерительной технике, в частности, к измерениям упругих колебаний анода и катода. Цель изобретения - повьшение информативности о процессах, происходящих в аноде и катоде при электрическом разряде, и точности измерения динамическ}р характеристик за счет измерения упругих колебаний поверхности электрода в процессе разряда . Луч источника делится на два, оди...

  Изобретение относится к измерению и контролю электрофизических параметров материалов электронной техники, в частности контролю химического состава твердых тел как на его поверхности, так и в глубинных слоях. Цель изобретения - увеличение точности измерения текущей координаты по глубине. Способ послойного Оже-анализа химического состава твердых тел основан на анализе энергий и коли...