PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КОВАЛЬЧУК МИХАИЛ ВАЛЕНТИНОВИЧ

Изобретатель КОВАЛЬЧУК МИХАИЛ ВАЛЕНТИНОВИЧ является автором следующих патентов:

Рентгеновский спектрометр

Рентгеновский спектрометр

  О П И С А Н И Е EII) 463045 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 06.07.73 (21) 1939242/26-25 с присоединением заявки ¹ (32) Приоритет Опубликовано 05.03.75. Бюллетень ¹ 9 Дата опубликования описания 18.06.75 (51) Ч. Кл. б ОIП 23!20 Гасударственный комитет Совета Министров СССР (...

463045

Рентгеновский спектрометр

Рентгеновский спектрометр

  ОПИ ЙИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ и 487338 Союз Советских Социалистических Реслублик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства 463045 (22) Заявлено 10.10.73 (21) 1964750/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 05.10.75. Бюллетень ¹ 37 (51) М. Кл. G 01п 23/20 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений н открытий (53) УДК 53...

487338

Рентгеновский трехкристальный спектрометр

Рентгеновский трехкристальный спектрометр

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 15.05.74. (21) 2023692/25 Совоз Советских Социалистических Республик (») 5224 5З 1 - r, (" . -,!,, i (51) М. Кл.е ВОЖт320 с присоединением заявки № (23) Приоритет Государственный ноинтет Совета Министров СССР по делам иэооретений и открытий (43) Опубликовано 25,07.76. Бюлл...

522458

Способ исследования совершенства структуры монокристаллов

Способ исследования совершенства структуры монокристаллов

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (») 534677 (61) Дополнительное к авт. свид-ву» (22) Заявлено27.01.75 (21) 2102739/25 с присоединением заявки №(23) Приоритет (43) Опубликовано 05.11.76.Бюллетень № 41 (45) Дата опуоликования описания 02.03,77 (51) М. Кл."G 01 Н 23/20, G 01 и 23/22 Государственный комитет Совета Министр...

534677

Устройство для исследования совершенства структуры кристаллов

Устройство для исследования совершенства структуры кристаллов

  Г О П И С А Н И Е и в4зввв ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Реслу6лик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 27.01.75 (21) № 2099666/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 25,01,77.Бюллетень № 3 (45) Дата опубликования описания25.05.77 (51) М. Кл.т С 01 Я 23/22 Государственный комитет Совета Иинистров ССС...

543858


Способ измерения параметров решетки монокристаллов и устройство для его реализации

Способ измерения параметров решетки монокристаллов и устройство для его реализации

  О П И С А Н И Е иц 584234 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 16.08.75 (21) 2395801/18-25 с присоединением заявки № (51) M Кл г 6 01N23!20 Совета Министров СССР ло делам изобретений и открытий (43) Опубликовано 15.12.77. Бюллетень № 46 (53) УДК 621.386(088.8) (45) Дата опубликования...

584234

Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла

Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскмх Соцмалмстичеснмк Республмк 763751 (6l) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено О!.02.79 (21} 2713101/18-25 с присоединением заявки .%— (23) Приоритет— (51) М. Кл G 0l N 23/207 Н 01 1 21/66 Государственный комитет Опубликовано 15.09.80. Бюллетень №34 {53) УДК 548.73: :621 ..382 (088.8) по делам и...

763751

Устройство для исследования совер-шенства структуры монокристалли-ческих слоев

Устройство для исследования совер-шенства структуры монокристалли-ческих слоев

  Союз Советскми Социелмстмчесммх Республик ОП ИСДНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ()800836 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.03.79 (2l ) 2731193/18-25 (5 I ) M. Кл. С 01 М 23/20 с присоедннением заявки М 3ЬеудерстееннмМ кемнтет СССР ав делам нзебретеннй N Ртнрмтнй (23) Приоритет (53) УДК548.73: :543.53 (088.8) Опубликовано 30.01.81. Бюллетень 34...

800836

Способ изготовления монохромато-pa рентгеновского излучения

Способ изготовления монохромато-pa рентгеновского излучения

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалмстическнх Республнк К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву— (22) Заявлена 14. 03. 79 (21) 2731192/18-25 (5 )М 6 21 К 1/06 с присоединением заявки Мо Государственный комитет СССР ло делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 1Ь0281. Бюллетень Йо б Дата опубликования описания 15. 02. 81 (5Ç) УД)(...

805419

Рентгеновский спектрометр длясинхротронного источника излучения

Рентгеновский спектрометр длясинхротронного источника излучения

  Сеез Севетския Сециалистическик Ресвублик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВ ИТВЛЬСТВУ < 817553 {61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Завалено" 2906.79 (21) 2811304/18-25 с нрнсоединением заявки й9— G 01 N 23/207 (23) ПриОритет Госуяарствеквык кокитет СССР яо амаи изобретения и открытка (53) УДК 648.73 (088.8) Опубликовано 300381. Бюллетень Н9 12 Дата опубликования опис...

817553


Способ измерения периода решеткимонокристаллов

Способ измерения периода решеткимонокристаллов

  (ц 82804I ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 29.06.79 (21) 2786319/18-25 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет (43) Опубликовано 07.05.81. Бюллетень № 17 (45) Дата опубликования описания 07.05.81 (51) М. К . б 01N 23/207 Гесударствеииый комитет (53) УДК 548.734 (088.8)...

828041

Способ определения профиля распределенияструктурных искажений b поверхностномслое монокристалла

Способ определения профиля распределенияструктурных искажений b поверхностномслое монокристалла

  Союз Советскнк Соцналистмческих Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ Опубликовано 15.0581. Бюллетень № 18 (51)М. Кл G 01 и 23/20 Государствеииый комитет СССР ио делам изобретений и открытий (53) УДК 548.73 (088.8) Дата опубликования описания 150581 A.Ì.Àôàíàñüåâ, Л.Д.Буйко, P.Ì.Èìàìoâ, М.В.,Ковальчук, В.Г.Кон и Э.Ф.Лобанович 1 с 3 Институт кристаллогр...

830206

Рентгеновский спектрометр

Рентгеновский спектрометр

  Союз Советск и к Соцнвлистичесник Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИЯЕТЕЛЬСТВУ (»)881592 (61) Дополнительное к авт. свид-ву №- 463045 (22)Заявлено 31 01.80 (2I) 2915602/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет (5l)lVL. Кл. G 01 N 23/20 ХооудзротвиивН комитет СССР оо делам иза4ретеиий н открытий Опубликовано15. 11. 81. Бюллетень М 42 Дата опубликовани...

881592

Способ исследования структурного совершенства поверхностного слоя монокристалла

Способ исследования структурного совершенства поверхностного слоя монокристалла

  Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОИЖОМУ Св НИЛЬСТВУ » 894500 {б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 1605.80 (2! ) 2924064/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет (51)М. КЛ.З G 0l N 23/207 Государственный коиитет СССР во левам изобретений н открытий Опубликовано 30 12,&1, Бюллетень ИЯ 4& Ю)НРС 548.735 (088.8) Дата опубликовани...

894500

Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла и трехкристалльный рентгеновский спектрометр для осуществления способа

Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла и трехкристалльный рентгеновский спектрометр для осуществления способа

  Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К А8ТОРСКОМУ С8И ТИЗЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (т 763751 (22) Заявлено 160580 (21) 2924065/18-25 (51) М, Кл. с присоединением заявки Ио 2924066/18-25 G 01 N 23/207 ГосударствеиинЯ комитет СССР no aeneas бpииЯ и откРытиЯ (23) Приоритет Опубликовано 301281 Бюллетень йо 48 (SS) V 548.735 (088.8) Дата опу...

894501


Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов

Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов

  ОПИСЛНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТИЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. сеид-ву (22) Заявлено 160580 (21) 2924067/18-25 ()М Кл. с присоединением заявки 14Р (23) Приоритет С 01 И 23/207 Государственный комитет СССР но делам изобретений н открытий Опубликовано 301281, Бюллетень МВ 48 Дата опубликования описания 30. 12. 81 (53) УДК...

894502

Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов

Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов

  Союз Советсиик Социалистические Реслублии О П @ С A Н И Е < 898302 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 160580 (2I ) 2958773/18-25 с присоединением заявки М (23) П риоритет Опубликовано 1501.82. Бюллетень № 2 Дата опубликования описания 150182 (53)M. Кл. G 0l и 23/207 Гасударственный комитет СССР (53) УДК 548.73 (088.8)...

898302

Устройство для исследования совершенства структуры монокристаллических слоев

Устройство для исследования совершенства структуры монокристаллических слоев

  Изобретение относится к аппаратуре для анализа тонких монокристаллических слоев методом возбуждения вторичной эмиссии исследуемого слоя в условиях дифракции рентгеновского излучения. Целью изобретения является расширение диапазона и повышение точности исследования. В устройстве реализована трехкристальная схема рентгеновского спектрометра, первый и второй кристаллы-монохроматоры...

1226210

Способ исследования структурного совершенства монокристаллов

Способ исследования структурного совершенства монокристаллов

  Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может использоваться при исследовании .-. структурных дефектов монокристаллов. Цель изобретения - повьшение чувствительности анализа благодаря надежному выделению диффузного максимума. Способ осуществляется следующим образом.Первичный рентгеновский пучок направляют на кристалл-монохроматор под углом к его поверхности,...

1402873

Станция для синхротронной рентгеновской топографии

Станция для синхротронной рентгеновской топографии

  Изобретение относится к рентгенодифракционным исследованиям структуры кристаллов, а более конкретно к установкам для рентгеновской топографии с использованием синхротронного излучения. Цель изобретения - расширение круга решаемых задач и повышение точности. Для этого первый кристаллодержатель 2 с кристаллом-монохроматором 11 установлен с возможностью перемещения вдоль пучка по нап...

1571486


Узел регистрации вторичной эмиссии

Узел регистрации вторичной эмиссии

  Изобретение относится к области технической Физики и может быть использовано в аппараг/ре для анализа тонких приповерхностных слоев монокристаллов методом регистрации вторичной эмиссии. Целью изобретения является расширение возможностей исследования и повышение его производительности. Узел регистрации вторичной эмиссии выполнен в виде газонаполненной камеры, внутри которой размещ...

1704046