ТИШКЕВИЧ ГЕННАДИЙ ИВАНОВИЧ

  СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОГО КОНТРОЛЯ ТЕКСТУРЫ ДЛИННОМЕРНЫХ ИЗДЕЛИЙ, включающий облучение изделия пучком рентгеновских лучей и регистрацию интенсивности отраженного излучения , отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности контроля за счет исключения разрушения готовых изделий, предварительно определяют угловые координаты и угловую ширину максимума полюсной плотности текстуры э...

  УСТАНОВКА ДЛЯ РЕНТГЕНОГРАФР1ЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ТЕКСТУРЫ, включающая рентгеновский дифрактометр с гониометром, на столике образца которого установлен корпус, в нем смонтированы поворотная рама с направляющими для возвратно-поступательного перемещения каретки с держателем образца, размещенного с возможностью вращения в плоскости кареткИ, электропривод поворота рамы относительно к...

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (19) (11) (S1) 4 G Oi N 23/20 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3642077/18-25 (22) 16.09.83 (46) 23.05.87. Бюл. Ф 19(71) Физико-технический институт АН БССР (72) Л.А. Макаревич, Н.В. Румак, А.Ф. Сакун, В.В. Сапожников, В.В. Скворцов, Г.И. Тишкевич и Г.Б...

  Изобретение относится к области рентгеновской аппаратуры для дифрактометрического исследования текстуры . Цель изобретения - расширение функциональных возможностей при исследовании текстуры за счет применения быстрого вращения образца вокруг нормали к исследуемой поверхности в широком диапазоне скоростей. Установка содержит дополнительный держатель 10 образца, установленный соосн...

  Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и может быть использовано для испытания различных материалов при постоянной и переменной нагрузках. Целью изобретения является повышение точности определения внутренних напряжений образца благодаря расширению углового диапазона измерений в области малых углов рассеяния рентгеновского излучения . Исследуемый образец за...

  Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к устройствам для исследования структурного состояния материалов рентгеновскими методами, в том числе текстур поликристаллов. Целью изобретения является расширение методических возможностей дифрактометра путем введения дополнительных движений в кинематику приставки. Приставка обладает возможностями наклона-вращения обра...