PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Сысоев Виктор Владимирович (RU)

Изобретатель Сысоев Виктор Владимирович (RU) является автором следующих патентов:

Способ анализа состава газовой смеси и определения концентрации входящих в нее компонентов и устройство для его осуществления

Способ анализа состава газовой смеси и определения концентрации входящих в нее компонентов и устройство для его осуществления

Изобретение относится к области газового анализа, а именно к способам и устройствам распознавания состава многокомпонентных газовых смесей, характеризующимся повышенной чувствительностью к малым концентрациям компонентов газовых смесей. Способ анализа состава газовой смеси и определения концентрации входящих в нее компонентов включает нагрев газочувствительного металлооксидного слоя до температур...

2392614

Способ анализа состава газовой среды

Способ анализа состава газовой среды

Изобретение относится к области газового анализа, а именно к способам распознавания состава многокомпонентных газовых смесей. Задачей изобретения является разработка способа анализа состава газовой среды путем измерения полного сопротивления (импеданса) газочувствительного полупроводникового слоя, сегментированного набором компланарных электродов в составе мультисенсорного чипа, при воздействии...

2586446

Мультисенсорный газоаналитический чип на основе титаната калия и способ его изготовления

Мультисенсорный газоаналитический чип на основе титаната калия и способ его изготовления

Группа изобретений относится к области газового анализа. Мультисенсорный газоаналитический чип (МГЧ) включает диэлектрическую подложку со сформированным набором компланарных полосковых электродов, поверх которых нанесен матричный слой из вискеров титаната калия общей химической формулы КхН2-хTinO2n+1, где х=0-2, n=4-8. При этом каждая пара электродов образует сенсорный сегмент матричного слоя виск...

2625543

Способ изготовления газового мультисенсора кондуктометрического типа на основе оксида олова

Способ изготовления газового мультисенсора кондуктометрического типа на основе оксида олова

Использование: для осуществления детектирования и анализа газов и многокомпонентных газовых смесей. Сущность изобретения заключается в том, что способ осуществляют методом электрохимического осаждения в емкости, оборудованной электродом сравнения и противоэлектродом и заполненной раствором, содержащим нитрат-анионы и катионы олова из солей SnCl2 с концентрацией 0,05-0,15 моль/л и NaNO3 с концентра...

2626741

Способ определения толщины пленки с помощью интерферометрии белого света

Способ определения толщины пленки с помощью интерферометрии белого света

Изобретение относится к области метрологии тонких пленок. Способ определения толщины пленки с помощью интерферометрии белого света, при котором подложку, содержащую измеряемую пленку, подвергают в интерферометре воздействию белого света с ограниченной когерентностью и измеряют коррелограммы, характеризуется тем, что предварительно подложку, не содержащую измеряемую пленку, подвергают воздействию б...

2634328


Способ изготовления мультиэлектродного газоаналитического чипа на основе мембраны нанотрубок диоксида титана

Способ изготовления мультиэлектродного газоаналитического чипа на основе мембраны нанотрубок диоксида титана

Изобретение относится к области сенсорной техники и нанотехнологий, в частности к способам изготовления устройств распознавания и детектирования компонентов газовых смесей. Способ изготовления мультиэлектродного газоаналитического чипа на основе мембраны нанотрубок диоксида титана включает формирование массива упорядоченных нанотрубок TiO2 из титана методом электрохимического анодирования во фтори...

2641017

Способ измерения толщины тонкой пленки и картирования топографии ее поверхности с помощью интерферометра белого света

Способ измерения толщины тонкой пленки и картирования топографии ее поверхности с помощью интерферометра белого света

Изобретение относится к области метрологии тонких пленок, а именно к способу измерения толщины тонких прозрачных пленок бесконтактным способом с помощью интерферометра. При реализации способа измерения толщины тонкой пленки и картирования топографии ее поверхности с помощью интерферометра белого света подвергают воздействию белого света подложку с нанесенной измеряемой пленкой и измеряют набор кор...

2641639