СЕЛЕЗНЕВ НИКОЛАЙ СЫСОЕВИЧ
Изобретатель СЕЛЕЗНЕВ НИКОЛАЙ СЫСОЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для контроля центрировки линз
Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет увеличения поля зрения устройства. Пучки лучей лазера 1 собираются линзой 2 в точечном отверстии диафрагмы 4. Проекционный объектив 6 и объектив 7 формируют изображение диафрагмы 4 в автоколлимационной точке контролируемой линзы 11. Отраженные от контролируемой л...
1509587
Автоколлиматор
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения углов в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. Целью изобретения является повышение точности измерений и упрощение конструкции автоколлиматора. Перекрестие проекционной марки 3 и измерительной сетки формируют в сопряженных задних фокальных плоскостях объектива 1 в виде совокупностей штрихов. У...
1511591
Способ центрирования линз в оправах
Изобретение относится к производству оптико-механических приборов и может быть использовано при изготовлении объективов и других оптических систем, требующих высокоточной центрировки оптических поверхностей. Цель изобретения - повышение точности центрирования линз при расширении диапазона их типоразмеров. Способ центрирования линз в оправе основан на перемещениях и наклонах линзы...
1582167
Способ контроля оптических асферических поверхностей вращения второго порядка
Изобретение относится к измерительной техчике и может быть использовано для контроля качества оптических асферических поверхностей вращения второго порядка, имеющих по меньшей мере один геометрический фокус Цель изобретения - повышение точности контроля за счет исключения влияния комы. Освещают контролируемую поверхность пучком света от точечного источника, расположенного в фокус...
1649260
Устройство для контроля децентрировки линз и объективов
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля децентрировки линз и объективов. Целью изобретения является повышение точности контроля за счет уменьшения размера изображения автоколлимационной марки, обусловленное нелинейностью выходной характеристики блока регистрации. Пучки лучей осветителя 1, пройдя через марку 3, попадают в проекционный о...
1698639
Способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, в частности пробных стекол. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет уменьшения количества составляющих погрешности контроля и упрощения средств реализации. При освещении контролируемой поверхности преобразуют излучение...
1747881
Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, в частности пробных стекол. Целью изобретения является повышение точности контроля. Две соосно расположенные на общей подложке пропускающие осевые синтезированные голограммы устанавливают перед контролируемой поверхностью. Обе гологр...
1810750
Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны вогнутых оптических сферических поверхностей , в частности пробных стекол. Цель изобретения - повышение точности контроля . Образцовую пропускающую осевую синтезированную голограмму устанавливают перед контролируемой поверхностью и освещают соосным с ней когерентным кол...
1830445