КОВАЛЬЧУК МИХАИЛ ВАЛЕНТИНОВИЧ
Изобретатель КОВАЛЬЧУК МИХАИЛ ВАЛЕНТИНОВИЧ является автором следующих патентов:
Рентгеновский спектрометр
О П И С А Н И Е EII) 463045 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 06.07.73 (21) 1939242/26-25 с присоединением заявки ¹ (32) Приоритет Опубликовано 05.03.75. Бюллетень ¹ 9 Дата опубликования описания 18.06.75 (51) Ч. Кл. б ОIП 23!20 Гасударственный комитет Совета Министров СССР (...
463045Рентгеновский спектрометр
ОПИ ЙИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ и 487338 Союз Советских Социалистических Реслублик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства 463045 (22) Заявлено 10.10.73 (21) 1964750/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 05.10.75. Бюллетень ¹ 37 (51) М. Кл. G 01п 23/20 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений н открытий (53) УДК 53...
487338Рентгеновский трехкристальный спектрометр
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 15.05.74. (21) 2023692/25 Совоз Советских Социалистических Республик (») 5224 5З 1 - r, (" . -,!,, i (51) М. Кл.е ВОЖт320 с присоединением заявки № (23) Приоритет Государственный ноинтет Совета Министров СССР по делам иэооретений и открытий (43) Опубликовано 25,07.76. Бюлл...
522458Способ исследования совершенства структуры монокристаллов
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (») 534677 (61) Дополнительное к авт. свид-ву» (22) Заявлено27.01.75 (21) 2102739/25 с присоединением заявки №(23) Приоритет (43) Опубликовано 05.11.76.Бюллетень № 41 (45) Дата опуоликования описания 02.03,77 (51) М. Кл."G 01 Н 23/20, G 01 и 23/22 Государственный комитет Совета Министр...
534677Устройство для исследования совершенства структуры кристаллов
Г О П И С А Н И Е и в4зввв ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Реслу6лик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 27.01.75 (21) № 2099666/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 25,01,77.Бюллетень № 3 (45) Дата опубликования описания25.05.77 (51) М. Кл.т С 01 Я 23/22 Государственный комитет Совета Иинистров ССС...
543858Способ измерения параметров решетки монокристаллов и устройство для его реализации
О П И С А Н И Е иц 584234 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 16.08.75 (21) 2395801/18-25 с присоединением заявки № (51) M Кл г 6 01N23!20 Совета Министров СССР ло делам изобретений и открытий (43) Опубликовано 15.12.77. Бюллетень № 46 (53) УДК 621.386(088.8) (45) Дата опубликования...
584234Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскмх Соцмалмстичеснмк Республмк 763751 (6l) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено О!.02.79 (21} 2713101/18-25 с присоединением заявки .%— (23) Приоритет— (51) М. Кл G 0l N 23/207 Н 01 1 21/66 Государственный комитет Опубликовано 15.09.80. Бюллетень №34 {53) УДК 548.73: :621 ..382 (088.8) по делам и...
763751Устройство для исследования совер-шенства структуры монокристалли-ческих слоев
Союз Советскми Социелмстмчесммх Республик ОП ИСДНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ()800836 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.03.79 (2l ) 2731193/18-25 (5 I ) M. Кл. С 01 М 23/20 с присоедннением заявки М 3ЬеудерстееннмМ кемнтет СССР ав делам нзебретеннй N Ртнрмтнй (23) Приоритет (53) УДК548.73: :543.53 (088.8) Опубликовано 30.01.81. Бюллетень 34...
800836Способ изготовления монохромато-pa рентгеновского излучения
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалмстическнх Республнк К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву— (22) Заявлена 14. 03. 79 (21) 2731192/18-25 (5 )М 6 21 К 1/06 с присоединением заявки Мо Государственный комитет СССР ло делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 1Ь0281. Бюллетень Йо б Дата опубликования описания 15. 02. 81 (5Ç) УД)(...
805419Рентгеновский спектрометр длясинхротронного источника излучения
Сеез Севетския Сециалистическик Ресвублик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВ ИТВЛЬСТВУ < 817553 {61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Завалено" 2906.79 (21) 2811304/18-25 с нрнсоединением заявки й9— G 01 N 23/207 (23) ПриОритет Госуяарствеквык кокитет СССР яо амаи изобретения и открытка (53) УДК 648.73 (088.8) Опубликовано 300381. Бюллетень Н9 12 Дата опубликования опис...
817553Способ измерения периода решеткимонокристаллов
(ц 82804I ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 29.06.79 (21) 2786319/18-25 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет (43) Опубликовано 07.05.81. Бюллетень № 17 (45) Дата опубликования описания 07.05.81 (51) М. К . б 01N 23/207 Гесударствеииый комитет (53) УДК 548.734 (088.8)...
828041Способ определения профиля распределенияструктурных искажений b поверхностномслое монокристалла
Союз Советскнк Соцналистмческих Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ Опубликовано 15.0581. Бюллетень № 18 (51)М. Кл G 01 и 23/20 Государствеииый комитет СССР ио делам изобретений и открытий (53) УДК 548.73 (088.8) Дата опубликования описания 150581 A.Ì.Àôàíàñüåâ, Л.Д.Буйко, P.Ì.Èìàìoâ, М.В.,Ковальчук, В.Г.Кон и Э.Ф.Лобанович 1 с 3 Институт кристаллогр...
830206Рентгеновский спектрометр
Союз Советск и к Соцнвлистичесник Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИЯЕТЕЛЬСТВУ (»)881592 (61) Дополнительное к авт. свид-ву №- 463045 (22)Заявлено 31 01.80 (2I) 2915602/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет (5l)lVL. Кл. G 01 N 23/20 ХооудзротвиивН комитет СССР оо делам иза4ретеиий н открытий Опубликовано15. 11. 81. Бюллетень М 42 Дата опубликовани...
881592Способ исследования структурного совершенства поверхностного слоя монокристалла
Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОИЖОМУ Св НИЛЬСТВУ » 894500 {б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 1605.80 (2! ) 2924064/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет (51)М. КЛ.З G 0l N 23/207 Государственный коиитет СССР во левам изобретений н открытий Опубликовано 30 12,&1, Бюллетень ИЯ 4& Ю)НРС 548.735 (088.8) Дата опубликовани...
894500Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла и трехкристалльный рентгеновский спектрометр для осуществления способа
Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К А8ТОРСКОМУ С8И ТИЗЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (т 763751 (22) Заявлено 160580 (21) 2924065/18-25 (51) М, Кл. с присоединением заявки Ио 2924066/18-25 G 01 N 23/207 ГосударствеиинЯ комитет СССР no aeneas бpииЯ и откРытиЯ (23) Приоритет Опубликовано 301281 Бюллетень йо 48 (SS) V 548.735 (088.8) Дата опу...
894501Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов
ОПИСЛНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТИЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. сеид-ву (22) Заявлено 160580 (21) 2924067/18-25 ()М Кл. с присоединением заявки 14Р (23) Приоритет С 01 И 23/207 Государственный комитет СССР но делам изобретений н открытий Опубликовано 301281, Бюллетень МВ 48 Дата опубликования описания 30. 12. 81 (53) УДК...
894502Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов
Союз Советсиик Социалистические Реслублии О П @ С A Н И Е < 898302 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 160580 (2I ) 2958773/18-25 с присоединением заявки М (23) П риоритет Опубликовано 1501.82. Бюллетень № 2 Дата опубликования описания 150182 (53)M. Кл. G 0l и 23/207 Гасударственный комитет СССР (53) УДК 548.73 (088.8)...
898302Устройство для исследования совершенства структуры монокристаллических слоев
Изобретение относится к аппаратуре для анализа тонких монокристаллических слоев методом возбуждения вторичной эмиссии исследуемого слоя в условиях дифракции рентгеновского излучения. Целью изобретения является расширение диапазона и повышение точности исследования. В устройстве реализована трехкристальная схема рентгеновского спектрометра, первый и второй кристаллы-монохроматоры...
1226210Способ исследования структурного совершенства монокристаллов
Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может использоваться при исследовании .-. структурных дефектов монокристаллов. Цель изобретения - повьшение чувствительности анализа благодаря надежному выделению диффузного максимума. Способ осуществляется следующим образом.Первичный рентгеновский пучок направляют на кристалл-монохроматор под углом к его поверхности,...
1402873Станция для синхротронной рентгеновской топографии
Изобретение относится к рентгенодифракционным исследованиям структуры кристаллов, а более конкретно к установкам для рентгеновской топографии с использованием синхротронного излучения. Цель изобретения - расширение круга решаемых задач и повышение точности. Для этого первый кристаллодержатель 2 с кристаллом-монохроматором 11 установлен с возможностью перемещения вдоль пучка по нап...
1571486Узел регистрации вторичной эмиссии
Изобретение относится к области технической Физики и может быть использовано в аппараг/ре для анализа тонких приповерхностных слоев монокристаллов методом регистрации вторичной эмиссии. Целью изобретения является расширение возможностей исследования и повышение его производительности. Узел регистрации вторичной эмиссии выполнен в виде газонаполненной камеры, внутри которой размещ...
1704046